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probe microscopeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1106件
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE COLLISION AVOIDANCE METHOD THEREFOR例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びその探針衝突回避方法 - 特許庁
PROBE APPARATUS, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SAMPLE DISPLAY METHOD例文帳に追加
プローブ装置、走査型プローブ顕微鏡および試料表示方法 - 特許庁
PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE例文帳に追加
近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡とその測定方法 - 特許庁
LEVER EXCITATION MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
レバー加振機構及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SCANNING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡とその走査方法 - 特許庁
FABRICATION METHOD OF PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加
ニアフィールド顕微鏡用プローブの作製方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH PROBE CLEANING MECHANISM AND PROBE CLEANING METHOD例文帳に追加
探針洗浄機構を備えた走査型プローブ顕微鏡および探針洗浄方法 - 特許庁
PROBE, MANUFACTURE OF THE PROBE, AND MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加
プローブおよびプローブ製造方法およびこのプローブを用いた顕微鏡 - 特許庁
PROBE USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそのプローブの作製方法 - 特許庁
SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING ITS PROBE RELATIVE POSITION例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びその探針相対位置測定方法 - 特許庁
PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MANUFACTURE, AND IMAGE DRAWING DEVICE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡用探針、その製造法および描画装置 - 特許庁
PUMP PROBE MEASURING INSTRUMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
ポンププローブ測定装置及びそれを用いた走査プローブ顕微鏡装置 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
磁気力顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁
PROBE AND NEAR FIELD MICROSCOPE USING IT例文帳に追加
プローブ及びそれを用いた近接場顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND D/A CONVERTER例文帳に追加
走査形プローブ顕微鏡及びD/Aコンバータ - 特許庁
MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びその走査方法 - 特許庁
TWEEZERS SYSTEM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND REMOVAL METHOD OF DUST例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡用ピンセットシステム、走査型プローブ顕微鏡装置およびゴミの除去方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁
To raise the scanning speed of a tube scanner, to make the tube scanner compact, and to make a scanning probe microscope compact by using the tube scanner made compact for the scanning probe microscope.例文帳に追加
チューブスキャナにおいて、走査スピードをより早くし、かつ、小形化することである。 - 特許庁
COMPOUND MICROSCOPE EQUIPPED WITH PROBE, METHOD OF CALCULATING HEIGHT OF PROBE, AND METHOD OF DRIVING PROBE例文帳に追加
プローブ付き複合顕微鏡、並びにプローブの高さ算出方法及びプローブ駆動方法 - 特許庁
MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MAGNETIZING PROBE FOR MAGNETIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
磁気力顕微鏡及び磁気力顕微鏡用探針の磁化方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE, PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND DETECTION METHOD OF BIOLOGICAL RELEVANT SUBSTANCE USING THEM例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用探針とそれらを用いた生体関連物質の検出方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE SYSTEM AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡システム及び観察方法 - 特許庁
CANTILEVER PROBE STRUCTURE, AND SCANNING FORCE MICROSCOPE例文帳に追加
カンチレバープローブ構造及び走査型力顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及び基板検査方法 - 特許庁
SAMPLING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加
サンプリング走査プローブ顕微鏡および走査方法 - 特許庁
REMOVAL METHOD FOR OFFSET OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡のオフセット除去方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁
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