「probe microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

The magnetic scanning/ positioning system with at least two items of degree of freedom can be used in the fields of a scanning probe microscope, data memory and imaging.例文帳に追加

少なくとも２つの自由度を有する磁気走査または位置決めシステムが、走査型プローブ顕微鏡の分野、またはデータ記憶若しくはイメージングの分野で使用され得る。 - 特許庁

SIGNAL DETECTION DEVICE, PROBE MICROSCOPE BY SIGNAL DETECTION DEVICE, AND SIGNAL DETECTION METHOD, OBSERVATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE BY USING SIGNAL DETECTION METHOD例文帳に追加

信号検出装置、信号検出装置によるプローブ顕微鏡、及び信号検出方法、信号検出方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁

To provide a noncontact interatomic force microscope that can solve a variation problem of the sensitivity of each probe in a multiprobe and allows accurately to observe a sample surface.例文帳に追加

マルチプローブにおける各プローブ毎の感度のばらつきの問題を解決し、サンプル表面を正確に観察することができる非接触型原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The cantilever 15 of a near-field Raman spectroscopic system 40 is the general cantilever of an atomic force microscope and includes the near-field probe 10 at the leading end of the free end.例文帳に追加

近接場ラマン分光システムのカンチレバー１５は、一般的な原子間力顕微鏡のカンチレバーであって、その自由端の先端に近接場プローブ１０を備えている。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) 102 for inspecting a sample 124 includes a probe assembly 106 including a first tip 302 and a second tip 304 directed respectively to a surface 131 of the sample 124.例文帳に追加

サンプル(124)の表面(131)にそれぞれ向けられる第１の先端部(302)及び第２の先端部(304)を含むプローブアセンブリ(106)を含む、該サンプル(124)を検査するための原子間力顕微鏡(AFM)(102)。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope equipped with an observational optical system enabling a surface of a sample to be optically observed with a high magnification while having a wide scanning range.例文帳に追加

広い走査範囲を有しながらも、試料表面を高倍率で光学的に観察できる観察光学系を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a cantilever holding mechanism which is suitable for an observation or the like in a liquid and by which a cantilever can be attached easily to a cantilever mounting base, and to provide a scanning probe microscope.例文帳に追加

液中観察などに適し、カンチレバをカンチレバ取付台に容易に取付けることができるカンチレバ保持機構および走査形プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A microminiaturized structure is formed on the surface of a substrate, by scanning a probe of a scanning probe microscope so as to abut on or come close to the surface of the substrate, and moving the microminiaturized structure by the cooperation between the microminiaturized structure present on the surface of the substrate and the probe.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のプローブを基板表面に当接または近接させながら走査して、前記基板表面に存在する微細構造材と前記プローブとの間の相互作用によって、前記微細構造材を移動させて、前記基板表面上に微細構造を形成することを特徴とする。 - 特許庁

This microscope has a cantilever 14 with the probe 15, a Z micromotion part 13b changing an interval between a sample 17 and the probe 15, an XY scan control part 19 imparting relative displacement in the sample surface direction between the sample 17 and the probe 15, displacement detection means 21, 22 detecting displacement occurring in the cantilever 14, and a Z direction control part 20.例文帳に追加

探針１５を有するカンチレバー１４、試料１７と探針の間隔を変化させるＺ微動部１３ｂと、試料と探針の間で試料表面方向に相対変位を与えるＸＹ走査制御部１９と、カンチレバーで生じる変位を検出する変位検出手段２１，２２と、Ｚ方向制御部２０とを備える。 - 特許庁

The probe 2 of a scan-type probe microscope is heated and scanned near the surface of a sample, applying etching gas to the mask to be treated so that the mask area to be treated (opaque defect) and etching gas react chemically by heat radiation from the probe 2, resulting in generation and evaporation of a volatile substance.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針２を熱して、マスクの被加工領域にエッチングガスを吹きつけながら試料表面に接近させた状態で走査させ、探針２からの輻射熱によりマスクの被加工領域（黒欠陥）とエッチングガスとで化学反応を起こさせ、揮発性物質を生成させ蒸発させる。 - 特許庁

This method is applied for a scanning type probe microscope having a measuring part for scanning a sample 12 by a probe 25 to measure a physical quantity about the sample surface, and constituted to be provided with an XY fine moving mechanism 24 for moving the probe finely, and an XY stage 51 for moving the sample roughly.例文帳に追加

この測定方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する物理的量を測定する測定部を有し、かつ探針を微動させるＸＹ微動機構２４と試料を粗動させるＸＹステージ５１を備えるように構成された走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

This scanning probe microscope equipped with a probe arranged oppositely to the sample, a Z-direction scanner driven in the Z-direction, an X, Y-direction scanner for scanning in the X, Y directions, and a measuring head for detecting displacement of the probe, is also equipped with a Z-direction correction means for correcting the macro Z-direction fluctuation portion from the reference height.例文帳に追加

試料と対向配置するプローブと、Ｚ方向に駆動するＺ方向スキャナーと、Ｘ，Ｙ方向に走査するＸ，Ｙ方向スキャナーと、プローブの変位を検出する測定ヘッドを具備する走査型プローブ顕微鏡において、基準高さからのマクロなＺ方向変動分を補正するＺ方向補正手段を備える。 - 特許庁

The scanning probe microscope includes a light source 35 for irradiating the photoreactive substance on the substrate 1, a sensor 27 for detecting the photoreaction produced in the photoreactive substance by inspection light, an arranging mechanism 145 for arranging a probe 40 to a photoreactive region where the photoreaction on the substrate 1 is detected and a scanning mechanism 45 for allowing the probe 40 to scan the photoreactive region.例文帳に追加

基板1上の光反応物質に検査光を照射する光源35、検査光により光反応物質で生じた光反応を検出するセンサー27、基板1上の光反応が検出される光反応部位に探針40を配置する配置機構145、及び探針40に光反応部位を走査させる走査機構45を備える。 - 特許庁

To provide an optical axis adjusting method capable of easily setting an optical axis in the rear surface of a cantilever in a scanning probe microscope equipped with an optical lever type displacement detection system constituted by utilizing the rear surface of the cantilever, an optical axis adjusting auxiliary jig fitted thereto and the scanning probe microscope having optical axis adjusting constitution.例文帳に追加

カンチレバーの背面を利用して構成される光テコ式の光学式変位検出系を備えた走査型プローブ顕微鏡でカンチレバーの背面での光軸設定を容易に行える光軸調整方法、この光軸調整法に適した光軸調整用補助具、およびこの光軸調整の構成を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The observing positions and directions of the surgical microscope 1 and the ultrasonic probe 37 relative to the portion A to be operated on are detected, and an image observed by the ultrasonic probe 37 is displayed on a predetermined portion of an image observed by the surgical microscope 1, while the former is visually correlated with the latter according to the detection result.例文帳に追加

手術用顕微鏡１の観察位置及び方向と、超音波プローブ３７の観察位置及び方向との術部Ａに対するそれぞれの相対位置を検出し、、この検出結果をもとに、超音波プローブ３７の観察像が、手術用顕微鏡１の観察像の所定の部分に、視覚的に相関付けて表示される。 - 特許庁

This SQUID microscope is characterized in that a space between an end of the probe of a SQUID microscope part thereof and the specimen to be measured is measured by means of a variation in a tunnel current generated therebetween and that a control part is provided to control the space between the probe and the specimen so that the value of the current becomes a desired value.例文帳に追加

本発明１のＳＱＵＩＤ顕微鏡は、そのＳＱＵＩＤ顕微鏡部のプローブの先端と被測定試料との間隔をその間に生じるトンネル電流の変動にて測定し、この電流値が所望の値となるように前記プローブと被測定試料との間隔を制御する制御部が設けてあることを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁

To provide a self displacement sensing cantilever that allows measurement of a scanning probe microscope to be simultaneously executed under irradiation with light, facilitates application of a functional coating film without impairing functions of a displacement detection unit, and also, allows physical properties such as light, electricity, and magnetism to be highly accurately and easily measured, and a scanning probe microscope.例文帳に追加

光を照射しながら走査型プローブ顕微鏡の測定を同時に行うことが可能で変位検出部の機能を損なうことなしに機能性の被膜を容易に行うことができ、光、電気、磁気などの物性を高精度で容易に測定可能となる自己変位検出型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Thymine is fixed on a conductive surface of a substrate, a bias voltage applied between a probe and the substrate is varied with a distance between the probe of the scanning probe microscope and thymine fixed, a tunneling current flowing between the probe and thymine is measured, to find an inflection bias voltage wherein a variation rate of the tunneling current logarithmically transformed with respect to the bias voltage varies.例文帳に追加

表面が導電性をもつ基板表面にチミンを固定し、走査型プローブ顕微鏡のプローブとチミン間の距離を固定した状態でプローブと基板間に加えるバイアス電圧を変化させてプローブとチミンとの間に流れるトンネル電流を測定し、バイアス電圧に対する対数変換されたトンネル電流の変化率が変化する変曲バイアス電圧を求める。 - 特許庁

This multiwavelength observation optical probe microscope has an optical probe, capable generating an optical field localized on the leading end thereof, a light source for emitting a plurality of selectable exciting lights in the optical probe and a scanning means for scanning the optical probe.例文帳に追加

光プローブと、光検出手段と、データ収集手段と、光源が少なくとも２つ以上の選択可能な波長の励起光を発生できるとともに、さらに、動的光路変更手段を有し、励起光の光路の制御を行うことによって、同一試料に対して複数の蛍光イメージを取得することで、複数種の蛍光標識を識別して相対的な位置情報を解析できるようにした。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided at least with a polarization modulator which lets circularly-polarized light in a rotating polarizer to modulate and irradiate the P-polarized component of linear polarization on the probe tip, and a photodetector for detecting scattered light between the probe tip and the sample at the time point, when P-polarized light is irradiated on the probe tip.例文帳に追加

円偏光としたレーザーを回転する偏光子に通してプローブ先端へ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射する偏光変調装置と、プローブ先端にＰ偏光が照射されたタイミングでプローブ先端と試料との間の散乱光を検出する光検出部とを少なくとも有することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。 - 特許庁

In the probe 10 of the scanning tunneling microscope and its manufacturing method, the probe 10 is formed from metal such as tungsten, a tip surface 12 of the probe 10 has a buffer layer such as a carbonization coating film, and a carbon nanotube 13 is extended from the buffer layer such as the carbonization coating film of the tip surface 12 of the probe 10.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針１０において、探針１０はタングステン等の金属で形成され、探針１０の先端表面１２は炭化コーティング膜等のバッファー層を有し、探針１０の先端表面１２の炭化コーティング膜等のバッファー層からカーボンナノチューブ１３が延設されている走査型トンネル顕微鏡の探針１０とその製造方法である。 - 特許庁

Otherwise, the cantilever for the scanning probe microscope or the sensor is manufactured by compounding a probe (a chip, a beam and a small pedestal) molded integrally from the arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor with a large pedestal manufactured from ceramics, glass and a cystal.例文帳に追加

また、砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体で一体成型したプローブ（チップ+ビーム+小台座）とセラミクス、ガラス、水晶で作製した大台座を複合化して走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁

To measure the surface physical properties of a sample without being influenced by the variation of contact areas by securing the contact area between a probe and the sample, preventing plastic deformation, and seizing the contact area in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、プローブと試料との接触面積を確保し塑性変形を防止し、かつ、接触面積を把握することで接触面積のバラツキによる影響を無くして試料の表面物性を測定することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for measuring frictional force and a friction coefficient by using a scanning probe microscope for measuring frictional force as an absolute value not depending on the slope or shape of a specimen with respect to friction between a probe given arbitrary physical properties and a surface of the specimen.例文帳に追加

任意の物性を付与した探針と試料面間の摩擦について試料の傾き・形状によらない摩擦力を絶対値として測定する走査型プローブ顕微鏡による摩擦力および摩擦係数測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe high in resolution and high in detection efficiency, which can be employed in a near-field optical microscope capable of carrying out a measurement with a S/N ratio better than conventional ones, and to provide a method and an apparatus for manufacturing the near-field optical probe.例文帳に追加

従来よりも良好なＳＮ比で測定可能な近接場光顕微鏡に使用できる、分解能が高くかつ検出効率も高い近接場光プローブ、近接場光プローブの作製方法および作製装置を提供する。 - 特許庁

This sampling apparatus used in preparing samples for transmission electron microscope observation by a focused ion beam processing apparatus includes a probe which can rotate which its shaft being as an axis of rotation and a rotating means for rotating the probe.例文帳に追加

また、集束イオンビーム加工装置による透過電子顕微鏡観察用試料作製に用いるサンプリング装置は、プローブの軸を回転軸とする回転が可能なプローブと、その回転を行うための回転手段とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

Particles influencing transfer are cleanly and absolutely removed from a photomask by using dynamic or electromagnetic interaction or chemical reaction between the probe 2 of a scanning probe microscope having high positioning accuracy and the particle 1 on the photomask.例文帳に追加

高い位置決め精度を有する走査プローブ顕微鏡の探針2とフォトマスク上のパーティクル1間の力学的・電磁気学的な相互作用または化学反応を利用して転写に影響を与えるパーティクルをフォトマスク上からクリーンかつ確実に除去する。 - 特許庁

At the forward end part of a probe 2 in the scanning probe microscope, a carbon nanotube 3 having a conductive armchair type crystal structure or a carbon nanotube 3 having a forward end part modified chemically with a specified modifier molecule is provided.例文帳に追加

本発明の走査型プローブ顕微鏡における探針２の先端部分に、伝導性のアームチェア型結晶構造を有するカーボンナノチューブ３、又は先端部分が所定の修飾分子で化学的に修飾されたカーボンナノチューブ３を設ける。 - 特許庁

The high resolution of 1/10-1/100, i.e. sub-μm, compared with that in a conventional SQUID microscope, is obtained noncontactly because controlling the distance between the sample 4 and the tip of the probe 22 by the laser microscope part 3 of deep depth of focus.例文帳に追加

被測定試料４とプローブ２２の先端との距離を焦点深度の大きいレーザ顕微鏡部３により制御するので、非接触で、従来のＳＱＵＩＤ顕微鏡の１０分の１から１００分の１、即ちサブμｍの高い分解能を得ることができる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope in which the information of chemical composition and chemical bonding state on the surface of a sample can be attained in addition to the information of irregular shape on the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状に加えて、試料表面の化学組成および化学結合状態についての情報を得ることができる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe with a low elasticity constant and a high resonance frequency and its manufacturing method, and a microscope, a recording/reproducing device, and a fine-machining device using them.例文帳に追加

弾性定数が低く、共振周波数の高い近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置を提供する。 - 特許庁

To measure an electrical impedance along the surface rugged shape by bringing a distance between a sample and a probe close to a level common to an atomic force microscope or bringing them into contact with each other.例文帳に追加

試料・探針間の距離を原子間力顕微鏡で一般的なレベルまで接近あるいは接触させて、表面凹凸に沿った電気インピーダンスの測定を可能とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of a simple structure, in which a part being scanned is reduced in weight and a light beam follows a cantilever, depending on the bending deformation of a tubular piezoelectric body.例文帳に追加

走査される部分が軽量化された、円筒型圧電体の湾曲変形に応じて光ビームがカンチレバーを追従する簡単な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of obtaining precise measurement data by eliminating noise component characteristically arises only in specific scanning direction of the measurement device.例文帳に追加

測定データから測定装置の一定の走査方向にのみ特有に出現するノイズ成分を除去し、精度の高い測定データを得られる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a drive apparatus capable of easily improving the straightness of the track of a movable part and provide a scanning probe microscope apparatus capable of providing highly accurate images through the use of the drive apparatus.例文帳に追加

容易に可動部の軌跡の真直度を向上させることができる駆動装置と、これを用い、精度の高い画像を提供できる走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided with a rough moving stage 400 having a coarse moving mechanism optionally movable on XY-plane and a sample base 430, the rough moving stage 400 is placed on a frame 550.例文帳に追加

ＸＹ平面を任意に移行可能な粗動機構４００と試料台４３０を有する粗動ステージ４００を備え、この粗動ステージ４００のがフレーム５５０上に載置されている。 - 特許庁

A stage 3 of this scanning probe microscope is provided with a base 13, a movable block 15, a rotation bolt 17, a first retainer plate 19, a second retainer plate 21 and fixing bolts 23.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料台３は、基台１３と、可動ブロック１５と、回転ボルト１７と、第一押さえ板１９と、第二押さえ板２１と、固定ボルト２３とを備えている。 - 特許庁

The sample stage 3 of this scanning probe microscope has a base 13, a moving block 15, a rotary bolt 17, a first pressing plate 19, a second pressing plate 21 and four fixing bolts 23.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料台３は、基台１３と、可動ブロック１５と、回転ボルト１７と、第一押さえ板１９と、第二押さえ板２１と、４本の固定ボルト２３とを備えている。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, an amplitude value of a Y-scan signal increases linearly only during an image acquisition period of time Tyu for acquiring image data, and returns to approximately zero immediately after completion of the acquisition of the image data.例文帳に追加

Ｙ走査信号の振幅値は、画像データを取得する画像取得時間Ｔｙｕの間だけ直線的に増加し、画像データの取得終了後直ちにほぼ０に戻る。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope device capable of appropriately determining adjusting degree of sensitivity even when the inspected object has an unclear outline due to irregularity on the surface.例文帳に追加

表面の凹凸による輪郭が明瞭でない検査対象物であっても、感度の調整具合を適切に判断することができる走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing, evaluating and processing a nano structure by making full use of respective features of a SEM function and a SPM function.例文帳に追加

ＳＥＭ機能とＳＰＭ機能のそれぞれの特徴を十分に生かしきったナノ構造体の観察、評価、加工を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a plurality of electrically independent probes, capable of operating a micro-material having the size below 100 nm, and electric measurement thereof.例文帳に追加

電気的に独立した複数のプローブを有し、１００ｎｍ以下程度の微小な物質の操作を可能とし、かつ電気測定を可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To prevent the action of excessive force to a sample and to enhance measuring accuracy in the observation of a surface shape and the measurement of adsorbing power by a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による表面形状観察及び吸着力測定において、試料に対する過剰な力の作用を防止すると共に測定精度を高める。 - 特許庁

To provide a microfabrication method that achieves high-accuracy processing even while giving lateral oscillation to a cantilever having a probe in a microfabrication device using an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた微細加工装置において、探針を有するカンチレバーに横振動を与えつつも、高精度な加工を可能とする微細加工方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a magnetic field measuring technology for accurately measuring a magnetic field waveform when a magnetic head writes a high-frequency signal by using a low-resonance-frequency probe in a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡において、高周波信号を低共振周波数のプローブを用いて磁気ヘッドの書き込み時の磁界波形の計測を精度良く行う磁界計測技術を提供する。 - 特許庁