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multiple internal reflectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8件
The light absorbing layers restrain the occurrence of internal reflection or multiple reflection in an interior surface of the light shielding layers facing the TFT side.例文帳に追加
光吸収層により、遮光層のTFT側に向いた内面における内面反射や多重反射の発生を抑える。 - 特許庁
To provide a chemical material detector compactly composed, and using a multiple internal reflection method.例文帳に追加
小型に構成可能な多重内部反射法を用いた化学物質検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a surface state measuring method and an instrument capable of minimizing a noise of an absorbance spectrum caused by an interference fringe included in multiple internal reflected light inside a substrate, in measurement of the surface state of the substrate by an infrared multiple internal reflection method.例文帳に追加
赤外多重内部反射法による基板の表面状態の測定において、基板内部における多重内部反射光に含まれる干渉縞に起因する吸光度スペクトルのノイズを極小化することのできる表面状態測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁
By obtaining a difference spectrum, the difference between the frequency spectrum of reception signals of obtained multiple reflection waves and the frequency spectrum of fundamental reflection waves based on the dynamic characteristics of the ultrasonic sensor, and analyzing the difference spectrum, the internal state of the object to be inspected is inspected.例文帳に追加
得られた多重反射波の受波信号の周波数スペクトルと超音波センサの動特性に基づく基本反射波の周波数スペクトルとの差である差分スペクトルを求め、その差分スペクトルを解析することにより検査対象物の内部状態を検査する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for detecting chemical substances and identifying and determining the chemical substances by an infrared multiple internal reflection method capable of easily and highly accurately detecting the chemical substances at low costs.例文帳に追加
赤外線多重内部反射法により化学物質の同定及びその定量化を行う化学物質検出方法及び装置に関し、化学物質を、簡便に、高精度で、且つ、低コストで検知しうる化学物質検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a surface condition measuring method and apparatus for measuring the surface condition of a substrate to be measured using infrared multiple internal reflection method, whereby the determining accuracy can be enhanced by accurately detecting at an optimum position infrared rays emitted from the interior of the substrate.例文帳に追加
赤外多重内部反射法により被測定基板の表面状態を測定する表面状態測定方法及び装置に関し、基板内部より放出される赤外線を最適な位置で正確に検出し定量精度を向上しうる表面状態測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and a device for measuring a surface state that can improve determination accuracy while eliminating the influence of an interference fringe by intercepting infrared rays unnecessary for measurement, and carrying out the incidence of the infrared rays to a substrate at an optimum angle in measuring the surface state by an infrared multiple internal reflection method.例文帳に追加
赤外多重内部反射法による表面状態の測定において、測定に不要な赤外線を遮断して基板内部に最適な角度で赤外線を入射し、干渉縞の影響を排除するとともに、定量精度を向上することができる表面状態測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁
The internal multiple total reflection prism 31 inputs the terahertz wave outputted from the terahertz wave generation element 30 to the incident surface 31a, not only to propagate the input terahertz wave internally but also to totally reflect the same by four reflecting surfaces 31c-31f, to output the terahertz wave to the wave combining part 16 from the emitting surface 31b.例文帳に追加
内部多重全反射プリズム31は、テラヘルツ波発生素子20から出力されたテラヘルツ波を入射面31aに入力し、その入力したテラヘルツ波を内部で伝播させるとともに4つの反射面31c〜31fで全反射させて、該テラヘルツ波を出射面31bから合波部16へ出力する。 - 特許庁
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