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process monitoringの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 796件
DYNAMIC INTEGRATED MONITORING SYSTEM FOR BUSINESS PROCESS例文帳に追加
業務プロセスの動的な統合モニタシステム - 特許庁
PRODUCT DEFECT MONITORING SYSTEM FOR PRODUCTION PROCESS例文帳に追加
生産工程の製品不良監視システム - 特許庁
PROBE FOR MONITORING LIGHT EMISSION IN PLASMA PROCESS例文帳に追加
プラズマプロセスにおける発光モニタ用プローブ - 特許庁
the process of gathering information through electronic monitoring 例文帳に追加
電子を利用して行う情報偵察 - EDR日英対訳辞書
MONITORING SYSTEM FOR ACTIVATION PROCESS, MONITORING METHOD THEREFOR AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加
起動プロセスの監視システムとその監視方法及びそのプログラム - 特許庁
PROCESS CONTROL SYSTEM HAVING EQUIPMENT MONITORING FUNCTION例文帳に追加
機器監視機能を有するプロセス管理システム - 特許庁
PROCESS MONITORING DEVICE AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM RECORDING PROCESS MONITORING PROGRAM例文帳に追加
工程監視装置及び工程監視プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
SYSTEM FOR MONITORING SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加
半導体装置製造工程の監視システム - 特許庁
INFORMATION PROCESSOR WITH PROCESS MONITORING FUNCTION, METHOD AND PROGRAM FOR MONITORING PROCESS例文帳に追加
プロセス監視機能を有する情報処理装置、プロセス監視方法、およびプロセス監視プログラム - 特許庁
TERMINAL EQUIPMENT, PROCESS MONITORING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
端末装置、プロセス監視方法、及びプログラム - 特許庁
SEMICONDUCTOR PROCESS MONITORING METHOD, AND ITS SYSTEM例文帳に追加
半導体プロセスモニタ方法およびそのシステム - 特許庁
MONITORING METHOD FOR ARTICLE DEVELOPMENT PROCESS例文帳に追加
商品開発過程におけるモニタリング方法 - 特許庁
INSTRUMENT AND METHOD FOR MONITORING SPOT-WELDING PROCESS例文帳に追加
スポット溶接プロセス監視装置及び方法 - 特許庁
OPTICAL PROCESS MONITORING DEVICE, OPTICAL PROCESS MONITORING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
光学式プロセスモニタ装置、光学式プロセスモニタ方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
PROCESS MONITORING DEVICE USED FOR SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS, PROCESS MONITORING METHOD, AND SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS例文帳に追加
基板処理装置に用いられるプロセスモニター装置、プロセスモニター方法、および基板処理装置 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR MONITORING INDUSTRIAL PROCESS例文帳に追加
工業プロセスの監視方法及び監視システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR MONITORING INDUSTRIAL PROCESS例文帳に追加
工業プロセスを監視する装置および方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MONITORING COMPONENT MANUFACTURING PROCESS, AND COMPONENT WITH MONITORING FUNCTION例文帳に追加
部品製造工程のモニタ方法及びモニタ装置、モニタ機能付き部品 - 特許庁
PLASMA MONITORING DEVICE, PLASMA FILM FORMING PROCESS MONITORING DEVICE, AND METHOD OF CONTROLLING PLASMA TREATMENT PROCESS例文帳に追加
プラズマ監視装置及びプラズマ成膜プロセス監視装置、並びにプラズマ処理プロセスの制御方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR MONITORING MANUFACTURING PROCESS SYSTEM例文帳に追加
製造工程の監視システム及び監視方法 - 特許庁
QUALITY EVALUATING/PROCESS MONITORING METHOD OF CHEMICAL MEMBRANE AND QUALITY EVALUATING/PROCESS MONITORING SYSTEM OF CHEMICAL MEMBRANE例文帳に追加
化成皮膜の品質評価/工程監視方法、及び、化成皮膜の品質評価/工程監視システム - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING WATER PURIFICATION PROCESS例文帳に追加
浄水プロセスの監視装置及び監視方法 - 特許庁
PROCESS CONDITION MONITORING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のプロセス条件モニタリング方法 - 特許庁
MONITORING METHOD, MONITORING DEVICE AND MONITORING PROGRAM OF MANUFACTURING PROCESS, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
製造プロセスの監視方法、監視装置及び監視プログラム並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁
AUTOMATIC PROCESS GROUPING AND PERFORMANCE MONITORING METHOD THEREOF例文帳に追加
プロセスの自動グループ化とその性能監視方法 - 特許庁
MONITORING AND CONTROLLING DEVICE FOR MANUFACTURING PROCESS, MONITORING AND CONTROL METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
製造プロセス監視制御装置と監視制御方法及び記憶媒体 - 特許庁
PROCESS MONITORING METHOD, INFORMATION PROCESSING APPARATUS AND PROGRAM例文帳に追加
プロセス監視方法、情報処理装置、及びプログラム - 特許庁
The scribe line 5 is provided with semiconductor elements 7 for monitoring the process and the electrode pads 11 for monitoring the process.例文帳に追加
スクライブライン5にプロセスモニタ用半導体素子7とプロセスモニタ用電極パッド11を備えている。 - 特許庁
METHOD FOR MONITORING AND CONTROLLING ETCHING PROCESS例文帳に追加
エッチングプロセス監視方法及びエッチングプロセス制御方法 - 特許庁
IMAGINARY IMPEDANCE PROCESS MONITORING AND INTELLIGENT SHUT-OFF例文帳に追加
虚数インピーダンス処理モニタリングおよびインテリジェント遮断 - 特許庁
MONITORING DEVICE, PROCESS FACILITY BASE, AND SUPERVISORY CONTROL DEVICE例文帳に追加
監視装置、プロセス設備基地および監視制御システム - 特許庁
INTENSIVE MONITORING PROCESS SPECIFICATION SUPPORT SYSTEM AND IMPROVEMENT PROCESS DECISION SUPPORT SYSTEM例文帳に追加
重点監視プロセスの特定支援システム、及び改善プロセス策定支援システム - 特許庁
The process monitoring device 30 transmits a process information acquisition request by defining the actual IP address corresponding to the process name of the process as the object of monitoring as destination.例文帳に追加
プロセス監視装置30は、監視対象となるプロセスのプロセス名に対応する実IPアドレスを宛先として、プロセス情報取得要求を送信する。 - 特許庁
FREQUENCY MONITORING FOR DETECTING PLASMA PROCESS ABNORMALITY例文帳に追加
プラズマプロセス異常を検出するための周波数モニタリング - 特許庁
MONITORING METHOD, PROCESS AND METHOD FOR PHOTORESIST REGENERATION例文帳に追加
フォトレジスト再生に関する監視方法、プロセス及び方法 - 特許庁
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