「probe microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for fabricating a probe for a scanning probe microscope (SPM), particularly a method for fabricating the probe using (111) single crystal silicon.例文帳に追加

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）のための探針の製造方法に関し、特に（１１１）単結晶シリコンを用いた探針の製造方法に関する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope constituted so as to accurately and quantitatively evaluate the leading end shape of its probe by simple work, and also to provide an evaluation method of its probe.例文帳に追加

簡単な作業を行うことで探針の先端形状を評価でき、定量的な評価を正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法を提供する。 - 特許庁

The microscope is provided with a force detector 11 with a flexible member 11a for which a probe 11b is provided.例文帳に追加

顕微鏡は、探針１１ｂが設けられた撓み部材１１ａを有する力検出器１１を備える。 - 特許庁

OPTICAL ELEMENT, SPATIAL OPTICAL FILTER, PROBE FOR SCAN TYPE NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND MASK FOR PHOTOLITHOGRAPHIC PRINT例文帳に追加

光学素子、空間光学フィルタ、走査型近接場光学顕微鏡用プローブおよび写真平版印刷用マスク - 特許庁

To provide an improved technology for measuring small dimensions quickly and accurately by using a probe microscope.例文帳に追加

プローブ顕微鏡を用いた、迅速且つ精度のよい微小寸法を計測する方法の改良技術を提供する。 - 特許庁

An image processing section detect contact based on the image of the probe group 8 picked up by means of an optical microscope 10.例文帳に追加

画像処理部は、光学顕微鏡１０が撮像した触針群８の画像に基づいて接触を検知する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can prevent frost from adhering to the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面上への霜の付着を防止することができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND MICROSCOPE, RECORDING/REPRODUCING DEVICE, AND FINE- MACHINING DEVICE USING THEM例文帳に追加

近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置 - 特許庁

A vibration probe 18 of a scanning force microscope is engaged with a sample surface 24 in an initial approach process.例文帳に追加

走査型力顕微鏡の振動プローブ１８を、初期接近プロセスで試料表面２４に係合させる。 - 特許庁

To execute fast and precise atomic tracking with respect to a scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡に関し、高速で正確な原子追跡を実施することを目的としている。 - 特許庁

To easily observe a sample at a time of use as a probe for a proximity-field light microscope.例文帳に追加

近接場光学顕微鏡用のプローブとして使用するとき容易に試料の観察を行うことを可能とする。 - 特許庁

DETECTING DEVICE, DETECTING METHOD, VEIN SENSING DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, DISTORTION DETECTING DEVICE, AND METAL DETECTOR例文帳に追加

検出装置、検出方法、静脈センシング装置、走査プローブ顕微鏡、歪み検知装置および金属探知機 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measurement in liquid for stably retaining liquid near a cantilever.例文帳に追加

カンチレバー付近の液体が安定に保持される液中測定可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To lengthen the focal distance of an ultrasonic probe used for an ultrasonic microscope, and to deepen the depth of field.例文帳に追加

超音波顕微鏡に用いる超音波探触子の焦点距離を長くし、被写界深度を深くする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope with which proper sample images containing not noise component can be obtained.例文帳に追加

ノイズ成分を含まない良好な試料像を得ることができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can always keep vibration amplitude of a cantilever being fixed.例文帳に追加

カンチレバの振動振幅を常に一定に保持することができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This charge density wave quantum phase microscope is constructed by using a probe 12 made of a charge density wave crystal.例文帳に追加

電荷密度波結晶からなる探針１２を用いて電荷密度波量子位相顕微鏡を構成する。 - 特許庁

To avoid the situation where a plurality of probes of a multiple-scanning-probe microscope (MPSPM) collide with one another.例文帳に追加

走査型マルチプローブ顕微鏡（ＭＰＳＰＭ）の複数の探針が互いに衝突する事態を回避すること。 - 特許庁

To provide a high-speed scanning probe microscope capable of efficiently selecting an optimum control parameter value.例文帳に追加

最適な制御パラメーター値を効率的に選び出すことが可能な高速の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a sample stand fixed stably and firmly to a scanning probe microscope by adsorption inclusions.例文帳に追加

吸着介在物によって走査型プローブ顕微鏡に安定にして強固に固定される試料台を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an acute probe made of iridium, easy to handle, for the observation of a scanning tunneling microscope.例文帳に追加

取扱が容易な尖鋭な走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法を提供する。 - 特許庁

To make more accurately observable the surface of a sample in a scanning probe microscope to acquire a force curve.例文帳に追加

フォースカーブを取得する走査型プローブ顕微鏡において、より正確に試料表面を観察できるようにする。 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF GROOVE SHAPE BY SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EVALUATION METHOD OF DISK SUBSTRATE OR LIGHT GUIDE PLATE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による溝形状の解析方法およびディスク基板または導光板の評価方法 - 特許庁

An atmospheric pressure scanning tunnel microscope system is used, and Pt/Ir is used for a probe 2 as one electrode.例文帳に追加

大気圧走査トンネル顕微鏡システムを用い、一方の電極としての探針２にはＰｔ／Ｉｒを用いる。 - 特許庁

To provide a low-cost scanning probe microscope capable of acurately aligning a laser beam to a cantilever.例文帳に追加

レーザー光のカンチレバーへの位置合わせを正確に行える低コストの走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

An SPM (scanning probe microscope) can write fine patterns on a substance by manipulating atoms one by one. 例文帳に追加

SPM(走査プローブ顕微鏡)は、原子1個1個を操作することにより、物質上に微細なパターンを描くことができる。 - 科学技術論文動詞集

In the microscope observation apparatus provided with a probe microscope having a relatively high magnification optical system and a stereomicroscope having a low magnification optical system, such a constitution that an optical axis L1 of the probe microscope is arranged between two optical axes L2, L3 of the stereomicroscope is adopted.例文帳に追加

相対的に高倍率の光学系を有するプローブ型顕微鏡と低倍率の光学系を有する実体顕微鏡とを備える顕微鏡観察装置において、前記プローブ型顕微鏡の光軸Ｌ１を、実体顕微鏡の２つの光軸Ｌ２，Ｌ３間に配置する構成を採用した。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope for stabilizing the measurement of a force gradient and a displacement current, for example, in an atomic force microscope for improving accuracy, and at the same time to provide a high-density information-reproducing apparatus using the configuration of the scanning-type probe microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などにおける力勾配の測定と変位電流の測定を安定させ、精度を高めることを可能にする走査型プローブ顕微鏡を提供するとともに、この走査型プローブ顕微鏡の構成を用いた高密度の情報再生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for controlling the probe in a scanning probe microscope that properly controls the twisted condition of the probe that is caused from a reaction force, applied from the inclination portion of unevenness on the surface of a sample to the top end of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸の傾斜部から探針先端に加わる反力に起因して生じる探針の捩れ状態を適切に制御して計測データの誤差を低減する走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

The gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by an electric field generated by a voltage applied on a conductive probe of a submerged scanning probe microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by a high electric field enhanced at the top of the probe by irradiating a conductive probe of a submerge scanning probe microscope with laser light.例文帳に追加

ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針に電圧印加して電界または液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針にレーザを照射して針先で増強された高電界により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁

This scanning type probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 opposed to a sample 12, a measuring part (optical lever type optical microscope and feedback servo control loop) for measuring interatomic force or the like generated between the probe and the sample when the probe scans a surface of the sample, and a moving mechanism for varying relatively positions of the probe and the sample to conduct a scanning operation.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対向する探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（光てこ式光学顕微鏡やフィードバックサーボ制御ループ）、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構を備える。 - 特許庁

To obtain a probe suitable for measuring a biopolymer by a scanning probe microscope such as an atomic force microscope, etc., and a base material for immobilizing a polymer capable of immobilizing a biopolymer such as a substrate as a specimen.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの走査型プローブ顕微鏡による生体高分子の測定に適したプローブならびに被検体としての基板などの生体高分子固定可能な重合体を固定する基材を提供すること。 - 特許庁

By using a scanning thermal microscope cantilever 1 of a structure with a hole opening or a scanning thermal microscope probe of a structure in which a probe tip projects from the cantilever, the surface temperature of a sample 6 in the vicinity of the beam irradiation position can be measured.例文帳に追加

穴開き構造の走査熱顕微鏡カンチレバー1またはカンチレバーから探針先端が突き出した構造の走査熱顕微鏡探針を使用して、ビーム照射位置近傍のサンプル6の表面温度を測定できるようにする。 - 特許庁

To provide a scanner driving method for a scanning probe microscope for avoiding the influence of an error resulted from the scanning of the probe or the sample in a circular arcuate shape.例文帳に追加

プローブまたは試料が円弧状に走査されることに起因するエラーの影響を回避できるようにする走査型プローブ顕微鏡のスキャナ駆動方法を提供すること。 - 特許庁

The operation is performed by use of the scanning probe microscope including a probe the surface of which is modified with the biological relevant substance and a mechanism for detecting a generated heat.例文帳に追加

探針の表面が生体関連物質で修飾され、かつ、発生した熱量を検出する機構を有する走査型プローブ顕微鏡を用いて上記の操作を行う。 - 特許庁

To provide a near-field optical microscope capable of preventing a probe from being broken due to impacting on a sample and surely making the probe close to the sample in a short time.例文帳に追加

プローブの試料への衝突による破損を防ぎ、確実かつ短時間でプローブを試料に対して接近させることが可能な近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a probe microscope not causing the collision of a probe with a sample and high in operation speed and a data recording and reproducing apparatus.例文帳に追加

本発明は探針と試料の衝突が生じず、かつ動作速度の速いプローブ型顕微鏡及び情報記録再生装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, while keeping the physical quantities constant at the measuring parts, the sample surface is scanned by the probe by the moving mechanisms, to thereby measure the sample surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡では測定部で物理量を一定に保ちながら移動機構により探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope apparatus capable of spectroscopic measurement and near-field measurement, in addition to conventional scanning probe measurement.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置によって、従来の走査型プローブ測定に加えて分光学的測定および近視野測定を行うことができる装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe electron microscope (SFM) facilitating a change of probes while dispensing with adjustment for positioning a deflection detector after a change of probe.例文帳に追加

プローブ交換を容易にするとともにプローブ交換後の偏向検出器の位置決めのための調節を不要にした走査型プローブ電子顕微鏡（ＳＦＭ）を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for a scanning probe microscope capable of simultaneously measuring the surface shape of a sample and a plurality of physical properties in a microregion.例文帳に追加

試料表面の形状、および微小領域での複数の物性を同時測定することが可能な顕微鏡用プローブ及び走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the scanning probe microscope for detecting the physical quantity acting across a probe and a sample, the probe and the sample are relatively scanned using the scanner.例文帳に追加

探針と試料との間に作用する物理量を検出する走査形プローブ顕微鏡において、前記スキャナを用いて前記探針と前記試料を相対的に走査することを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

To provide a temperature measurement probe, a temperature measurement device and a temperature measurement method using the probe, which can be used in a general-purpose scanning probe microscope device and are hardly affected by the heat deformation of samples.例文帳に追加

汎用の走査型プローブ顕微鏡装置でも使用可能で、かつ試料の熱変形の影響を受けにくい温度測定用プローブ、および前記プローブを用いた温度測定装置および温度測定方法を提供する - 特許庁

To provide a reinforcing method and a reinforcing device enabling a carbon nanotube to strongly adhere to a probe, which adheres to a tip of the probe of a handling equipment such as a scanning probe microscope, carbon nanotube tweezers or the like.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはカーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器のプローブ先端部に付着されているカーボンナノチューブをプローブに強く付着させる補強方法および補強装置を提供する。 - 特許庁

STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁