「optical reflectometry」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTOMETRY DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

光周波数領域反射測定装置および光周波数領域反射測定方法 - 特許庁

To improve the S/N of a coherent OTDR (Optical Time Domain Reflectometry) device by suppressing the loss of probe light by an optical frequency shifter.例文帳に追加

光周波数シフタによるプローブ光の損失を抑えて、コヒーレントＯＴＤＲ装置のＳ／Ｎを改善する。 - 特許庁

To provide an optical time-domain reflectometry (OTDR) system capable of performing a precision OTDR test by suppressing the fading noise.例文帳に追加

Fading Noiseを十分に抑えて、精度の高いＯＴＤＲ試験を行うことのできるＯＴＤＲ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for optical reflectometry measuring device capable of measurement by C-OFDR with a high-distance resolution.例文帳に追加

Ｃ−ＯＦＤＲによる測定を高い距離分解能で実施することの可能な光リフレクトメトリ測定方法および光リフレクトメトリ測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an electronics interface coupled between a light detector and an ultrasound console, relating to a method and system for making optical measurements, and in particular, a method and system for making optical measurements for a catheter-based imaging system such as optical coherence domain reflectometry (OCDR).例文帳に追加

光学測定を行う方法及びシステムに関し、特に、光結合による断層撮影法（ＯＣＤＲ）等のカテーテルを用いるイメージ生成システム用の光学測定を行う方法及びシステムに関するもので、光検出器を超音波コンソールにインターフェース接続するための電子インターフェースを提供する。 - 特許庁

To provide an optical frequency domain reflectometry capable of inhibiting phase fluctuations of a lightwave caused by a disturbance to a delay fiber of a reference interferometer to allow a high-resolution measurement of even an object having a long measurement distance.例文帳に追加

本発明の課題は、参照干渉計の遅延ファイバが受ける外乱による光波の位相揺らぎを抑庄して、測定距離の長い対象であっても高分解能な測定を行うことが可能な光周波数領域反射測定方法を提供することにある。 - 特許庁

In optical reflectometry measurement, by concurrently making two types of incident light having different polarization states incident into an object to be measured, a polarization state of back-scattered light relative to each incident light is concurrently measured and the birefringence distribution of the object to be measured from the result is calculated.例文帳に追加

光リフレクトメトリ測定において、異なる偏波状態を持つ２つの入射光を同時に測定対象に入射することにより、それぞれの入射光に対する後方散乱光の偏波状態を同時に測定し、その結果から測定対象の複屈折率分布を計算する。 - 特許庁