「probe microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

SCANNING FORCE MICROSCOPE AND CONTROL OF MOVEMENT FOR PROBE TIP THEREOF例文帳に追加

走査型力顕微鏡およびそのプロ—ブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁

PROBE OPENING-CREATING APPARATUS AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

プローブ開口作製装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁

DRIVE STAGE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND MACHINING DEVICE例文帳に追加

駆動ステージ、走査型プローブ顕微鏡、情報記録再生装置、加工装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND PROGRAM FOR SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置及び走査型プローブ顕微鏡装置用プログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING FILM THICKNESS DISTRIBUTION USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた膜厚分布測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS FOR MEASURING OPENING OF PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

プローブ開口作製装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING ELECTRICAL CONTACT BETWEEN PROBE AND MICROSCOPE SAMPLE AND ITS APPARATUS例文帳に追加

プローブと顕体試料の電気的接触検出方法及びその装置 - 特許庁

COMPOUND SEMICONDUCTOR CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用化合物半導体カンチレバー、及びその製造法 - 特許庁

PIEZOELECTRIC ELEMENT CONTROLLER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PIEZOELECTRIC ELEMENT CONTROL PROGRAM例文帳に追加

圧電素子制御装置、走査型プローブ顕微鏡、及び圧電素子制御プログラム - 特許庁

A rapid parallel movement stage for a scanning type probe microscope is provided.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用の迅速平行移動ステージが提供される。 - 特許庁

To realize a scanning probe microscope having excellent operability with mounting holder.例文帳に追加

ホルダ装着の操作性が良い走査形プローブ顕微鏡を提供する事。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF NEEDLE CRYSTAL, AND CANTILEVER OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

針状結晶の製造方法、及び走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE IMAGE AND LASER EXCITATION EMISSION DISTRIBUTION IMAGE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡像及びレーザ励起発光分布像測定装置 - 特許庁

FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE例文帳に追加

電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体 - 特許庁

PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁

ACTUATOR, ACTUATOR USING THE SAME AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

アクチュエーターおよびこれを用いたアクチュエーターならびに走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of attenuating vibrations of an upper board of an inertial-drive stage and of observing atomic images of the scanning probe microscope images.例文帳に追加

慣性駆動ステージの上盤の振動を減衰させ、走査型プローブ顕微鏡像の原子像観察が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In a cantilever for a scanning probe microscope which measures surface state with a CNT probe joined to a base probe, the tip part of the base probe is non-sharpened.例文帳に追加

、ベース探針にＣＮＴ探針を接合して表面状態を測定する走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーにおいて、ベース探針の先端部を非先鋭形状にする。 - 特許庁

PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, BIOMOLECULE CHIP, BIOMOLECULE OBSERVATION METHOD, AND METHOD FOR IMMOBILIZING BIOMOLECULE例文帳に追加

プローブ、走査型プローブ顕微鏡及び生体分子チップ並びに生体分子観察方法及び生体分子固定方法 - 特許庁

The nano-structure is utilized in a field emission type electronic source, a mold for nano imprint and a probe for a probe microscope.例文帳に追加

前記ナノ構造体を利用した電界放出型電子源、ナノインプリント用モールド、プローブ顕微鏡用探針。 - 特許庁

INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPY AND INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a compound microscope capable of analyzing shape information acquired by an optical microscope or physical property information acquired by a scanning type probe microscope irrespective of a measurement mode, and to provide a measuring method of the compound microscope.例文帳に追加

測定モードに関係なく光学顕微鏡により取得される形状情報又は走査型プローブ顕微鏡により取得される物性情報を解析すること。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 has an atomic force microscope mechanism and a caged compound releasing light introduction mechanism utilizing an inverted microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、原子間力顕微鏡機構と、倒立型顕微鏡を利用したケージド解除光導入機構とを有している。 - 特許庁

To provide a grain-like sample observation method based on a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which permits easy use, even under extreme conditions.例文帳に追加

厳しい環境下でも使用が容易な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

FUSION PROBE FOR CONDUCTIVE SCANNING MICROSCOPE, AND PROCESSING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

導電性走査型顕微鏡用融着プローブ及びこれを用いた加工方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DETECTION METHOD FOR p-n JUNCTION POSITION BY USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡とそれを用いたｐ−ｎ接合位置検出方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND LOCAL ELECTRIC CHARACTERISTIC MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びこれを用いた局所的電気特性測定方法 - 特許庁

The voltage may be applied using a probe of a scanning tunnel microscope.例文帳に追加

また前記パルス電圧を走査トンネル顕微鏡のプローブを用いてかけてもよい。 - 特許庁

METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To perform calibration on measurement distances of a cantilever probe for a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡のカンチレバープローブの測定距離に関する較正を行う。 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND SURFACE PROPERTY ANALYZING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

プローブ顕微鏡およびそのプローブ顕微鏡を用いた表面性状分析方法 - 特許庁

APPROACH METHOD OF CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING IT例文帳に追加

カンチレバーの接近方法及びこの接近方法を用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

AFM TWEEZERS, MANUFACTURING METHOD OF AFM TWEEZERS, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ＡＦＭピンセット、ＡＦＭピンセットの製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

TUNING FORK TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE, ITS ADJUSTING METHOD AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

音叉型原子間力顕微鏡プローブ、その調整方法及び製造方法 - 特許庁

A scanning probe microscope apparatus 1 comprises a scanning electron microscope 2 having a sample base 3 on which a sample A is set and a scanning probe microscope 4 mounted on the sample base 3.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置１は、試料Ａがセットされる試料台３を有する走査型電子顕微鏡２と、前記試料台３に装着される走査型プローブ顕微鏡４とを具備する。 - 特許庁

To provide a microscope device equipped with a scanning probe microscope capable of preventing vibration of a sample.例文帳に追加

試料の振動を防止することができる走査型プローブ顕微鏡を備える顕微鏡装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a heterodyne beat probe scanning probe tunnel microscope capable of easily and unfailingly detecting a weak RF signal, and a method of specifying a heterodyne beat signal by the scanning probe tunnel microscope.例文帳に追加

微小なＲＦ信号検出を容易かつ確実に行うことのできるヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡、更にはこの走査プローブ顕微鏡によるへテロダインビート信号の特定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope with a probe capable of rapidly bringing a probe distal end into contact with a sample without possibility of breaking the probe or the sample.例文帳に追加

プローブや試料を破損させるおそれがなく、すばやくプローブ先端を試料に接触させることができるプローブ付き顕微鏡を提供する。 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE BY THE SAME, PROBE SCANNING CONTROL METHOD, AND MEASURING METHOD BY THE SCANNING CONTROL METHOD例文帳に追加

プローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法 - 特許庁

To introduce four-probe type probe having a new constitution capable of measuring an electric conductivity into an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡に、電気伝導率を計測できる新しい構成の４探針のプローブを導入すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a probe for a magnetic force microscope capable of heightening sharpness of a magnetic probe tip.例文帳に追加

磁気探針先端の先鋭化を高めることができる磁気力顕微鏡用探針の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of performing the positioning of a probe due to coarse movement accurately and easily for a short time.例文帳に追加

粗動による探針の位置決めを、短時間で正確かつ容易に行える走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scan probe microscope having the function of calculating the parameters reflecting the surface shape of a probe tip.例文帳に追加

探針先端表面形状を反映したパラメータを算出する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁