「probe microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND MICROSCOPE AND TESTER HAVING PROBE例文帳に追加

プローブ及びその製造方法並びにプローブを有する顕微鏡及びテスタ - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置 - 特許庁

PROBE FOR ELECTROCONDUCTIVE SCANNING MICROSCOPE AND PROCESSING METHOD USING THIS PROBE例文帳に追加

導電性走査型顕微鏡用プローブ及びこれを用いた加工方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法、並びに走査型プローブ顕微鏡及び表面電荷測定顕微鏡 - 特許庁

SURFACE-MEASURING INSTRUMENT INTEGRATED SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

プローブ顕微鏡及びそれを用いた測定方法 - 特許庁

SOUND INSULATION BOX AND PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

防音ボックスおよびそれを用いたプローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF MEASURING SURFACE SHAPE OF SOFT MATERIAL BY PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE USED FOR MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡 - 特許庁

SELF-EXCITATION OSCILLATION DRIVE MECHANISM, SENSOR, AND PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

自励発振駆動機構、センサおよびプローブ顕微鏡 - 特許庁

SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND CANTILEVER MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR OBSERVATING SAMPLE例文帳に追加

走査探針顕微鏡および試料観察方法 - 特許庁

EXCITATION METHOD OF CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE BY THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法ならびにその方法による走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CARBON NANOTUBE CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カーボンナノチューブカンチレバーとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING OSCILLATION AMPLITUDE OF CANTILEVER IN NONCONTACT SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ノンコンタクト走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバーの発振振幅測定方法および走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法 - 特許庁

QUALITY CONTROL METHOD BY SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による品質管理方法 - 特許庁

PROBE POSITION CONTROL MECHANISM OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針位置制御機構 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND DATA RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

プローブ型顕微鏡及び情報記録再生装置 - 特許庁

OSCILLATING TYPE CANTILEVER HOLDER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

加振型カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CALIBRATION OF MAGNETIC FORCE OR SCANNING HALL PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力または走査ホールプローブ顕微鏡の較正 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

SIGNAL-PROCESSING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

信号処理方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

The shortest mechanical path, connecting the optical microscope 7 and the probe microscope 8, passes through the optical microscope z-stage 3, the optical microscope support member 2, the vibration removing stand base 1, the probe microscope support member 10 and the probe microscope z-stage 9.例文帳に追加

光学顕微鏡７とプローブ顕微鏡８を結ぶ最短のメカニカルパスは、光学顕微鏡ｚステージ３、光学顕微鏡支持部材２、除振台べース１、プローブ顕微鏡支持部材１０、プローブ顕微鏡ｚステージ９を通っている。 - 特許庁

VERTICAL ILLUMINATION TYPE MICROSCOPE, INSPECTION APPARATUS FOR PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE CARD例文帳に追加

落射型顕微鏡、プローブカードの検査装置、および、プローブカードの製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, INSPECTION METHOD, AND USAGE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の製造方法、検査方法、使用方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS PROBE FOR DETECTING ELECTROMAGNETIC FIELD WITH ULTRAHIGH SENSITIVITY例文帳に追加

超高感度電磁場検出用走査型プローブ顕微鏡とその探針 - 特許庁

METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM)例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）用プローブの取り付け角度測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定方法および装置 - 特許庁

MICROSCOPE OBJECTIVE REVOLVER MOUNTED TYPE SCANNING TYPE PROBE UNIT例文帳に追加

顕微鏡対物レボルバ取付型走査型プローブユニット - 特許庁

WRONG MEASUREMENT VERIFICATION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の誤測定検証方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の制御装置及び方法 - 特許庁

POTENTIAL DIFFERENCE DETECTION METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

電位差検出方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SURFACE ELEMENT ANALYSIS FUNCTION例文帳に追加

表面元素分析機能付き走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH TILTED SAMPLE STAGE例文帳に追加

傾斜試料ステージを備える走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a compacted microscope system comprising a scanning probe microscope and an optical microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および光学顕微鏡を有するコンパクト化された顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブ、及び検査方法 - 特許庁

PROBE-ROTATING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

プローブ回転機構、および該プローブ回転機構を有する走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

NEAR-FIELD FIBER PROBE, AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場ファイバープローブ、及び近接場光学顕微鏡 - 特許庁

To provide a probe of a scanning heat microscope.例文帳に追加

本発明は、走査型熱顕微鏡のプローブに関する。 - 特許庁

TWEEZER-EQUIPPED SCANNING PROBE MICROSCOPE AND TRANSFER METHOD例文帳に追加

ピンセット付き走査型プローブ顕微鏡および搬送方法 - 特許庁

AUXIILARY DEVICE FOR ADJUSTMENT OF OPTICAL AXIS IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡の光軸調整補助装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡による測定方法 - 特許庁