「reflection measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MEASURING DEVICE OF REFLECTION TYPE OPTICAL ELEMENT AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

反射型光素子の測定装置およびその測定方法 - 特許庁

REFLECTION DAMPING AMOUNT MEASURING DEVICE AND REFLECTION DAMPING AMOUNT MEASURING METHOD BY USE OF THE SAME例文帳に追加

反射減衰量測定装置およびこれを用いた反射減衰量測定方法 - 特許庁

MEASURING DEVICE USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION, AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

全反射減衰を利用した測定装置及びその測定方法 - 特許庁

REFLECTION CHARACTERISTICS MEASURING DEVICE, METHOD THEREFOR, AND SPECTRAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE例文帳に追加

反射特性測定装置および該方法ならびに分光特性測定装置 - 特許庁

SENSOR UNIT, MEASURING METHOD AND MEASURING APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION例文帳に追加

全反射減衰を利用したセンサユニット，測定方法及び装置 - 特許庁

REFLECTION SPECTRUM MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

反射スペクトル測定方法及びその装置 - 特許庁

REFLECTION TYPE TERAHERTZ SPECTROMETRY SYSTEM AND MEASURING METHOD例文帳に追加

反射型テラヘルツ分光測定装置及び測定方法 - 特許庁

REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

反射特性計測装置および反射特性計測法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING RELATIVE POSITIONS OF SPECULAR REFLECTION SURFACE例文帳に追加

正反射面の相対位置を測定する方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING REFLECTION CHARACTERISTIC例文帳に追加

反射特性測定装置および反射特性の測定方法 - 特許庁

MEASURING APPARATUS UTILIZING TOTAL REFLECTION ATTENUATION AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

全反射減衰を利用した測定装置及び方法 - 特許庁

ULTRASONIC REFLECTION TYPE METHOD FOR MEASURING CONCENTRATION OF GAS AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

超音波反射式ガス濃度測定方法及び装置 - 特許庁

REFLECTION MEASURING GRADUATION AND PRODUCTION METHOD THEREOF例文帳に追加

反射測定目盛およびこの測定目盛の製造方法 - 特許庁

OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTION MEASURING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

光周波数領域反射測定方法および装置 - 特許庁

MEASURING METHOD USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION AND ITS DEVICE例文帳に追加

全反射減衰を利用した測定方法および装置 - 特許庁

MEASURING METHOD AND APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION例文帳に追加

全反射減衰を利用した測定方法および測定装置 - 特許庁

MEASURING DEVICE AND METHOD USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION例文帳に追加

全反射減衰を利用した測定装置及び方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR REFLECTION SHEET AND ITS BRIGHTNESS MEASURING DEVICE例文帳に追加

反射シートの評価方法及び輝度測定装置 - 特許庁

MEASURING METHOD AND APPARATUS UTILIZING TOTAL INTERNAL REFLECTION ATTENUATION例文帳に追加

全反射減衰を利用した測定方法および測定装置 - 特許庁

MEASURING UNIT USED IN MEASURING DEVICE UTILIZING TOTAL REFLECTION, METHOD OF MANUFACTURING MEASURING UNIT, AND MEASURING DEVICE UTILIZING TOTAL REFLECTION例文帳に追加

全反射光を利用した測定装置に用いられる測定ユニット、該測定ユニットの製造方法および全反射光を利用した測定装置 - 特許庁

To provide a method and an instrument capable of precisely measuring crystallization degree by accurately measuring the reflection factor of polycrystalline silicon, and further of being applicable also in precisely measuring the reflection factor of other substances.例文帳に追加

多結晶シリコンの反射率を精度良く測定することにより、その結晶度合いを正確に測定できる方法、装置を提供する。 - 特許庁

REFLECTION WAVELENGTH MEASURING METHOD AND PHYSICAL QUANTITY MEASURING METHOD FOR OPTICAL FIBER GRATING例文帳に追加

光ファイバグレーティングの反射波長測定方法及び物理量測定方法 - 特許庁

FLOW RATE MEASURING METHOD OF REFLECTION-CORRELATION/DOPPLER TYPE ULTRASONIC FLOWMETER例文帳に追加

反射相関／ドップラ式超音波流量計の流量測定方法 - 特許庁

REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS AND ITS CALIBRATION METHOD例文帳に追加

反射特性測定装置及び反射特性測定装置の校正方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DISTRIBUTION OF SPECULAR REFLECTION OF POINT IMAGE例文帳に追加

点像の鏡面反射光分布測定方法および測定装置 - 特許庁

SENSOR UNIT USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION, AND MEASURING METHOD例文帳に追加

全反射減衰を利用するセンサユニット及び測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING REFLECTION SPECTRUM例文帳に追加

反射スペクトルの測定方法および反射スペクトル測定装置 - 特許庁

MEASURING METHOD OF REACTION RATE COEFFICIENT IN ANALYSIS UTILIZING TOTAL REFLECTION ATTENUATION例文帳に追加

全反射減衰を利用した分析における反応速度係数の測定方法 - 特許庁

REFLECTION TYPE METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING BRILLOUIN SPECTRUM DISTRIBUTION例文帳に追加

反射式ブリルアンスペクトル分布測定方法および装置 - 特許庁

MEASURING APPARATUS AND MEASUREMENT METHOD OF COMPLEX DIELECTRIC CONSTANT IN SAMPLE BY MEASURING REFLECTION OF LIGHT例文帳に追加

光の反射測定による試料の複素誘電率測定装置及び測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE FOR DETERMINING TRANSMISSION CHARACTERISTICS AND/OR REFLECTION CHARACTERISTICS例文帳に追加

透過特性および／または反射特性を判定するための測定方法および測定装置 - 特許庁

ALIGNER, REFERENCE REFLECTION PLATE, CALIBRATION METHOD OF REFLECTANCE MEASURING SENSOR, AND MANUFACTURING METHOD OF MICRO DEVICE例文帳に追加

露光装置、基準反射板、反射率計測センサの校正方法及びマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁

LIQUID SENDING SYSTEM, LIQUID SENDING METHOD, FLOW CHANNEL UNIT AND MEASURING METHOD USING TOTAL REFLECTION RETURN LOSS例文帳に追加

送液装置、送液方法、及び全反射減衰を利用した測定方法、並びに流路ユニット - 特許庁

LIQUID SENDING SYSTEM, LIQUID SENDING METHOD, FLOW CHANNEL UNIT AND MEASURING METHOD USING TOTAL REFLECTION RETURN LOSS例文帳に追加

送液システム、送液方法、流路ユニット、及び全反射減衰を利用した測定方法 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for measuring reflection characteristics (reflection loss and reflectivity) of a submillimeter wave of a metal material sample with high accuracy.例文帳に追加

金属材料サンプルのサブミリ波反射特性（反射損失、反射率）を高精度に測定するための装置、及び方法を提供する。 - 特許庁

To widen an allowance region of a tilt angle of a specular reflection surface in a method for measuring relative positions of the specular reflection surface of an object 34 along a measurement line.例文帳に追加

測定線に沿う物体３４の正反射面の相対位置を測定する方法において、正反射面の傾斜角の許容範囲を広くする。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ILLUMINATION REFLECTION MODE IN SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場顕微鏡におけるイルミネーション反射モードの測定方法 - 特許庁

LIQUID FEED APPARATUS, ITS METHOD, AND MEASURING APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION例文帳に追加

送液装置及びその送液方法並びに全反射減衰を利用した測定装置 - 特許庁

To provide a shape measuring method capable of improving measurement accuracy by reducing the effects of multiple reflection.例文帳に追加

多重反射の影響を低減して測定精度を向上させた形状測定方法を提供する。 - 特許庁

LIQUID FEEDER, LIQUID FEED METHOD, AND MEASURING INSTRUMENT USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION例文帳に追加

送液装置及びその送液方法並びに全反射減衰を利用した測定装置 - 特許庁

To provide a measuring method of a reaction rate coefficient in analysis utilizing total reflection attenuation.例文帳に追加

全反射減衰を利用した分析における反応速度係数の測定方法を提供する。 - 特許庁

MEASURING APPARATUS USING TOTAL REFLECTION ATTENUATION, AND METHOD FOR IDENTIFYING SENSOR UNIT THEREOF例文帳に追加

全反射減衰を利用した測定装置及びそのセンサユニットの識別方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING REFLECTION LOST FROM LENS COATED WITH MULTILAYER OF DIELECTRIC MATERIAL例文帳に追加

誘電材料の多重層で被覆されたレンズから失われる反射を測定する方法 - 特許庁

NORMAL REFLECTION TYPE SURFACE SHAPE MEASURING METHOD AND DEVICE WITH CCD CAMERA例文帳に追加

ＣＣＤカメラによる正反射式表面性状測定方法及びその装置 - 特許庁

CALIBRATING METHOD OF MEASURING APPARATUS OF REFLECTION CHARACTERISTIC OF SHEET-LIKE SPECIMEN, AND CALIBRATION STANDARD PLATE USED FOR CALIBRATION例文帳に追加

シート状試料の反射特性測定装置の校正方法及び校正に用いられる校正基準板 - 特許庁