「probe microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

ULTRAHIGH VACUUM SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

超高真空走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE INTEGRATED WITH SHAFT BY EACH OF OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, PROBE HOLDER, AND PROBE HOLDER MOUNTING MEMBER FOR TRANSFER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、プローブホルダおよび搬送用プローブホルダ装着部材 - 特許庁

HIGH-FREQUENCY OSCILLATION PROBE FOR HIGH-SPEED SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

高速走査探針顕微鏡用高周波振動探針 - 特許庁

SETTING METHOD FOR PRESSURE FORCE OF PROBE IN PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針押付け力設定方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針およびその製造方法。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE FOR THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用プローブおよび走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MICROSCOPE OF SCANNING TYPE例文帳に追加

プローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

FINE ADJUSTMENT ELEMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微動素子及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡と計測方法 - 特許庁

FINE ADJUSTMENT MECHANISM FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用微動機構 - 特許庁

SAMPLE STAND FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用の試料台 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のアプローチ方法 - 特許庁

STAGE SCANNER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ステージスキャナ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE UNIT AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブユニットおよび原子間力顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用試料及びその形成方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND INTEGRAL SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SEPARATE OPTICAL AND MICROSCOPIC AXES例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び光顕別軸一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CONTROL METHOD FOR DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離測定方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER MODULE FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER HOLDER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーモジュール、それを備えた走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE MICROSCOPE AND PHYSICAL PROPERTY MEASURING METHOD例文帳に追加

プローブ顕微鏡及び物性測定方法 - 特許庁

PRODUCTION OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE PROBE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡探針の作製方法 - 特許庁

FINE ADJUSTING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微動装置及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び検査方法 - 特許庁

CANTILEVER HOLDER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE USING SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダおよびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER HOLDER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダ、及びそれを備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF OPTICAL IMAGE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査形プローブ顕微鏡および走査形プローブ顕微鏡における光学像観察方法 - 特許庁

CYLINDER PIEZOELECTRIC ELEMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

筒型圧電素子と走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および走査方法 - 特許庁

SCANNING MECHANISM AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査機構および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND ADJUSTING TOOL例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び調整治具 - 特許庁

CANTILEVER HOLDER AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND LITHOGRAPHIC APPARATUS例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および描画装置 - 特許庁

SCANNING-PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び走査方法 - 特許庁

PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

探針、片持ち梁、走査型プローブ顕微鏡、及び走査型トンネル顕微鏡の測定方法 - 特許庁

SCANNING METHOD IN SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND STRONG MAGNETIC FIELD SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における走査方法及び強磁場走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD FOR FABRICATING PROBE TIP AND PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査探針顕微鏡に用いられる探針ティップ及び探針の製造方法 - 特許庁

PROBE SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

プローブ走査機構、および、それを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE CONTROL DEVICE AND METHOD OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR PROBE AND SAMPLE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 - 特許庁

PROBE RELATIVE POSITION CALIBRATION TEMPLATE OF MULTI-PROBE SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

多探針走査型顕微鏡の探針相対位置校正テンプレート - 特許庁

FIBER OPTIC PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

光ファイバープローブ及びそれを備える走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁