「probe microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND METHOD OF FABRICATION例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 - 特許庁

DUAL CHIP ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD FOR IT例文帳に追加

デュアルチップ原子間力顕微鏡プローブとその製造方法 - 特許庁

CANTILEVER HOLDER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

カンチレバーホルダーおよびこれを備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER ARRAY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法 - 特許庁

SELF DISPLACEMENT SENSING CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

自己変位検出型カンチレバーおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SENSOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法 - 特許庁

PROBE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope integrated with shafts by each of optical microscopes formed by combining the existing optical microscope and the scanning probe microscope.例文帳に追加

既存の光学顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡とを組み合わせて構成された光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a function for identifying a probe chip.例文帳に追加

プローブチップを個体識別する機能を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The scanning probe microscope detects or induces changes in a probe-sample interaction.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、プローブと試料との相互作用の変化を検出又は誘起する。 - 特許庁

MULTI-PROBE TYPE SCAN PROBE MICROSCOPE APPARATUS AND SAMPLE SURFACE EVALUATION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

マルチプローブ型走査プローブ顕微鏡装置およびそれを用いた試料表面評価方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MANUFACTURED BY THE SAME METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針の作製方法、該作製方法によって作製された探針及び作製装置 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which has realized a needle tip state of monitoring at the of retraction of a probe, in a step-in type scanning probe microscope.例文帳に追加

ステップイン方式走査型プローブ顕微鏡において、探針退避時の針先状態監視を実現した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

PROBE FOR PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE MICROSCOPE, NEEDLE-SHAPED BODY AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND ELECTRONIC ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡探針及びその製造方法並びにプローブ顕微鏡並びに針状体及びその製造方法並びに電子素子及びその製造方法 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope that is capable of accurate observation.例文帳に追加

高精度観察可能な走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SURFACE PROPERTY MEASURING PROBE AND MICROSCOPE USING IT例文帳に追加

表面性状測定用探針およびこれを用いた顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE FITTED WITH DYNAMIC VIBRATION REDUCER AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MAKING IMAGE OF SAMPLE SURFACE IN PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プロ—ブ顕微鏡における試料表面のイメ—ジ作成方法 - 特許庁

MICROMACHINING, MAGNETIC PROBE FOR MICROSCOPE AND ELECTRIC FIELD SENSOR例文帳に追加

微細加工方法、磁気力顕微鏡用プローブおよび電場センサ - 特許庁

MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針及びその製造方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および該顕微鏡による測定方法 - 特許庁

FINE CONTROL MEANS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

微動手段およびそれを利用する走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料の観察方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法 - 特許庁

MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

磁気力顕微鏡用の磁性探針およびその製造方法 - 特許庁

DRIVE APPARATUS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

駆動装置及びこれを用いた走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN LIQUID USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND PREPARATORY OPERATION METHOD FOR PIEZOELECTRIC ELEMENT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び圧電素子の準備動作方法 - 特許庁

APPARATUS STRUCTURE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE INCLUDING APPARATUS STRUCTURE例文帳に追加

装置構造及びその構造を備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PIEZOELECTRIC FINE-MOVEMENT ELEMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

圧電微動素子およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

This scanning probe microscope includes the scanning probe unit 160 attached to the objective revolver of the scanning optical microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、走査型光学顕微鏡の対物レボルバーに取り付けられる走査型プローブユニット１６０を含んでいる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, an evaluation method of a probe of the scanning probe microscope, and a program, capable of evaluating a probe without measuring a standard sample.例文帳に追加

標準試料を測定することなく探針の評価を行うことのできる走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の探針の評価方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT, AND INSPECTION METHOD USING THE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ及びそれを用いた近接場光学顕微鏡並びにその顕微鏡を用いた検査方法 - 特許庁

To provide a method of preparing sample for a scanning probe microscope applicable to SCM (Scanning Capacitance Microscope) measurement and SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscope) measurement.例文帳に追加

ＳＣＭ測定及びＳＳＲＭ測定に適用できる走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁

As the probe 12 of the scanning probe microscope, a pressure inducing superconductive substance is used.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の探針１２として圧力誘起超伝導物質からなるものを用いる。 - 特許庁

To provide a pump probe measuring instrument, and a scanning probe microscope using it.例文帳に追加

ポンププローブ測定装置とこの測定装置を利用した走査プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

CONDUCTIVE NANOTUBE PROBE, ELECTRICAL CHARACTERISTICS EVALUATION APPARATUS USING THE SAME, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

導電性ナノチューブ探針、それを用いた電気特性評価装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE WITH FIELD-EFFECT TRANSISTOR-CHANNEL STRUCTURE FOR PROBE SCANNING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電界効果トランジスタチャンネル構造を持つ探針走査型顕微鏡の探針およびその製造方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a function of discriminating the kinds of probes with an image recognition function in the scanning probe microscope having an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡を備えた走査型プローブ顕微鏡において、画像認識機能を用いてプローブの種別を判別する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE MEASURING METHOD, SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND PROBE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法 - 特許庁