「probe microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

When negative voltage or pulse voltage is applied to a probe of scanning probe microscope which is provided with a conductive probe 7 in the air, chromium 3 which is exposed on the surface just under the probe is anodized and generates the chromium oxide 6, therefore, the region in which the antireflection coating is stripped off is scanned and anodized, and the antireflection coating is repaired.例文帳に追加

導電性探針7を備えた走査プローブ顕微鏡の探針に大気中で負電圧もしくはパルス電圧をかけると、探針直下の表面に露出したクロム3が陽極酸化され酸化クロム6を生成するので、反射防止膜が剥れた領域を走査・陽極酸化し反射防止膜を修復する。 - 特許庁

The probe 1 is tilted and moved to the direction where the tip of the probe 1 corresponds to the tip of the shade of the probe 1 at a target position on an observation screen while causing the tip thereof to approach the target position of the sample 5, and observing a distance between the tip of the probe 1 and the target position by a charged particle beam microscope.例文帳に追加

プローブ１をチルトさせてその先端部を試料５の目標位置に接近させながら、プローブ１先端部と前記目標位置の距離を荷電粒子ビーム顕微鏡で観察しつつ、観察画面上で前記目標位置にてプローブ１とプローブ１の影との先端部が一致する方向へ、プローブ１を移動させる。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE UNIT, ITS PRODUCING SYSTEM AND METHOD, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE USING NEAR-FIELD LIGHT例文帳に追加

近接場光プローブユニット、その作製装置および作製方法、近接場光顕微鏡ならびに近接場光による試料測定方法 - 特許庁

By using an atomic force microscope provided with a probe 22 of the same composition as the protective layer 13, a force curve in a lubricating layer 14 is measured.例文帳に追加

保護層１３と同一組成の探針２２を備えた原子間力顕微鏡を用いて、潤滑層１４におけるフォースカーブを測定する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope by which the impurity concentration of a semiconductor as a sample 3 is detected without a bad influence due to a stray capacitance.例文帳に追加

試料３である半導体の不純物濃度を、浮遊容量の悪影響なしに、検出する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of simple constitution capable of detecting exactly a sample surface, and an excitation method for exciting a cantilever array.例文帳に追加

構成が簡単で、的確な試料表面の検出が可能な走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of observation by a scanning probe microscope which allows the observation of the configuration and the dispersed state of particles such as powders.例文帳に追加

粉末のような微粒子の形態および分散状態を観察することができる走査プローブ顕微鏡による観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope where time required for optical measurement work before measurement has been reduced with a simple configuration.例文帳に追加

測定前の光学調整作業に要する時間の短縮が簡単な構成によって達成された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for preventing an image from being distorted due to an alignment error of a scanner, and a measurement method utilizing it.例文帳に追加

スキャナーの整列誤差に起因するイメージの歪曲が防止された走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a highly durable cantilever usable for a scanning type probe microscope for observing a minute object.例文帳に追加

微細な対象物を観察する走査型プローブ顕微鏡に用いることができ、かつ、耐久性の高いカンチレバーを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of repeatedly precisely reproducing the shape image of a sample or the like without being influenced by environment.例文帳に追加

試料の形状像等を、環境の影響なしに繰り返し高精度に再現することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The scanning probe microscope apparatus is provided with a drive part 19 for moving, in X and Y directions, a specimen holding part 24 for holding a specimen 25.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置は、標本２５を保持する標本保持部２４をＸＹ方向に移動させる駆動部１９を備えている。 - 特許庁

In this manner, in the apparatus shown in Fig. 1, the cantilever in AFM is also used as the extraction electrode in the atom probe electric field ion microscope.例文帳に追加

このように、図１の装置では、ＡＦＭにおけるカンチレバーを、アトムプローブ電界イオン顕微鏡における引出電極として兼用している。 - 特許庁

To provide an inspection method and a device using a scanning electron microscope capable of performing fine control of a probe accurately and simply.例文帳に追加

探針の微細な制御を正確に簡単に行なうことができる走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置をを実現する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of enlarging a moving range of a sample stand with a simple structure and heightening rigidity.例文帳に追加

簡単な構造で試料台の移動範囲を大きくするとともに剛性を高くすることが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The ten-point mean roughness of the surface of the endless belt is measured with a scanning probe microscope and is in a range from not less than 2.1 nm to not more than 11.0 nm.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡によって測定した表面の十点平均粗さが、２．１〔ｎｍ〕以上、かつ、１１．０〔ｎｍ〕以下である。 - 特許庁

The microscope has a two-frequency signal generation part 27 imparting a signal which moves the probe 15 at two frequencies in the vertical direction, to the Z micromotion part 13b.例文帳に追加

探針を高さ方向に２つの周波数で運動させる信号をＺ微動部に与える２周波信号生成部２７を備えている。 - 特許庁

To provide a probe control method of a scanning probe microscope capable of measuring an irregular shape or the like of the sample surface by a step-in method relative to a measuring point determined beforehand, heightening throughput of measurement, and reducing breakage or damage caused by collision of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状等を予め決められた測定点についてステップイン方式で測定し、測定のスループプットを高め、探針の衝突による破損・ダメージを減少できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

With this arrangement, when the CNT probe, due to distortion or slipping, collides with the sample surface, destruction and deformation of the tip part of the base probe and tip part of the joined part can be prevented to provide the CNT cantilever having high durability for a scanning probe microscope.例文帳に追加

このような構成により、ＣＮＴ探針の撓みや滑りによる試料表面との衝突時にベース探針先端部と接合部先端部の破壊や変形が防止でき、高い耐久性を持った走査型プローブ顕微鏡用ＣＮＴカンチレバーを提供できる。 - 特許庁

This surgical observation system has a surgical microscope 1 for observing a portion A to be operated on, and an ultrasonic probe 37 differing from the surgical microscope 1 in at least either one of observing direction or method.例文帳に追加

手術用観察システムは、手術部位Ａの観察を行う手術用顕微鏡１と、この手術用顕微鏡１と観察方向と観察方法との少なくとも一方が異なる超音波プローブ３７と、を有する。 - 特許庁

The water developable photosensitive flexographic printing plate has a phase structure having ≥3 distinguishable phases when a section of the plate is observed with a horizontal force (frictional force) microscope as a kind of scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の一種である水平力(摩擦力)顕微鏡で断面を観察した場合、識別可能な相が三相以上ある相構造を特徴とする水現像型感光性フレキソ印刷版。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 contains a XY stage 110 on which a sample 108 is mounted, a SPM unit 120 for obtaining the SPM image, and a light microscope unit 130 for obtaining the light microscopic image.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、試料１０８が載置されるＸＹステージ１１０と、ＳＰＭ像を得るためのＳＰＭユニット１２０と、光学顕微鏡像を得るための光学顕微鏡ユニット１３０とを有している。 - 特許庁

To facilitate a focusing operation for an optical microscope or the like onto a sample surface or a backface of a cantilever, to allow automatic focusing by a simple method, and to make a focusing method suitable for automatic measurement, in a scanning type probe microscope compounded with the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡等が複合された走査型プローブ顕微鏡で、試料表面やカンチレバーの背面への光学顕微鏡等の焦点合せ操作を容易に行え、簡易な方法で自動的な焦点合せを可能とし、測定の自動化に適した焦点合せ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface shape measuring device capable of performing proper measurement to a measuring object having a large aspect ratio (height/width or height), especially a probe microscope such as an atomic force microscope or a magnetic force microscope which is a high-resolution surface shape measuring device.例文帳に追加

アスペクト比（高さ／幅又は高さ）が大きい測定対象に対し、適切な測定ができる表面形状測定装置を提供するもので、特に、高分解能な表面形状測定装置である原子間力顕微鏡や磁気力顕微鏡などのプローブ顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

The amount of scanning and the amount of interval control are controlled in such a way that the relative velocity between the probe and the sample in the direction of the surface of the sample may be constant in the probe scanning control device, scanning probe microscope, working device, probe scanning control method, measuring method, and working method for detecting information on the sample by relatively scanning the sample with the probe.例文帳に追加

探針を試料に対し相対走査して該試料上の情報を検出するプローブの走査制御装置、走査型プローブ顕微鏡、加工装置、およびプローブの走査制御方法、測定方法、加工方法において、前記試料表面方向において探針と試料とのなす相対速度が一定となるように、走査量と間隔制御量を制御するように構成する。 - 特許庁

An oxide layer is formed on the surface of an SOI substrate through such a method where the surface of the SOI substrate is scanned applying a voltage between the probe of a scanning probe microscope and a specimen in an atmosphere of relative humidity 20% or below.例文帳に追加

ＳＯＩ基板の表面を相対湿度２０％以下の雰囲気中で走査型プローブ顕微鏡探針と試料間に電圧を印加した状態で走査することにより表面の酸化層を形成させる。 - 特許庁

The reduction of the transmittance is adjusted to be equal to that of a glass or quartz part not subjected to defect correction, by the vibration amplitude, indention depth, feedback gain and scanning interval of the probe 1 of the scanning probe microscope.例文帳に追加

透過率の低下量は欠陥修正していないガラスまたは石英部分と同じになるように走査プローブ顕微鏡の探針１の振動振幅と押し込み量とフィードバックゲインと走査間隔で調整する。 - 特許庁

To provide a technique capable of carrying out repair and regeneration in a vacuum chamber without extracting and changing defective parts when the abrasion or breakage of a probe of a probe microscope, the flection or breakage of a micro-manipulator, or the abrasion or breakage of micro-tweezers occur.例文帳に追加

プローブ顕微鏡の探針の摩耗や折れ、マイクロマニピュレータの屈曲や折れ、マイクロピンセットの磨耗や折れが生じた際、取り出して交換することなく、真空チャンバ内で補修再生ができる技術を提示する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of substantially reducing the effects of hysteresis of piezoelectric elements even at rotation in a scanning direction and eliminating distortion of images in the case that relative scanning between a sample and a probe is performed by the piezoelectric elements.例文帳に追加

試料とプローブの相対的な走査をピエゾ素子によって行う場合に、走査方向の回転時にもピエゾ素子のヒステリシスの影響を著しく低減し、像のゆがみをなくした走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

The probe for the scanning probe microscope includes a cantilever like base part 101 equipped with a conical needle part 101a, the insulating layer 102 formed the base part 101 and the electron discharge layer 103 formed on the insulating layer 102.例文帳に追加

円錐状の針部１０１ａを備えたカンチレバー状の基部１０１と、基部１０１の上に形成された絶縁層１０２と、絶縁層１０２の上に形成された電子放出層１０３とを備える。 - 特許庁

To attain high accuracy of processing of an atomic force microscope microprocessing device and to make it possible to remove process waste produced in a cutting step by a process probe.例文帳に追加

原子間力顕微鏡微細加工装置の加工の高精度化と加工探針による切削で発生した加工屑をインラインで除去可能にする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that can improve rigidity of an XY fine motion mechanism without narrowing the scan region, increase the scanning speed, and miniaturize a device.例文帳に追加

走査領域を狭めることなく、ＸＹ微動機構の剛性を高め、走査速度の向上と装置の小型化できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope in which the viscoelastic characteristics, e.g. soft or hard, of a sample being measured can be measured accurately.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、測定する試料のやわらかい、かたいという粘弾性特性を正確に測定することができようにすること。 - 特許庁

Then, the sample 10 is set up on the stage on a piezo element three-dimensional scanner 4 of a scanning probe microscope in the direction wherein the plurality of layers are aligned laterally.例文帳に追加

次に、複数の層が横に並ぶ方向で、試料１０を走査型プローブ顕微鏡のピエゾ素子３次元スキャナ４上のステージに設置する。 - 特許庁

To provide a surface observing method using a scanning probe microscope which can perform a stable measurement by reducing the effect of the surface charge of a sample to the utmost.例文帳に追加

試料表面の帯電の影響をなるべく低減させ、安定な測定が行なえる走査型プローブ顕微鏡による表面観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can correlatively evaluate both a SPM image and a light microscopic image with its resolution lower than that of the SPM image.例文帳に追加

ＳＰＭ像とこれに比べて低分解能の光学顕微鏡像とを互いに関連づけて評価し得る走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of easily and accurately conforming as to whether the shape of a sample meets a prescribed condition or not.例文帳に追加

試料形状が所定の条件を満足しているか否かを簡単かつ正確に確認できるようにした走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanner for SPM (scanning probe microscope) which is miniaturized without sacrificing displacement amount and which is suitable for a high-speed scanning operation having a high resonance frequency.例文帳に追加

変位量を犠牲にすることなく、小型化された、従って高い共振周波数を有する高速走査に適したＳＰＭ用スキャナを提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a sample suitable for evaluating two-dimensional carrier distribution by a scanning probe microscope, wherein the sample is used for measuring the two-dimensional carrier distribution.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による２次元キャリア分布の評価に適した２次元キャリア分布測定用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

To acquire a method for characterizing a probe of an atomic force microscope by a characterization structure having two inclined sidewalls opposed to each other.例文帳に追加

互いに対向する二つの傾斜側壁を持つ特徴づけ構造によって原子間力顕微鏡の探針を特徴づけるための方法を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can identify a probe region and a bonding region of an electrode pad clearly by magnification observation by an optical microscope.例文帳に追加

電極パッドのプローブ領域とボンディング領域とを、光学顕微鏡による拡大観察で明確に識別することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and a surface inspection method for forming a marking sign on a sample surface without complicating a constitution of an apparatus.例文帳に追加

装置構成を複雑化することなく、試料表面にマーキング痕を形成できる走査型プローブ顕微鏡及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a wide scanning range, as well as, precise position control related to a stage scanner, and to provide a scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明はステージスキャナ及び走査型プローブ顕微鏡に関し、広範囲な走査範囲を確保しかつ精密な位置制御を実現することを目的としている。 - 特許庁

To provide a simulation apparatus which forms a simulation image in a scanning probe microscope at high speed, and also to provide a simulation method, and a simulation program.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡におけるシミュレーション画像を高速に生成することができるシミュレーション装置、シミュレーション方法及びシミュレーションプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a SQUID microscope with its spatial resolution enhanced while keeping a specimen from contacting a probe.例文帳に追加

本発明は、試料とプローブとが接触することなく、かつ、空間分解能を高めることができるＳＱＵＩＤ顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁