「pattern measuring」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PATTERN PITCH MEASURING APPARATUS例文帳に追加

絵柄ピッチ計測装置 - 特許庁

PATTERN POSITION MEASURING APPARATUS例文帳に追加

パターン位置測定装置 - 特許庁

PATTERN WIDTH MEASURING PROGRAM AND PATTERN WIDTH MEASURING DEVICE例文帳に追加

パターン幅測定プログラム、パターン幅測定装置 - 特許庁

LENGTH MEASURING PATTERN AND LENGTH MEASURING METHOD例文帳に追加

測長パターンおよび測長方法 - 特許庁

PATTERN DIMENSION MEASURING DEVICE例文帳に追加

パターン寸法測定装置 - 特許庁

PATTERN MEASURING METHOD, PATTERN MEASURING DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

パターン測定方法、パターン測定装置およびプログラム - 特許庁

PATTERN COLLAPSE MEASURING METHOD例文帳に追加

パターン倒れ測定方法 - 特許庁

PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD例文帳に追加

パターン寸法測定方法 - 特許庁

PATTERN INFORMATION MEASURING DEVICE例文帳に追加

パターン情報測定装置 - 特許庁

PATTERN IMAGE MEASURING METHOD AND PATTERN IMAGE MEASURING DEVICE例文帳に追加

パターン画像測定方法及びパターン画像測定装置 - 特許庁

PATTERN JITTER MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

パターンジッタ測定装置及び測定方法 - 特許庁

ARRAY PRECISION MEASURING PATTERN AND MEASURING METHOD例文帳に追加

配列精度計測パターンと計測方法 - 特許庁

FAR-FIELD PATTERN MEASURING DEVICE例文帳に追加

ファーフィールドパターン測定装置 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC FIELD PATTERN MEASURING APPARATUS例文帳に追加

電磁界パターン測定装置 - 特許庁

PATTERN PROJECTION MEASURING PROJECTION GRID例文帳に追加

パターン投影計測用格子 - 特許庁

PATTERN LINE WIDTH MEASURING METHOD例文帳に追加

パターン線幅の測定方法 - 特許庁

PATTERN MEASUREMENT METHOD AND PATTERN MEASURING DEVICE例文帳に追加

パターン測定方法及びパターン測定装置 - 特許庁

PATTERN MEASURING METHOD, PATTERN MEASURING DEVICE AND PATTERN PROCESS CONTROL METHOD例文帳に追加

パターン計測方法及びパターン計測装置、並びにパターン工程制御方法 - 特許庁

LIGHT RADIATION PATTERN MEASURING APPARATUS例文帳に追加

光放射パターン測定装置 - 特許庁

MASK PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

マスクパターン形状計測方法 - 特許庁

PATTERN INFORMATION MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD例文帳に追加

パターン情報測定装置及び測定方法 - 特許庁

DIMENSION MEASURING PATTERN AND DIMENSION MEASURING METHOD例文帳に追加

寸法測定パターン、及び寸法測定方法 - 特許庁

PATTERN EXPOSING METHOD AND PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

パターン露光方法およびパターン測定方法 - 特許庁

SPHERICAL ABERRATION MEASURING PATTERN AND MEASURING METHOD例文帳に追加

球面収差測定パターンおよび測定方法 - 特許庁

PATTERN PROJECTION SHAPE MEASURING DEVICE例文帳に追加

パターン投影形状測定装置 - 特許庁

MICRO-PATTERN MEASURING METHOD, MICRO-PATTERN MEASURING DEVICE AND RECORDING MEDIUM HAVING MICRO- PATTERN MEASURING PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

微細パターン測定方法、微細パターン測定装置及び微細パターン測定プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

PATTERN SIZE/SHAPE MEASURING METHOD例文帳に追加

パターン寸法形状測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR DIMENSION OF REGIST PATTERN例文帳に追加

レジストパターンの寸法測定方法 - 特許庁

MEASURING APPARATUS FOR RADIATION PATTERN OF ANTENNA例文帳に追加

アンテナの放射パターン測定装置 - 特許庁

WAVE TRANSMISSION MEASURING DEVICE AND RADIATION PATTERN MEASURING DEVICE例文帳に追加

電波伝搬測定装置と放射パターン測定装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN DIMENSION AND DIMENSION MEASURING DEVICE例文帳に追加

パターン寸法測定方法及び寸法測定装置 - 特許庁

PATTERN OVERLAPPING ACCURACY MEASURING METHOD例文帳に追加

パターン重ね合せ精度測定方法 - 特許庁

LASER BEAM RADIATION PATTERN MEASURING DEVICE例文帳に追加

レーザ光線放射パターン測定装置 - 特許庁

PATTERN MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン測定装置及び測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN, DEVICE FOR MEASURING PATTERN, METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK, AND PROGRAM例文帳に追加

パタン計測方法、パタン計測装置、フォトマスクの製造方法およびプログラム - 特許庁

PATTERN WIDTH MEASURING DEVICE, PATTERN WIDTH MEASURING METHOD, AND ELECTRON BEAM EXPOSING DEVICE例文帳に追加

パターン幅測長装置、パターン幅測長方法、及び電子ビーム露光装置 - 特許庁

PATTERN MEASURING DEVICE, PATTERN MEASURING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パターン計測装置、パターン計測方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING DEPTH OF GROOVE PATTERN例文帳に追加

溝パターンの深さの測定方法および測定装置 - 特許庁

PATTERN DIMENSION MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン寸法測定装置および方法 - 特許庁

EYE PATTERN MEASURING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

アイパターン測定方法およびその装置 - 特許庁

DIRECTIVITY PATTERN MEASURING SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

指向性パターン計測システム及び方法 - 特許庁

GRID PATTERN PROJECTION SHAPE MEASURING DEVICE例文帳に追加

格子パターン投影形状測定装置 - 特許庁

MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD FOR RETICULE PATTERN POSITION ACCURACY例文帳に追加

レチクル、パターン位置精度の測定装置および測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING HEAT-PATTERN IN SINTERING LAYER例文帳に追加

焼結層内のヒートパターン測定方法 - 特許庁

PATTERN MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン測定方法及びパターン測定装置 - 特許庁