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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > probe microscopeに関連した英語例文

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probe microscopeの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1106



例文

PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ走査装置 - 特許庁

OPTICAL PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

光プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

例文

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査探針顕微鏡用プローブ - 特許庁


例文

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用プローブ - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE FOR MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ型顕微鏡 - 特許庁

例文

PROBE FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針 - 特許庁

例文

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用のプローブ - 特許庁

PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型ブローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ顕微鏡用探針の作製方法、及びプローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCAN PROBE MICROSCOPE, AND PROBE UNIT FOR THE SCAN PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及び走査プローブ顕微鏡用探針ユニット - 特許庁

PROBE HOLDER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

PROBE UNIT FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針ユニット - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND PROBE HOLDER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びプローブホルダ - 特許庁

PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力顕微鏡用プローブ - 特許庁

SCANNING KELVIN PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型ケルビンプローブ顕微鏡 - 特許庁

ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE例文帳に追加

原子間力顕微鏡プローブ - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING PROBE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ電子顕微鏡 - 特許庁

DRIVING STAGE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ装置における駆動ステージ、走査型プローブ装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡(SPM) - 特許庁

FAST SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

高速走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE OF SCANNING HEAT MICROSCOPE例文帳に追加

走査型熱顕微鏡のプローブ - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡システム - 特許庁

MICROSCOPE WITH PROBE, AND PROBE DRIVING METHOD例文帳に追加

プローブ付き顕微鏡及びプローブ駆動方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE APPARATUS例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそのプローブ装置 - 特許庁

MICROSCOPE OBSERVATION APPARATUS AND PROBE TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡観察装置及びプローブ型顕微鏡 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

VIBRATION SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

振動走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ATOM PROBE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE例文帳に追加

アトムプローブ電界イオン顕微鏡 - 特許庁

PROBE STRUCTURE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ構造体及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MICROSCOPE WITH PROBE, AND PROBE CONTACT METHOD例文帳に追加

プローブ付き顕微鏡及びプローブ接触方法 - 特許庁

PROBE SCANNING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針走査方法 - 特許庁

PROBE CONTROL METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法 - 特許庁

SCANNING PROBE AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査用プローブおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE AND MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

探針および磁気力顕微鏡 - 特許庁

PROBE AND NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ及び近接場顕微鏡 - 特許庁

GAS CHROMATOGRAPH SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ガスクロマトグラフ走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING HALL PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型ホール・プローブ素子顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

例文

PROBE CLEANING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ型顕微鏡の探針洗浄方法 - 特許庁




  
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