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「phase microscopy」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > phase microscopyに関連した英語例文

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phase microscopyの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 9



例文

WAVELENGTH-SPECIFIC PHASE MICROSCOPY例文帳に追加

波長特異的位相顕微鏡検査法 - 特許庁

To provide a phase contrast technology optimized for fluorescence microscopy.例文帳に追加

蛍光顕微鏡検査のために最適化された位相コントラスト技術を提供する。 - 特許庁

Illumination within the opaque wavelength range for the objective phase ring may be selected for phase microscopy applications.例文帳に追加

対物位相リングのための不透明な波長の範囲内の照明が位相顕微鏡検査適用のために選択され得る。 - 特許庁

To provide a new method for phase contrast imaging in transmission electron microscopy.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡法における位相コントラスト結像のための新しい方法を提供すること。 - 特許庁

例文

Accordingly, an objective phase ring effective for enabling wavelength-specific phase microscopy may not interfere with normal usage of the microscope for other applications such as, for example, fluorescence microscopy.例文帳に追加

それ故、波長特異的位相顕微鏡検査を可能にするために有効な対物位相リングは、例えば、蛍光顕微鏡検査のような他の適用のための顕微鏡の一般的な使用法を阻害しない。 - 特許庁


例文

A wavelength-specific objective phase ring that is opaque only at specific wavelengths may be used in conjunction with a phase microscopy apparatus.例文帳に追加

特異的な波長でのみ不透明である波長特異的対物位相リングが位相顕微鏡検査装置に付随して使用され得る。 - 特許庁

A system and method of generating a phase contrast microscope images without interfering with the intensity and optical quality of other microscopy modalities employ wavelength-specific illumination and attenuation strategies for phase microscopy applications.例文帳に追加

強度および他の顕微鏡検査様式の光学的な質を阻害することなく位相差顕微鏡画像を生成するシステムおよび方法は、位相顕微鏡検査適用のための波長特異的な照明ストラテジーおよび減衰ストラテジーを用いる。 - 特許庁

To provide a phase-dispersion microscopy capable of identifying kind of observed object by increasing the contrast of an image of the observed object and by coloring the image.例文帳に追加

観察対象物の像のコントラストを上げるとともに、像に色付きを持たせることにより観察対象物の種類を特定可能な位相差分散顕微鏡を提供する。 - 特許庁

例文

At least one of the inward member 41, the outward member 43 and the rolling element 42 is made of the titanium material having the new phase 22 that a diffraction spot is present at a position deviating from that on a virtual line connecting together almost the centers of diffraction spots of adjacent parent phases on an electron diffraction pattern obtained by electron microscopy.例文帳に追加

そして、内方部材41、外方部材43及び転動体42のうちの少なくとも1つが、電子顕微鏡法によって得られた電子回折図形上で、隣り合う母相の回折斑点の略中心を結ぶ仮想線上から逸れた位置に回折斑点が存在する新相22を有するチタン材料から成っている。 - 特許庁




  
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