「probe microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

The SQUID microscope unit 1 is provided with: a SQUID microscope part 2; and a laser microscope part 3 arranged adjacently thereto, and the laser microscope part 3 controls a distance between the sample 4 to be measured by the SQUID microscope part and a tip of the probe 22 of the SQUID microscope part.例文帳に追加

ＳＱＵＩＤ顕微鏡装置１は、ＳＱＵＩＤ顕微鏡部２とこれに隣接して配設したレーザ顕微鏡部３とを備え、ＳＱＵＩＤ顕微鏡部により測定する被測定試料４とＳＱＵＩＤ顕微鏡部のプローブ２２の先端との距離をレーザ顕微鏡部３により制御する。 - 特許庁

This invention provides this atom probe device characterized by including: an electric field ion microscope device; an electric field ion microscope image introduction device introducing an electric field ion microscope image imaged by the electric field ion microscope device; and an electric field ion microscope image analyzer analyzing the introduced electric field ion microscope image.例文帳に追加

本発明によれば、電界イオン顕微鏡装置と、電界イオン顕微鏡装置により撮像された電界イオン顕微鏡像を取り込む電界イオン顕微鏡像取込装置と、取り込まれた電界イオン顕微鏡像を解析する電界イオン顕微鏡像解析装置と、を有することを特徴とする、アトムプローブ装置が提供される。 - 特許庁

To characterize the tip of a probe for machining, to additionally machine a diamond probe, and to remove a machined waste deposited on the probe in a physical default removal device utilizing an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を用いた物理的な欠陥除去装置で加工探針先端キャラクタリゼーションとダイヤモンド探針追加工と探針に付着した加工屑除去を可能にする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that can easily scan a probe in XY directions, can perform control for bringing the probe closer to a sample surface, and can measure the undercut structural section of a sample.例文帳に追加

探針のＸＹ方向へ走査および試料表面へ接近させる制御が簡単で、試料のアンダカット構造部分の計測が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe control device of a scanning type probe microscope capable of enhancing measuring precision by eliminating rise and fall characteristic difference brought from servo followability, and to provide a probe control method.例文帳に追加

サーボ追従性からくる上り・下りの特性差を解消して計測精度を向上できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法を提供する。 - 特許庁

The movable probe apparatus comprises a probe 1 and a drive mechanism 3 which moves the probe 1 so that its tip contacts a portion of specimen 2 which is in the field of view of a microscope or its periphery or rear surface of them.例文帳に追加

プローブ１と、プローブ１を移動させてその先端を試料２の顕微鏡視野内の部位又はその周辺あるいはこれらの裏面に接触させる駆動機構３を備えている。 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND WORKING DEVICE BY THE SAME, PROBE SCANNING CONTROL METHOD, AND MEASURING AND WORKING METHOD BY THE SCANNING CONTROL METHOD例文帳に追加

プローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡及び加工装置、並びにプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法及び加工方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can correctly position a probe in a short time to an observation point of a sample without making the probe approach the surface of the sample.例文帳に追加

探針を試料表面にアプローチさせること無く、試料の観察ポイントに対して探針を短時間且つ正確に位置決めさせることが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING DEVICE BY SCANNING PROBE, PROBE MICROSCOPE BY THE DEVICE, SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND OBSERVING METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE USING THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出装置、該装置によるプローブ顕微鏡、及び走査型プローブによる信号検出方法、該方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁

To provide a method and a device for manufacturing a probe for a scanning probe microscope that can easily create the probe with a tip projection with a size of nanometer in a vacuum.例文帳に追加

ナノメートルサイズの先端突起を有する探針を真空下で簡便に作り出すことができる走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

To conduct baking for an ultra-high vacuum scanning probe microscope including a component, not heat-resistant in a baking temperature, comprising a resin, an adhesive or the like, in the microscope.例文帳に追加

装置中に樹脂や接着剤等のベーク温度に耐えられない部品を含んだ超高真空走査形プローブ顕微鏡のベークを行う。 - 特許庁

A heat generating picture microscope uses a probe 1 having an optical fiber 16 which takes in infrared rays generated by heat generation at its center.例文帳に追加

発熱による赤外線を取り込む光ファイバー１６を中心に有する探針１を用いる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of discriminating each reflected light from a plurality of cantilevers.例文帳に追加

複数のカンチレバーのそれぞれからの反射光を識別可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, LIGHT ABSORBING MATERIAL DETECTING METHOD USING IT, AND MICROSPECTROSCOPY METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた光吸収物質の検出方法並びに顕微分光方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of providing an accurate three-dimensional shape in a short time.例文帳に追加

短時間で正確な３次元形状を得ることができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING DISTANCE BETWEEN NEAR-FIELD PROBE AND SAMPLE SURFACE TO BE INSPECTED AND NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

近視野ゾンデと検査対象試料表面の間の距離を決定する方法および近視野顕微鏡 - 特許庁

To provide a probe for near field optical microscope having a reduced background.例文帳に追加

本発明の目的はバックグラウンドを低減した近接場光学顕微鏡用プローブを提供することにある。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT例文帳に追加

近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録再生装置 - 特許庁

SURFACE OBSERVATION METHOD, RECORDING/REPRODUCING METHOD, SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND RECORDING/ REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

表面観察方法及び記録再生方法、並びに、走査型プローブ顕微鏡及び記録再生装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING MEASURED SHAPE DATA, PROGRAM FOR CORRECTING MEASURED SHAPE DATA, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

形状測定データの補正方法、形状測定データの補正プログラム、および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

FINE STRUCTURAL BODY, CANTILEVER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MEASURING AMOUNT OF DEFORMATION OF THE FINE STRUCTURAL BODY例文帳に追加

微細構造体、カンチレバー、走査型プローブ顕微鏡及び微細構造体の変形量測定方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of easily discriminating the inspection region on a substrate to scan the same.例文帳に追加

基板上の検査領域を容易に識別して走査可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

As another execution example, the Z-axis displacement offset amount may be stored and offset whenever this scanning probe microscope is operated, or a Z-axis displacement offset amount which is inherent in the scanning probe microscope is maintained in advance, and the Z-axis displacement offset amount which is inherent may be offset when the scanning probe microscope is operated.例文帳に追加

他の実施例として、走査型プローブ顕微鏡を使用する度毎に、前記のＺ軸変位オフセット量の蓄積と相殺を行うようにしても良いし、予め装置固有のＺ軸変位オフセット量を保持しておき、走査型プローブ顕微鏡を使用する時に該固有のＺ軸変位オフセット量を相殺するようにしても良い。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録／再生装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND COMPACT DISK/CROSS-SECTIONAL PROFILE MEASURING METHOD AS WELL AS SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びＣＤ・断面プロファイル計測方法並びに半導体デバイス製造方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of discriminating reflected lights from each of a plurality of cantilevers.例文帳に追加

複数のカンチレバーのそれぞれからの反射光を識別可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場光プローブとその製造方法と光記録再生装置及び近接場光顕微鏡 - 特許庁

In a scanning probe microscope, a heterodyne laser Doppler meter is used for detecting and controlling the vibration of the cantilever.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡であって、ヘテロダインレーザドップラー計をカンチレバーの振動検出と制御に用いる。 - 特許庁

PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME AND OPTICAL RECORDING / REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録／再生装置 - 特許庁

TIP-COATED NANOTUBE, TIP-COATED PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE, PROCESSING EQUIPMENT AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

先端被覆ナノチューブ、走査型顕微鏡用先端被覆プローブ、これを用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁

TRANSMITTER FOR DETECTED SIGNAL, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE CONSTITUTED OF TRANSMITTER FOR DETECTED SIGNAL例文帳に追加

検出信号の伝送装置、該検出信号の伝送装置によって構成された走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

A state of a probe tip is observed therein by an optical microscope, an electron microscope or an ion microscope, and the rotation of the low-vibration stepping motor is stopped when the micro sample is directed along a desired direction.例文帳に追加

この時プローブ先端の様子を工学顕微鏡、電子顕微鏡、あるいはイオン顕微鏡により観察し、微小試料が所望の向きになった時点で低振動ステッピングモータの回転を止める。 - 特許庁

To provide a portable microscope in which the degree of freedom for drawing a probe is made large, the light projecting performance from the probe is improved, a display device, etc., is miniaturized to make the microscope portable, and which has excellent convenience as a microscope for industry at a low cost.例文帳に追加

本発明は、プローブの引回しの自由度を大きくするとともにプローブからの投光性を向上し、表示装置等を小型化して携帯可能とし、産業用顕微鏡として利便性のよい低価格の携帯型マイクロスコープを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that accurately specifies the measuring region of a sample having a minute pattern that cannot be observed easily by an optical microscope, is capable of alignment, and can correct measuring profile distortion caused by the variation of a probe shape or probe wear, based on the state of the probe shape and probe wear.例文帳に追加

光学顕微鏡では観察が困難であるような微細パターンを有する試料の計測領域を正確に特定し、位置合わせすることができ、探針形状および探針磨耗の状態に基づいて、探針形状のばらつき、もしくは探針磨耗に起因する計測プロファイル歪みの補正を行うことのできる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with an optical-type high-sensitive proximity sensor to control approximation between the sample and the probe, achieving speed-up of approach to each measured place.例文帳に追加

光学式の高感度近接センサを具備して試料と探針との接近を制御することによって、各測定箇所へのアプローチを高速化した。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided with an optical high-sensitive proximity sensor to control approximation between a sample and a probe, allowing high-speed approach to each measuring point.例文帳に追加

光学式の高感度近接センサを具備して試料と探針との接近を制御することによって、各測定箇所へのアプローチを高速化した。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of detecting accurately the displacement quantity of a probe, and thereby observing the accurate surface structure of a measuring sample.例文帳に追加

探針の変位量を正確に検出し、ひいては被測定試料の正確な表面構造を観測できる走査型プローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a probe canning control method and a scanning probe microscope capable of satisfactorily and continuously observing a sample in the same field of view.例文帳に追加

試料の同視野の連続観察を良好に行うことができる探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To accurately perform measurement with a scanning probe microscope for observing a μm-class fine target without causing a probe to be worn out.例文帳に追加

μｍ級の微細な対象物の観察を行える走査型プローブ顕微鏡での測定を探針摩耗の問題を起こすことなく高い測定精度で行える。 - 特許庁

The probe microscope 1 includes: a cantilever 2 having a probe 21; a displacement detecting optical system 3; an observation optical system 4; an objective lens 6; and a parallel glass 7.例文帳に追加

プローブ顕微鏡１は、探針２１を有するカンチレバー２と、変位検出光学系３と、観察光学系４と、対物レンズ６と、平行ガラス７とを備える。 - 特許庁

A scanning probe microscope is provided where the probe 2 is temporarily separated from the sample surface after sampling the observation data, and is moved to a next observation point.例文帳に追加

観測データを採取後は探針２を一旦試料表面から離し、次の観測点に移動させる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus including a scanning probe unit provided with a mechanism attaching position-regulably the scanning probe unit to an object revolver of an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡の対物レボルバに走査型プローブユニットを位置調整可能に取り付ける機構を備えた、走査型プローブユニットを含めた装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of accurately controlling the distance between a probe and a sample and capable of measuring the magnetic force of a cooled sample with good reproducibility.例文帳に追加

プローブと試料の距離を正確に制御し、冷却した試料の磁気力が再現性良く測定できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of performing highly accurate three-dimensional profile measurement while no sliding of the probe or deformation of the sample substantially occurs.例文帳に追加

探針の滑りや試料の変形が実質的にない状態での高精度な立体形状計測が可能な走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE, PROXIMITY FIELD LIGHT OPTICAL MICROSCOPE HAVING PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE, PROXIMITY FIELD LIGHT LITHOGRAPHY DEVICE AND PROXIMITY FIELD LIGHT STORAGE DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブ、及び該近接場光プローブを有する近接場光学顕微鏡、近接場光リソグラフィー装置、近接場光ストレージ装置 - 特許庁