「interference measuring～」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an optical module capable of preventing variations of a gap between reflecting films of an interference filter and of measuring accurate spectral characteristics, and further to provide an optical analysis device.例文帳に追加

干渉フィルターの反射膜間のギャップの変動を防止し、正確な分光特性を測定可能な光モジュール、及び光分析装置を提供すること。 - 特許庁

This interferometer 101, measuring the face shape of the optical element 5 by use of interference, has a reference wave front deforming system that causes the wave front of a reference light to be deformed.例文帳に追加

干渉を利用して光学素子５の面形状を測定する干渉計１０１において、参照光の波面を変形させる参照波面変形システムを有する。 - 特許庁

A measuring device which uses superconducting quantum interference elements is composed of a cooling unit 5 including a temperature detection device 6, a magnetic sensor 7, and a sample mounting stand 8, and a distance control device 1 for controlling them.例文帳に追加

超伝導量子干渉素子を用いた計測装置は、温度検出装置６と磁気センサ７と試料設置台８を含む冷却ユニット５と、それらをコントロールする距離制御装置１から構成されている。 - 特許庁

To obtain an optical interference measurement device for thickness measurement capable of measuring a thickness of an inspected layer or unevenness in thickness in a sheetlike subject carried under such conditions that its posture can vary.例文帳に追加

姿勢が変化し得る状態で保持されたシート状の被検体において、被検層の厚みや厚みムラを測定することが可能な厚み測定用光干渉測定装置を得る。 - 特許庁

The device for measuring the optical interference includes a multi-wavelength light source 1, a polarization optical element 5, the reference surface 6, the surface 7 to be inspected, a spectral optical element 8, phase detectors 9a, and an analyzer 10.例文帳に追加

光波干渉計測装置は、多波長光源１、偏光光学素子５、参照面６、被検面７、分光光学素子８、位相検出器９ａ、解析装置１０を備える。 - 特許庁

A level difference in an object is irradiated with a measuring light and an interference waveform generated by reflected light thereof is formed using outputs from polarization beam splitters 10, 10a, 10b and 10c.例文帳に追加

被測定体の段差に測定光を照射して、その反射光により生じた干渉波形を、偏光ビームスプリッタ１０、１０ａ、１０ｂ、１０ｃからの出力を用いて形成する。 - 特許庁

This interferometer, measuring the face shape of the optical element by use of interference has two or more elastic deformation mirrors with variable face shapes capable of generating desired face shapes on the reference light side and additionally, is provided with a prototype standard.例文帳に追加

干渉を利用して光学素子の面形状を測定する干渉計において、所望の面形状を作成することが出来る面形状が可変の弾性変形ミラーを参照光側に２つ以上又は更に原器を有すること。 - 特許庁

To remove errors due to the thermal deformation of a main body base due to variation in ambient temperature and the flexure of the main body base accompanying the movement of a slider from a device using a laser interference measuring instrument.例文帳に追加

レーザ干渉測長計を用いた装置において、環境温度の変動による本体ベースの熱変形やスライダの移動に伴う本体ベースのたわみに起因した誤差を排除する。 - 特許庁

To provide a shape measuring device that facilitates calibrating the bias, the amplitude, and the phase of interference fringe under a using environment of a user to improve measurement precision without using an expensive device.例文帳に追加

高価な装置を用いずに、干渉縞のバイアス、振幅および位相を、ユーザが使用環境において容易に校正でき、測定精度を向上できる形状測定装置を提供すること。 - 特許庁

When a light flux diameter of measuring light irradiated on a sample S is relatively large, a nonuniform film thickness in the irradiated area provides an interference spectrum with a form represented by an integration of a plurality of cosine functions having different periods.例文帳に追加

試料Ｓに照射される測定光の光束径が或る程度大きいとき、その照射領域内で膜厚が不均一であると、得られる干渉スペクトルは周期の異なる複数の余弦関数の積分で表される形式となる。 - 特許庁

To provide an optical interference tomographic imaging device for curving increases in the size and number of members, reducing image deformations in a depth direction, acquiring high-resolution tomographic images, and shortening the measuring time.例文帳に追加

部材の大型化、個数の増加を抑制でき、画像の深さ方向の変形が低減され、高解像の断層画像が得られ、測定時間の短縮化が可能となる光干渉断層撮像装置を提供する。 - 特許庁

The aberration measuring apparatus detects the wavefront aberration of the measured body as interference fringes by using luminous flux, and consists of a first optical system for measuring the wavefront aberration of the measured body, a second optical system for measuring the system errors of the first optical system, the measured body, and the chamber to have the first optical system and the second optical system.例文帳に追加

光束を用いて被測定体の波面収差を干渉縞として検出する収差測定装置であって、前記被測定体の波面収差を測定する第１の光学系と、前記第１の光学系のシステムエラーを測定する第２の光学系と、前記被測定体、前記第１の光学系及び第２の光学系を収納するチャンバーとを有することを特徴とする収差測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for measuring interference of a non-rotationally symmetric wavefront error in the reflection of an optical face and/or the penetration of an optical element capable of obtaining further higher precision than an ordinary known rotation position test at equal measuring points or obtaining the precision equal to that of the rotation position test at greatly reduced number of measuring points.例文帳に追加

光学面の反射における及び／又は光学要素の透過における非回転対称波面誤差の干渉測定のための方法であって、同等の測定点での通常の既知の回転位置テストよりも一層高い精度が得られ、又は大幅に少ない数の測定点で以って斯かる回転位置テストと同等の精度が得られるような方法を提供する。 - 特許庁

To provide an interference type radar imaging method, a correlator therefor, and an interference type radar imaging device for constructing a composite antenna for improving resolution and easily measuring a distance to the surface of an observed object or a distance to the observed object with high precision even by means of a low-output radar.例文帳に追加

合成アンテナを構築して分解能を向上するとともに、低出力のレーダーを用いても、簡単に精度良く観測物体の表面や観測物体までの距離を観測することができる干渉型レーダーイメージング法並びにそのための相関器及び干渉型レーダーイメージング装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An interference measuring means 11 performs interference measurement of a frequency change of return light L3 from an irradiation head 8 for reception, and measures a light quantity of the return light L3, and outputs an ultrasonic detection signal and a return light quantity detection signal to an ultrasonic image display control means 14 and a return light quantity distribution image display control means 15 through a signal recording part 12.例文帳に追加

干渉計測手段１１は、受信用照射ヘッド８からの戻り光Ｌ3の周波数の変化を干渉計測すると共に戻り光Ｌ3の光量も計測し、その超音波検出信号及び戻り光量検出信号を信号収録部１２を介して超音波画像表示制御手段１４及び戻り光量分布画像表示制御手段１５に出力する。 - 特許庁

The eye fundus observation apparatus functions as an optical image measuring apparatus that divides broadband light (low coherence light LO) into signal light LS and reference light LR, generates interference light LC by piling the signal light LS going via the fundus on the reference light LR going via a reference mirror 174 and forms a fundus image from the detection results for the interference light LC.例文帳に追加

眼底観察装置は、広帯域光（低コヒーレンス光Ｌ０）を信号光ＬＳと参照光ＬＲとに分割し、眼底を経由した信号光ＬＳと参照ミラー１７４を経由した参照光ＬＲとを重畳させて干渉光ＬＣを生成し、干渉光ＬＣの検出結果に基づいて眼底の画像を形成する光画像計測装置として機能する。 - 特許庁

This method of interference measurement for measuring the optical characteristics of a lens using an interferometer includes a step of detecting a mark K previously given to the lens; a step of positioning the mark K so as to face in the reference direction of the interferometer by angularly displacing the lens around an optical axis; and a step of performing interference measurement on the positioned lens.例文帳に追加

干渉計を用いてレンズの光学特性を測定する干渉測定方法は、レンズに予め付与されたマークＫを検出するステップと、レンズを光軸周りに角変位させて、マークＫを干渉計の基準方向に位置決めするステップと、位置決めしたレンズの干渉測定を行うステップと、を含む。 - 特許庁

The method comprises the steps of: measuring the interference components received by the first telecommunication device; determining at most M weighting vectors from the measured interference components; weighting at most M pilot signals with the at most M determined weighting vectors; and transferring the at most M weighted pilot signals to the second telecommunication device.例文帳に追加

第１の通信装置により受信される干渉成分を測定するステップと、測定された干渉成分から最大でＭ個の重み付けベクトルを求めるステップと、最大でＭ個の求められた重み付けベクトルで最大でＭ個のパイロット信号を重み付けするステップと、最大でＭ個の重み付けされたパイロット信号を第２の通信装置に転送するステップを含む。 - 特許庁

To perform easily and stably shape measurement of the whole measuring region on the surface to be inspected by determining the shape of a starting point region and the tilt angle of an adjacent region from an image of a starting point interference fringe, and by acquiring successively an adjacent interference fringe corresponding to the adjacent region by performing inclination adjustment of the inspection surface of the tilt angle portion.例文帳に追加

起点干渉縞の画像から起点領域の形状と隣接領域の傾斜角度を求め、この傾斜角度分の被検面の傾き調整を行なって隣接領域に対応した隣接干渉縞を順次得ることによって、被検面の測定領域全域の形状測定を容易かつ安定して実施できるようにする。 - 特許庁

A eyeground observation device 1 (optical image measuring apparatus) divides low-coherence light L0 into signal light LS for an eyeground Ef and reference light LR for a reference mirror 174, superposes signal light LS passed through the eyeground Ef and reference light LR passed through the reference mirror 174 on each other to generate interference light LC, detects the interference light LC, and forms tomographic images.例文帳に追加

眼底観察装置1（光画像計測装置）は、低コヒーレンス光Ｌ０を眼底Ｅｆに向かう信号光ＬＳと参照ミラー１７４に向かう参照光ＬＲとに分割し、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳと参照ミラー１７４を経由した参照光ＬＲとを重畳させて干渉光ＬＣを生成し、この干渉光ＬＣを検出して断層画像を形成する。 - 特許庁

This measuring device is equipped with an irradiation part for forming an interference fringe on a photoreceptive roll 110 by dividing a laser beam emitted by a laser diode 121 into two by an obtuse prism 123 and making the divided laser beams interfere with each other, and a light receiving part for receiving light being the light constituting the interference fringe and being reflected from the roll 110 by a photosensor 124.例文帳に追加

レーザダイオード１２１によって発せられたレーザ光を鈍角プリズム１２３によって２分割して互いに干渉させることにより、感光ロール１１０上に干渉縞を形成する照射部と、その干渉縞を構成している光が感光ロール１１０上で反射された反射光を光センサ１２４で受光する受光部が備えられている。 - 特許庁

The homocysteine concentration is assayed by bringing a homocysteinase having an amino acid sequence of sequence number 10 (refer to the specification) or its variant into contact with the sample of the biological fluid, measuring the produced hydrogen sulfide and thereby reducing interference with the cysteine.例文帳に追加

配列番号１０のアミノ酸配列を有するホモシステイナーゼまたはその変異体を生物学的流体のサンプルと接触させて生成する硫化水素を測定することによりシステインによる妨害を減少させてホモシステイン濃度を測定する。 - 特許庁

To provide a method for measuring an antithyroid hormone antibody which is hard to be affected by interference by serum (hemolytic heme, bilirubin) by making wavelength of a fluorescent material to be coupled to thyroid hormone such as thyroxine into long wavelength (>640 nm: longer wavelength than absorption wavelength of hemolytic hem, bilirubin).例文帳に追加

チロキシンなどの甲状腺ホルモンに結合する蛍光物質の波長を長波長化（>640 nm：溶血ヘム、ビリルビンの吸収波長より長波長）することによって、血清による干渉（溶血ヘム、ビリルビン）を受けにくいことを特徴とする抗甲状腺ホルモン抗体の測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flow velocity measurement method for eliminating or making constant the interference of reflection waves in the preceding measurement, when repeating the measurement of the propagation time of the ultrasonic waves for a plurality of times, and for measuring the propagation time of the ultrasonic waves accurately.例文帳に追加

超音波の伝搬時間の測定を複数回繰り返す場合において、前の測定における反射波の干渉を無くすあるいは一定にすることができ、ひいては超音波の伝搬時間を精度良く測定することが可能な超音波流速測定方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a wave aberration measuring machine using a diffraction grating shearing interferometer for a mirror (reflection) type optical system, which can prevent the analysis of zero-order light or high-order overlapped diffracted light from becoming difficult caused by double diffraction interference.例文帳に追加

ミラー（反射）型光学系に対する回折格子シアリング干渉計を用いた波面収差計測機において、２重の回折干渉を行うので０次光や高次の回折光が重なってしまい解析が困難になってしまうことを防止する。 - 特許庁

When an expected driving quantity of a Fizeau lens 43 reaches a value corresponding to 1/2 wavelength of the light emitted by the light source of the interference measuring instrument, the computer compares the luminance value before the fringe scan starts with the luminance value when the fringe scan ends.例文帳に追加

フィゾーレンズ４３の予定駆動量が、干渉測定装置の光源から出射される光の１／２波長に相当する値に達したとき、コンピュータ１１はフリンジスキャン開始前の輝度値とフリンジスキャン終了時の輝度値とを比較する。 - 特許庁

To provide a shape measurement method and device capable of reducing generation of speckle interference of a laser light affecting to measurement accuracy for measurement with laser projection irradiating measurement object with laser light and measuring the shape from the projection image, in particular for fine shape measurement.例文帳に追加

レーザー光を計測対象に照射しその投影像から形状を計測するレーザー投影による計測において、特に、微細な形状計測において、計測精度に影響するレーザー光のスペックル干渉が発生を低減することのできる形状計測方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain a relatively precise electric potential signal, by preventing or reducing the interference of ac signals between sensing electrodes, even if a sensing electrode supporting a substrate with a semiconductor or a conductor having relatively small resistivity in an electric potential measuring apparatus as the main material of.例文帳に追加

電位測定装置において、抵抗率の比較的低い半導体或いは導体を主材料とした検知電極支持用基板を用いても、検知電極間で交流信号が混信する現象を防止ないし軽減して比較的正確な電位測定信号を得ることである。 - 特許庁

Further, the interference measuring instrument 10 is equipped with a light quantity adjuster 6 which is arranged between the semiconductor laser 1 and beam splitter 2 and adjusts the quantity of the laser light returning to the semiconductor laser 1 through the beam splitter 2 and lens 7.例文帳に追加

また、干渉計測装置１０は、半導体レーザ１とビームスプリッタ２との間に配置されビームスプリッタ２およびレンズ７を介して半導体レーザ１へ戻るレーザ光の量を調節する光量調節器６を備えている。 - 特許庁

A phase shift is imparted to each phase component generated from a wide-band laser light source 11 by a phase modulator 12, and a sample 18 is irradiated with light passing an interference autocorrelation measuring device 13 formed by combining a Michelson interferometer 14 with a piezo stage 15.例文帳に追加

広帯域レーザー光源１１から発生された個々の波長成分に位相変調器１２によって位相シフトを与え、マイケルソン干渉計１４とピエゾステージ１５を組み合わせた干渉自己相関計１３を通した光を試料１８に照射する。 - 特許庁

To provide a measuring method and an apparatus in which signal processing is made more accurately and easily than a conventional one using a shearing interference, an exposure method and an apparatus using the same, and a device manufacturing method.例文帳に追加

シアリング干渉を利用して従来よりも高精度かつ信号処理を容易にする被検光学系の波面を測定することが可能な測定方法及び装置、それを利用した露光方法及び装置、並びに、デバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

In a measuring method of a specific component in a bio- component such as serum and urine, measurement interference by the bio- component resulted form the specimen having hydrophobicity can be avoided by adding a water-soluble high molecular compound without producing insoluble matter interfering optical measurement.例文帳に追加

血清や尿などの生体成分中の特定成分を測定する方法において、水溶性高分子化合物を添加することにより、光学的測定を妨害する不溶性物質を生成することなく、疎水性を有する検体に由来する生体成分による測定妨害を回避する方法。 - 特許庁

To provide a surface state measuring method and an instrument capable of minimizing a noise of an absorbance spectrum caused by an interference fringe included in multiple internal reflected light inside a substrate, in measurement of the surface state of the substrate by an infrared multiple internal reflection method.例文帳に追加

赤外多重内部反射法による基板の表面状態の測定において、基板内部における多重内部反射光に含まれる干渉縞に起因する吸光度スペクトルのノイズを極小化することのできる表面状態測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In the positioning device that includes a laser interferometer loaded on a slider, and a fixed mirror, the slider is positioned by measuring the length, based on laser interference, by using laser light making a round trip between the laser interferometer and the fixed mirror.例文帳に追加

スライダに搭載されたレーザ干渉計と、固定ミラーとを備え、前記レーザ干渉計と前記固定ミラーとの間で往復するレーザ光を用いてレーザ干渉に基づく測長を行うことで前記スライダを位置決めする位置決め装置である。 - 特許庁

To provide a vacuum gauge measuring wider range of gas pressure with sufficient accuracy than a conventional vacuum gauge by reducing the interference of a driving signal to a vibration detection signal and preventing the contact between a vibrating body and a detection electrode by electrostatic attracting force.例文帳に追加

駆動信号の振動検出信号への混信を低減するとともに振動体と検出電極との静電引力による接触を防止した上で、従来より広い範囲の気体の圧力を十分な精度で測定することができるようにした真空計を提供する。 - 特許庁

To provide a computation system that reduces received desired signal- to-interference ratio (SIR) operation quantity and a needed memory size about a method for measuring the SIR in a spectrum spread communication receiver and a CDMA(code division multiple access) receiver.例文帳に追加

スペクトル拡散通信受信機およびＣＤＭＡ（Ｃｏｄｅ Ｄｉｖｉｓｉｏｎ Ｍｕｌｔｉｐｌｅ Ａｃｃｅｓｓ）受信機における受信希望波対干渉電力比（ＳＩＲ）の測定法に関し、ＳＩＲ演算量および必要メモリ量を削減した演算方式を提供する。 - 特許庁

Detection is performed over the wavelength region by a spectroscope with regard to optical interference information of reflected light 32a, i.e., the incident light 31 of a measuring beam reflected on the surface of the SOI layer, and reflected light 32b, i.e., the incident light 31 reflected on the boundary of the SOI layer and an insulating film.例文帳に追加

この測定光の入射光３１がＳＯＩ層表面から反射する反射光３２ａと、入射光３１がＳＯＩ層と絶縁膜の界面領域から反射する反射光３２ｂとの光干渉情報について上記波長領域にわたり分光器で検出する。 - 特許庁

To provide a method for measuring the thickness of optical disc having rapid analysis speed and precise density, through the changes in a refractive index due to a wavelength, namely, the position of the peak value of reflection light at interference space obtained through the Fast-Fourier Transformation to a spectrum, in which the refractive index is reflected in a wavelength function.例文帳に追加

波長による屈折率の変化、つまり波長の関数で屈折率を反映したスペクトルを高速フーリエ変換を通じて得られた干渉空間での反射光のピーク値の位置を通じて、速やかな分析速度および高精密度を有した光ディスクの厚さ測定方法を提供すること。 - 特許庁

The reflection light of the measuring beam from the moving mirror 22 and the reflection light of the reference beam from the reference mirror 40 are received by a photodetector 27 via the separation optical system and the photoelectric conversion signal of interference light is outputted as the position information of the moving body.例文帳に追加

そして、測定ビームの移動鏡２２からの反射光と、参照ビームの参照鏡４０からの反射光とが、分離光学系２１を介して光検出器２７で受光され、これらの干渉光の光電変換信号が移動体の位置情報として出力される。 - 特許庁

A defect of a lens 7 to be inspected as a measurement object is simultaneously measured by using an apparatus 1 causing a light beam transmitted through a reference lens 6 as a comparison object to interfere with a light beam transmitted through the lens 7 to be inspected and measuring the amount of aberration of the lens 7 to be inspected from a generated interference fringe 50.例文帳に追加

比較対象としての基準レンズ６を透過した光束と、測定対象としての被検レンズ７を透過した光束とを干渉させ、発生する干渉縞５０から被検レンズ７の収差量を測定する装置１を用いて、同時に被検レンズ７の欠陥を測定する。 - 特許庁

In an SIR measuring circuit 108, an SIR(n) of each slot is calculated from the average value of the desired wave powers of the plurality of slots and measured values of interference wave powers of the slots and in a TPC generating circuit 109, the SIR(n) of each slot is compared with a threshold to generate transmission power control information.例文帳に追加

ＳＩＲ測定回路１０８にて、複数スロットの所望波電力の平均値と各スロットの干渉波電力の測定値から各スロットのＳＩＲ(n)を算出し、ＴＰＣ生成回路１０９にて、各スロットのＳＩＲ(n)と閾値との比較を行い、送信電力制御情報を生成する。 - 特許庁

The interference measuring instrument 10 is equipped with a semiconductor laser 1 which projects laser light on a sample 20, a beam splitter 2 which is arranged the semiconductor laser 1 and sample 20, and a reference mirror 3 and a detector 4 which are arranged on one side and the other side of the beam splitter 2.例文帳に追加

干渉計測装置１０は、試料２０に対してレーザ光を投光する半導体レーザ１と、半導体レーザ１と試料２０との間に配置されたビームスプリッタ２と、ビームスプリッタ２の一側および他側にそれぞれ配置された参照鏡３および検出器４とを備えている。 - 特許庁

A measuring device 100 comprises a light source 1 that irradiates beams having a plurality of wavelength components to a measurement object 50, a diffraction lens 2 having on-axis chromatic aberration, an interference image creating part 3, a spectroscopic image creating part 21, and a three-dimensional shape calculating part 22.例文帳に追加

計測装置１００は、複数の波長成分を有する光を計測物５０に照射する光源１と、軸上色収差を有する回折レンズ２と、干渉画像生成部３と、分光画像生成部２１と、立体形状算出部２２とを備える。 - 特許庁

To solve the problem wherein, since a probe optical path is separated spatially from a reference optical path, when a temperature distribution, a refractive index distribution or a mechanical vibration is generated by fluctuation of the air or the like, an optical path difference is fluctuated between both optical paths to generate a measurement error, in a displacement measuring device using optical interference.例文帳に追加

光干渉を用いた変位計測装置において、プローブ光路と参照光路とが空間的に分離しているため、空気の揺らぎ等による温度分布や屈折率分布、あるいは機械振動が生じた場合、両光路間で光路差が変動し、測定誤差となってしまう。 - 特許庁

Aircraft structure (P1) is composed of a contracting easy part 1; the contracting difficult part 2; and an interference amount 3, and in a measuring means (P2), the contraction easy part 1 is formed in a contraction model 4, and the contraction difficult part 2 is formed in the full-size model 5.例文帳に追加

航空機構造（Ｐ１）は縮小化容易な部分１と、縮小化困難な部分２、干渉量３からなり、測定手段（Ｐ２）では、縮小化容易な部分１を縮小模型４とし、縮小化困難な部分２は実大模型５とする。 - 特許庁