「particle source」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The heavy particle beam source generates heavy particle ions.例文帳に追加

重粒子線源は、重粒子イオンを発生する。 - 特許庁

ION SOURCE ACCELERATION POWER SOURCE OF NEUTRAL PARTICLE INJECTION DEVICE例文帳に追加

中性粒子入射装置のイオン源用加速電源 - 特許庁

NEUTRAL PARTICLE BEAM SOURCE AND NEUTRAL PARTICLE BEAM PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

中性粒子ビーム源および中性粒子ビーム処理装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE SOURCE WITH MULTIPLE SELECTABLE PARTICLE EMITTERS例文帳に追加

選択可能な複数の粒子放出器を備える荷電粒子源 - 特許庁

ION GENERATING POWER SOURCE FOR ION SOURCE OF NEUTRAL PARTICLE INJECTION DEVICE例文帳に追加

中性粒子入射装置のイオン源用イオン生成電源 - 特許庁

ION SOURCE AND NEUTRAL PARTICLE INCIDENCE DEVICE USING THE ION SOURCE例文帳に追加

イオン源および該イオン源を用いた中性粒子入射装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE SOURCE WITH AUTOMATED TIP FORMATION例文帳に追加

自動チップ形成を備える帯電粒子源 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM TREATMENT USING CLUSTER SOURCE例文帳に追加

クラスタ源を使用する荷電粒子ビーム処理 - 特許庁

PARTICLE OPTICAL DEVICE EQUIPPED WITH GAS ION SOURCE例文帳に追加

気体イオン源を備えた粒子光学装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE SOURCE WITH INTEGRATED ENERGY FILTER例文帳に追加

エネルギーフィルタが一体化された荷電粒子源 - 特許庁

A charged particle beam transfer system is provided with a lighting optical system containing a charged particle beam source 1.例文帳に追加

本装置は、荷電粒子線源１を含む照明光学系を具備する。 - 特許庁

MULTIVALENT ION GENERATION SOURCE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE USING THIS GENERATION SOURCE例文帳に追加

多価イオン発生源およびこの発生源を用いた荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

CLEANING DEVICE FOR CHARGED PARTICLE BEAM SOURCE, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE USING SAME例文帳に追加

荷電粒子線源用清浄化装置及びそれを用いた荷電粒子線装置 - 特許庁

For example, the X-ray CT device includes: a heavy particle beam source; a heavy particle extracting part; a high-voltage power source; and the target.例文帳に追加

例えば、Ｘ線ＣＴ装置は、重粒子線源と、重粒子引出部と、高圧電源と、ターゲットとを含む。 - 特許庁

ELECTRON SOURCE AND CHARGED PARTICLE DEVICE HAVING SAME例文帳に追加

電子源及びその電子源を有する荷電粒子装置 - 特許庁

POWER SOURCE FOR DEFLECTION ELECTROMAGNET AND POWER SOURCE FOR ACCELERATION CORE OF CHARGED PARTICLE ACCELERATOR例文帳に追加

荷電粒子加速器の偏向電磁石用電源および加速コア用電源 - 特許庁

CHARGED PARTICLE SOURCE WITH INTEGRATED ELECTROSTATIC ENERGY FILTER例文帳に追加

一体化された静電エネルギーフィルタを有する荷電粒子源 - 特許庁

GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, AND SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

ガス電界電離イオン源、及び走査荷電粒子顕微鏡 - 特許庁

GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, AND DEVICE例文帳に追加

ガス電界電離イオン源，荷電粒子顕微鏡、及び装置 - 特許庁

The particle source causes a selection of the energy.例文帳に追加

本発明は、エネルギーの選択が起こる粒子源を記載する。 - 特許庁

This device for an alignment process of the alignment film formed on the substrate includes a particle source which irradiates particle rays, a particle source control part which controls the particle source so that the particle source irradiates the particle rays intermittently, and a drive mechanism which moves the substrate.例文帳に追加

基板上に形成された配向膜の配向処理を行なう装置であって、粒子線を照射する粒子源と、前記粒子源が前記粒子線を間欠的に照射するように、前記粒子源を制御する粒子源制御部と、前記基板を移動させる駆動機構と、を備えているようにした。 - 特許庁

The carbon source is desirably a carbon particle of fullerene C_60, fullerene C_70 or other carbon particle of nano scale.例文帳に追加

また、炭素源は、フラーレンC_60、フラーレンC_70、その他ナノメートルスケールのカーボン粒子であることが好ましい。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of accurately detecting abnormal discharge of a charged particle source.例文帳に追加

荷電粒子源の異常放電を正確に検出可能な荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

PLASMA SOURCE, HIGH FREQUENCY ION SOURCE USING IT, NEGATIVE ION SOURCE, ION BEAM PROCESSOR, NEUTRAL PARTICLE BEAM INCIDENT DEVICE FOR NUCLEAR FUSION例文帳に追加

プラズマ源，それを用いた高周波イオン源，負イオン源，イオンビーム処理装置，核融合用中性粒子ビーム入射装置 - 特許庁

METHOD FOR GROWING ALUMINUM NITRIDE SINGLE CRYSTAL USING ULTRAFINE PARTICLE SOURCE MATERIAL例文帳に追加

超微粒子原料を用いる窒化アルミニウム単結晶の育成法 - 特許庁

A particle optical device includes a charged particle source, and a porous plate arranged in a beam passage.例文帳に追加

荷電粒子源と、ビーム経路中に配置された多孔プレートとを備えた粒子光学装置である。 - 特許庁

The charged particle beam optical apparatus detects electrons obtained from a sample irradiated with a primary charged particle beam from a charged particle source as a secondary charged particle beam.例文帳に追加

荷電粒子ビーム光学装置は、荷電粒子源からの一次荷電粒子ビームの照射により試料から得られる電子を二次荷電粒子ビームとして検出する。 - 特許庁

PARTICLE SOURCE HAVING SELECTABLE BEAM CURRENT AND EXPANSION OF ENERGY例文帳に追加

選択可能なビーム電流及びエネルギーの広がりを備えた粒子源 - 特許庁

DELIVERY DEVICE AND METHOD WITH COLLIMATED GAS STREAM AND PARTICLE SOURCE例文帳に追加

コリメートされたガス流及び粒子源を用いる送達機器及び方法 - 特許庁

ION SOURCE FOR GENERATING CHARGED PARTICLE BEAM, ELECTRODE FOR ION SOURCE, AND METHOD OF INTRODUCING GAS IONIZED IN ION SOURCE例文帳に追加

粒子線を生成するためのイオン源、イオン源用の電極並びにイオン化されるガスをイオン源内に導入するための方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF CALCIUM PHOSPHATE PARTICLE, ALMOST SPHERICAL CALCIUM PHOSPHATE PARTICLE, USE OF PHOSPHOROUS ESTER OR PHOSPHORIC ESTER AND PHOSPHORIC ACID SOURCE例文帳に追加

リン酸カルシウム粒子の製造方法、略球状リン酸カルシウム粒子、（亜）リン酸エステルの使用、リン酸源 - 特許庁

NANO-PARTICLE SUPPORTING DEVICE FOR CATALYST HAVING COAXIAL VACUUM ARC EVAPORATION SOURCE例文帳に追加

同軸型真空アーク蒸発源を備えた触媒用ナノ粒子担持装置 - 特許庁

a tiny particle of material that can be added to a product to indicate the source of manufacture 例文帳に追加

製造源を示すために製品に加えれる物質の小さい粒子 - 日本語WordNet

EXTREME ULTRAVIOLET LIGHT SOURCE EQUIPMENT, AND METHOD OF CAPTURING HIGH-SPEED PARTICLE IN EXTREME ULTRAVIOLET LIGHT SOURCE EQUIPMENT例文帳に追加

極端紫外光光源装置及び極端紫外光光源装置における高速粒子の捕捉方法 - 特許庁

In the method, sputtering of a particle beam (8) is performed between a contaminating particle source (5) and the microcomponent (2).例文帳に追加

本発明の方法においては、汚染粒子ソース（５）とマイクロコンポーネント（２）との間において粒子ビーム（８）をスパッタする。 - 特許庁

The particle detecting system has a radiation source for generating a radiation lighting beam.例文帳に追加

粒子検出システムは、放射の照明ビームを生成する放射源を有している。 - 特許庁

To provide a charged particle source capable of stably providing electron or ion emission.例文帳に追加

電子あるいはイオン放射が安定して得られる荷電粒子源を提供する。 - 特許庁

ION SOURCE, NEUTRAL PARTICLE BEAM INJECTION DEVICE FOR NUCLEAR FUSION, AND ION BEAM PROCESS DEVICE例文帳に追加

イオン源，核融合用中性粒子ビーム入射装置，及びイオンビームプロセス装置 - 特許庁

The charged particle beams emitted from the first charged particle beam source for static neutralization is guided to the vicinity of the first hole.例文帳に追加

そして、第１の帯電中和用荷電粒子線源から発せられた荷電粒子線は、第１の孔付近に導入される。 - 特許庁

The scaling rate S in the Z-axial direction of a particle coordinate system is adjusted according to movement information of a particle generation source and then the particle coordinate systems are connected.例文帳に追加

パーティクル座標系のＺ軸方向でのスケーリング率Ｓを、パーティクル発生源の移動情報に基づき調整することで、パーティクル座標系同士を連結させる。 - 特許庁

The source material 8 is preferably a powder material having 10 nm to 100 μm average particle size.例文帳に追加

また、原料８は、平均粒径が１０ｎｍ〜１００μｍの粉末であるのが好ましい。 - 特許庁

RADIATION SOURCE FOR SUPPRESSING DEBRIS PARTICLE, LITHOGRAPHIC DEVICE, ILLUMINATING SYSTEM, AND METHOD例文帳に追加

デブリ粒子を抑制するための放射線源装置、リソグラフィ装置、照明システム、および方法 - 特許庁

To provide a particle source having selectable beam currents and expansions of energy.例文帳に追加

選択可能なビーム電流及びエネルギーの広がりを備えた粒子源を提供する。 - 特許庁

RADIATION SOURCE DEVICE FOR SUPPRESSING DEBRIS PARTICLE, LITHOGRAPHIC APPARATUS, ILLUMINATION SYSTEM, AND METHOD THEREOF例文帳に追加

デブリ粒子を抑制するための放射線源装置、リソグラフィ装置、照明システム、および方法 - 特許庁

RADIATION SOURCE DEVICE FOR SUPPRESSING DEBRIS PARTICLE, LITHOGRAPHIC APPARATUS, ILLUMINATING SYSTEM, AND METHOD例文帳に追加

デブリ粒子を抑制するための放射線源装置、リソグラフィ装置、照明システム、および方法 - 特許庁