「probe microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

The toner for electrostatic image development includes at least a binder resin, a colorant and a charge control agent, wherein the surface potential of an arbitrary surface of the toner particles for electrostatic image development after contact charging measured by a surface potential measuring mode of a scanning probe microscope varies from the surface potential before the contact charging by ≥±1,000 mV.例文帳に追加

少なくともバインダー樹脂、着色剤、荷電制御樹脂を含む静電荷像現像用トナーであって、走査型プローブ顕微鏡の表面電位測定モードで測定した接触帯電処理後の該静電荷像現像用トナー粒子の任意の表面の表面電位が、該接触帯電処理前の表面電位に対し正又は負に１，０００ｍＶ以上変化することを特徴とする静電荷像現像用トナー。 - 特許庁

By enabling these operations, the focused multi-planar images can be captured in real time, even while the object is being moved; thus, an objective lens 14 can focus on a first focal place 28 on the surface 10 of the object 5 and a second focal plane 30, located at the height position of the probe tip 29, without being influenced by a vertical adjustment drive unit of the microscope.例文帳に追加

この操作を、焦点を合わせた多平面画像取得をリアルタイムで、すなわち検査対象物の移動中にも可能にするために、対物レンズ１４が、顕微鏡の垂直調節駆動装置に左右されずに、検査対象物５の表面１０上の第１焦点面３０と探針尖端２９の高さ位置にある第２焦点面３０に対物レンズ１４の焦点を合わせることができる顕微鏡対物レンズ焦点合わせシステムを備えている。 - 特許庁

In the atomic force microscope, the cantilever control device 1 is constituted of: the cantilever 10 having the probe 12; an actuator 20 for causing the self-oscillation of the cantilever 10; an oscillation speed detector 30 for detecting the oscillation speed of the cantilever 10; a displacement calculator 32 for calculating the oscillation displacement of the cantilever 10 and a controller 40 for forming a signal for driving the actuator 20.例文帳に追加

原子間力顕微鏡において、探針１２を有するカンチレバー１０と、カンチレバー１０を自励振動させるアクチュエータ２０と、カンチレバー１０の振動速度を検出する振動速度検出器３０と、カンチレバー１０の振動変位を算出する変位算出器３２と、アクチュエータ２０を駆動するための信号を生成する制御器４０とから、カンチレバー制御装置１を構成し、フィードバック制御信号Ｓを（Ｋ−Ｇ・ｘ^2）・ｄｘ／ｄｔとする。 - 特許庁

This scanning near-field optical microscope according to one embodiment includes means for illuminating a sample with light, scanning means for bringing a probe close to the sample and scanning the sample, a plurality of collecting optical systems with different optical axes for collecting the scattering light generated by the illumination, and a plurality of scattering light- detecting mechanisms set respectively the plurality of the collecting optical systems.例文帳に追加

本発明の一態様によると、試料に光を照射する手段と、試料にプローブを近接させ走査する走査手段と、照射により発生した散乱光を集光するもので、それぞれ、異なる光軸を持った複数の集光光学系と、前記複数の集光光学系にそれぞれ設けられた複数の散乱光検出機構とを有することを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁

The present invention relates to a film thickness evaluation method for measuring the distribution of film thickness of an insulation thin film by using an atomic force microscope which applies a variable DC voltage between a sample and a probe held by a cantilever.例文帳に追加

試料と、カンチレバーに保持された探針との間に可変直流電圧を印加する原子間力顕微鏡を用いて、絶縁性薄膜の膜厚分布を測定する膜厚評価方法で、試料の測定領域に電圧を変化させて印加するとともに、発生電流および絶縁破壊電圧を測定し、前記測定領域のうち任意の１点の膜厚を基準値として、各測定点の絶縁破壊電圧および（１）式の関係に基づいて、前記測定領域内の相対膜厚の分布を求めることとする。 - 特許庁