interferometerを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 1556件
MULTI-CHANNEL MACH-ZEHNDER INTERFEROMETER TYPE OPTICAL CIRCUIT例文帳に追加
多チャンネルマッハツェンダ干渉計型光回路 - 特許庁
At the same time, positional information of the wafer stage is measured using an interferometer system, e. g. an X interferometer 127 and a Y interferometer 16.例文帳に追加
同時に、干渉計システム、例えばX干渉計127及びY干渉計16を用いて、該ウエハステージの位置情報を計測する。 - 特許庁
INTERFEROMETER, OPTICAL SWITCH AND OPTOELECTRONIC INTEGRATED DEVICE例文帳に追加
干渉計、光スイッチ、及び光集積装置 - 特許庁
To improve measurement accuracy of a laser interferometer.例文帳に追加
レーザ干渉計の計測精度を改善する。 - 特許庁
ALIGNER COMPRISING LASER INTERFEROMETER例文帳に追加
レーザ干渉干渉計システムを含む露光装置 - 特許庁
CONTINUOUSLY-VARIABLE-SENSITIVITY ACHROMATIC OPTICAL INTERFEROMETER例文帳に追加
連続可変感度型無色光学干渉計 - 特許庁
PARALLEL MOVING MECHANISM, INTERFEROMETER, AND SPECTROMETER例文帳に追加
平行移動機構、干渉計および分光器 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING FRINGE IMAGE AREA OF INTERFEROMETER例文帳に追加
干渉計の縞画像領域決定方法 - 特許庁
LOW COHERENCE INTERFEROMETER AND OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加
低コヒーレンス干渉計及び光学顕微鏡 - 特許庁
SAGNAC INTERFEROMETER BASED SECURE COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
サニャック干渉計を用いた保安通信システム - 特許庁
MANUFACTURING METHOD FOR INTERFEROMETER AND OPTICAL ELEMENT例文帳に追加
干渉計及び光学素子の製造方法 - 特許庁
PHASE DIFFERENCE MEASUREMENT METHOD OF OPTICAL HETERODYNE INTERFEROMETER例文帳に追加
光ヘテロダイン干渉計の位相差測定法 - 特許庁
FABRY-PEROT INTERFEROMETER AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
ファブリペロー干渉計及びその製造方法 - 特許庁
SHEARING INTERFEROMETER AND SHEARING INTERFERENCE METHOD例文帳に追加
シアリング干渉計及びシアリング干渉方法 - 特許庁
HOLDER OF PROFILE IRREGULARITY MEASUREMENT WITH LASER INTERFEROMETER例文帳に追加
レーザー干渉計での面精度計測保持具 - 特許庁
PHASE NOISE COMPENSATION IN INTERFEROMETER SYSTEM例文帳に追加
干渉計システムにおける位相雑音補償 - 特許庁
The optical waveguide density of the interferometer A1 is larger than that of the interferometer A2.例文帳に追加
干渉計A1の光導波路密度は干渉計A2の光導波路密度より大きい。 - 特許庁
First positional information of a stage WST is measured using an interferometer system, for example, an X interferometer 126 and a Y interferometer 16.例文帳に追加
干渉計システム、例えばX干渉計126とY干渉計16とを用いてステージWSTの第1の位置情報を計測する。 - 特許庁
ESTIMATION METHOD OF DISTANCE BETWEEN TRACKING TYPE LASER INTERFEROMETER AND TARGET, AND TRACKING TYPE LASER INTERFEROMETER例文帳に追加
追尾式レーザ干渉計と標的間距離の推定方法及び追尾式レーザ干渉計 - 特許庁
INTERFEROMETER SYSTEM, SIGNAL PROCESSING METHOD IN INTERFEROMETER SYSTEM, AND STAGES USING SIGNAL PROCESSING METHOD CONCERNED例文帳に追加
干渉計システム、干渉計システムにおける信号処理方法、該信号処理方法を用いるステージ - 特許庁
LUMINOUS ENERGY RATIO REGULATION FILTER FOR INTERFEROMETER UNIT, INTERFEROMETER UNIT, AND LIGHT INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加
干渉計装置用光量比調整フィルタ、干渉計装置および光干渉測定方法 - 特許庁
Thus, appropriate interferometer control is carried out regardless of a temperature in the interferometer chamber.例文帳に追加
これにより、干渉計室内の温度に拘わらず適切な干渉計制御が実施される。 - 特許庁
DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER例文帳に追加
X線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにX線タルボ干渉計 - 特許庁
ILLUMINATION SYSTEM FOR MIREAU TYPE MICROSCOPIC INTERFEROMETER AND MIREAU TYPE MICROSCOPIC INTERFEROMETER DEVICE EQUIPPED WITH SAME例文帳に追加
ミロー型顕微干渉計用照明光学系およびこれを備えたミロー型顕微干渉計装置 - 特許庁
SIZE MEASURING INSTRUMENT USING LIGHT WAVE INTERFEROMETER例文帳に追加
光波干渉計を用いた寸法測定装置 - 特許庁
INTERFEROMETER DEVICE COMPRISING UNNECESSARY LIGHT ELIMINATOR例文帳に追加
不要光除去体を備えた干渉計装置 - 特許庁
SIZE MEASURING METHOD BY LIGHT WAVE INTERFEROMETER例文帳に追加
光波干渉計における寸法測定方法 - 特許庁
TRANSMISSION TYPE INTERFEROMETER AND COATING THICKNESS MEASURING SYSTEM例文帳に追加
透過型干渉計及び膜厚測定システム - 特許庁
FABRY-PEROT INTERFEROMETER AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
ファブリペロー干渉計およびその製造方法 - 特許庁
SUPPORTING METHOD FOR REFERENCE PLATE FOR LIGHT WAVE INTERFEROMETER例文帳に追加
光波干渉計用基準板の支持方法 - 特許庁
INTERFEROMETER, ITS USAGE METHOD, AND IMAGING DEVICE例文帳に追加
干渉計、その使用方法および撮像素子 - 特許庁
WAVELENGTH ESTIMATION METHOD OF TRACKING LASER INTERFEROMETER例文帳に追加
追尾式レーザ干渉計の波長推定方法 - 特許庁
INTERFEROMETER, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
干渉計、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
INTERFEROMETER TYPE OPTICAL ISOLATOR AND OPTICAL CIRCULATOR例文帳に追加
干渉計型光アイソレータ及び光サーキュレータ - 特許庁
DISPLACEMENT SENSOR, FIXING METHOD THEREOF, AND INTERFEROMETER例文帳に追加
変位センサー、その固定方法および干渉計 - 特許庁
IMAGING OPTICAL SYSTEM FOR OBLIQUE INCIDENCE INTERFEROMETER例文帳に追加
斜入射干渉計装置の結像光学系 - 特許庁
SURFACE PROFILE MEASURING METHOD AND INTERFEROMETER例文帳に追加
表面形状の測定方法および干渉計 - 特許庁
To provide a Fizeau type phase shift interferometer.例文帳に追加
フィゾー型の位相シフト干渉計を提供する。 - 特許庁
INTERFEROMETER FOR DETERMINING CHARACTERISTICS OF AN OBJECT SURFACE例文帳に追加
オブジェクト表面の特徴を求める干渉計 - 特許庁
TRIMMED AND INTEGRATED OPTICAL MULTIBEAM INTERFEROMETER例文帳に追加
トリミングされ集積された光マルチビーム干渉計 - 特許庁
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