「reflection measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

SPECTRAL INTENSITY MEASURING DEVICE, CALIBRATION METHOD THEREFOR, SPECTRAL REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE, AND CALIBRATION METHOD THEREFOR例文帳に追加

分光強度測定装置およびその校正方法ならびに分光反射特性測定装置およびその校正方法 - 特許庁

REFLECTION CENTER WAVELENGTH MEASURING METHOD OF FIBER GRATING ELEMENT USING DISC TYPE VARIABLE WAVELENGTH FILTER AND MEASURING DEVICE USING IT例文帳に追加

ディスク型波長可変フィルタを用いたファイバグレーティング素子の反射中心波長測定方法及びその方法を用いた測定装置 - 特許庁

To provide an optical characteristic measuring apparatus and an optical characteristic measuring method having high accuracy in detecting angles of specular reflection.例文帳に追加

正反射角の高い検出精度を有する光学特性測定装置及び光学特性測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for measuring a depth value of a semiconductor joining of a substrate, using light modulation and light reflection measuring technology.例文帳に追加

光変調光反射測定技術を用いて、基板の半導体接合の深さの値を測定する方法。 - 特許庁

To provide method of temperature measurement capable of measuring the temperature of a measuring body (body to be treated) with high accuracy in a multiple reflection environment.例文帳に追加

多重反射環境において高い精度で被測定体（被処理体）の温度を測定することができる温度測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for measuring the distribution of specular reflection light, capable of measuring the distribution and evaluating unevenness in brightness on a sample surface.例文帳に追加

本発明の目的は、試料面上の光沢ムラ特性を評価できる鏡面反射光分布測定方法および装置を提供することである。 - 特許庁

To prevent measuring error and obtaining sufficient measuring precision when the reflection coefficient of a measuring object is low and a pattern having a higher reflection coefficient exists in the vicinity of the object, in an apparatus and a method for measuring the dimension of a pattern by obtaining an image with an optical microscope.例文帳に追加

光学式顕微鏡により画像を取得してパターンの寸法を測定する装置及び方法において、測定対象のパターンの反射率が低く、近傍に反射率のより高いパターンが存在する場合にも、測定ミスを防止でき充分な測定精度を得ることができるものを提供する。 - 特許庁

To suppress a fall in measurement precision of a total reflection damping angle due to incidence of stray light into a light receiving means in a measuring method and a measuring apparatus utilizing total reflection light.例文帳に追加

全反射光を利用した測定方法および装置において、受光手段への迷光の入射による全反射減衰角の測定精度の低下を抑制する。 - 特許庁

In a measurement method, a wavefront of light from the optical system to be inspected is measured by using a measuring device including a reflection member having a reflection surface for reflecting the light from the optical system to be inspected, a holding part for holding the reflection member, and a measuring optical system including a reference surface or a wavefront conversion element.例文帳に追加

被検光学系からの光を反射する反射面を有する反射部材と、前記反射部材を保持する保持部と、参照面又は波面変換素子を含む測定光学系とを有する測定装置を用いて、前記被検光学系からの光の波面を測定する測定方法を提供する。 - 特許庁

ALIGNING METHOD FOR PHOTODETECTOR, MANUFACTURING METHOD FOR PHOTODETECTOR MODULE, AND MEASURING METHOD FOR REFLECTION ATTENUATION OF OPTICAL CONNECTOR END FACE例文帳に追加

受光素子の調芯方法、受光素子モジュールの製造方法及び光コネクタ端面の反射減衰量測定方法 - 特許庁

To provide a device for measuring a terahertz wave which readily changes over between a transmission measuring method and a total reflection measuring method, and can perform measurement under stable measurement conditions.例文帳に追加

透過測定法と全反射測定法との間の切り替えが容易であって安定した測定条件で測定を行うことができるテラヘルツ波測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a photographic measuring target and a photographic measuring method that reduce troubles in removing noise due to sunlight reflection or the like and moreover make possible precise and automatic recognition of high luminance reflection of flash light at measuring points.例文帳に追加

太陽光反射等によるノイズの除去作業の手間隙を少なく抑えたうえで、フラッシュ光による計測点での高輝度反射を高精度で且つ自動的に認識することが可能になる写真計測用ターゲット及び写真計測方法を提供する。 - 特許庁

NON CONTACT CONTINUOUS MEASUREMENT METHOD OF FILM THICKNESS FOR STRIP SHEET MATERIAL, AND OPTICAL AXIS ALIGNING METHOD FOR REFLECTION-TYPE LASER MEASURING MEANS例文帳に追加

帯状シート材料の非接触連続膜厚測定方法及び反射型レーザー測定手段の光軸合わせ方法 - 特許庁

To provide a compact reflection damping amount measuring device and a measuring method therefor capable of easily measuring in a short time, providing excellent reproducibility and measurement precision, and providing measured values which agree to phenomenon, and having a simple configuration.例文帳に追加

容易に短時間に測定が可能で、再現性、測定精度が良く、その測定値が現象に対して一致した測定値であり、かつ簡易な構成で小型化された、反射減衰量測定装置および測定方法を提供する - 特許庁

The three-dimensional shape measuring apparatus uses a confocus detection method in which a measuring object is illuminated, reflection light is focus-detected with a line sensor (14) and the shape of the measuring object is measured.例文帳に追加

測定対象物を照明し反射光をラインセンサー(14)で焦点検出して測定対象物の形状計測を行う共焦点検出方式の３次元形状計測器である。 - 特許庁

To provide a height measuring device and a height measuring method for a projection, capable of accurately measuring the height of the projection by single setting regardless of the difference in reflection conditions of the respective projections.例文帳に追加

各々の突起物の反射条件の差違に関わらず、当該突起物の高さを単一の設定で正確に測定できる突起物の高さ測定装置および高さ測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reflection spectrum measuring method and apparatus capable of performing non-destrictive measurement without processing the surface of a sample.例文帳に追加

試料の表面の加工を行うことなく、非破壊測定を行うことができる反射スペクトル測定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

ERROR FACTOR DETERMINATION DEVICE, METHOD, PROGRAM, OUTPUT CORRECTION APPARATUS PROVIDED WITH RECORDING MEDIUM AND THE DEVICE, AND REFLECTION COEFFICIENT MEASURING APPARATUS例文帳に追加

誤差要因判定装置、方法、プログラム、記録媒体および該装置を備えた出力補正装置、反射係数測定装置 - 特許庁

ERROR FACTOR DETERMINATION DEVICE, METHOD, PROGRAM, OUTPUT CORRECTION APPARATUS PROVIDED WITH RECORDING MEDIUM AND THE DEVICE, AND REFLECTION COEFFICIENT MEASURING APPARATUS例文帳に追加

誤差要因測定装置、方法、プログラム、記録媒体および該装置を備えた出力補正装置、反射係数測定装置 - 特許庁

In this case, the network analyzer 2 measures the reflection coefficient of a measuring object by using a time domain gating method.例文帳に追加

その際、ネットワークアナライザー２は被測定物の反射係数をタイムドメインゲーティング法を用いて測定する。 - 特許庁

To provide a method of precisely and remotely measuring a rotation or inclination by attaching a simple, small reflection sensor to an object.例文帳に追加

物体に簡便で小型な反射センサーを取り付け、回転・傾斜を精密にリモート計測する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical measuring method for determining transmission characteristics and/or reflection characteristics of a large surface translucent object (1).例文帳に追加

大表面半透明物体（１）の透過特性及び／又は反射特性を判定するための光学測定方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING FILM THICKNESS OF REFLECTION FILM IN OPTICAL INFORMATION RECORDING MEDIUM, AND OPTICAL INFORMATION RECORDING MEDIUM THEREBY例文帳に追加

光情報記録媒体の反射膜膜厚測定方法及び膜厚測定器それによる光情報記録媒体 - 特許庁

To provide a method for directly measuring reflection lost from a lens coated with a multilayer of dielectric material.例文帳に追加

誘電材料の多重層で被覆したレンズから失われる反射を直接測定する方法を提供する。 - 特許庁

In this reflection damping amount measuring method for receiving reflection light generated when light coming out of a light source enters an object to be measured by a light detector to measure a reflection damping amount of the object to be measured, the light source consists of an ASE light source, and a light receiver consists of a measuring device for measuring optical power per wavelength.例文帳に追加

光源から出射した光が被測定物に入射する際に生じる反射光を、光検出器で受光して被測定物の反射減衰量を測定する反射減衰量測定方法において、前記光源はＡＳＥ光源からなり、かつ前記受光器は波長毎の光パワーを測定する測定器からなる反射減衰量測定方法および装置を用いる。 - 特許庁

To enable a method for measuring luminance performing both of the luminance control including surface reflection luminance and the luminance control excluding surface reflection luminance, and to enable proper intensity measurement in accordance with standards such as JIS and DICOM corresponding to executing QC.例文帳に追加

表面反射輝度を含めた輝度管理と含めない輝度管理とを両立して行うことができ、実施するＱＣに対応して、ＪＩＳやＤＩＣＯＭなどの規格等に準拠した適正な輝度測定を行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide a method for quantitatively measuring the reflection color unevenness of the antireflection layer of an antireflection film, and to provide an antireflection film significantly reduced in reflection color unevenness.例文帳に追加

反射防止フィルムの反射防止膜の反射色ムラを定量的に測定する方法を提供すること、及び反射色ムラが大幅に低減された反射防止フィルムを提供することにある。 - 特許庁

In the method of measuring the thickness of an object to be measured, the amplitude of the bottom surface reflection wave of an ultrasonic wave transmitted from an opposed side surface to the thin film of a thin film support body includes a larger characteristic than that of the interface reflection wave thereof.例文帳に追加

薄膜支持体の薄膜に対向する側の面から送信された超音波の底面反射波の振幅が境界面反射波の振幅よりも大きな特性を有する測定対象物の厚さを測定する方法である。 - 特許庁

DISTRIBUTION STATE OF SUPERCOOLING WATER AND ICE CORE.RATIO MEASURING METHOD UTILIZING DIFFERENCE BETWEEN LIGHT REFLECTION FACTORS, SOUND REFLECTION FACTORS, AND RADIO WAVE REFLECTION FACTORS OF SUPERCOOLING WATER, ICE CORE OF JET FLOW, IN SNOW FALL OF ARTIFICIAL SNOWFALL MACHINE AND OPERATION OF ARTIFICIAL SNOWFALL MACHINE UTILIZING IT例文帳に追加

人工降雪機の降雪における、噴射流の過冷却水と氷核の光反射率・音波反射率・電波反射率の相違を利用した、過冷却水と氷核の分布状況・比率の計測方法と、それを利用した人工降雪機運転の自動制御の方法。 - 特許庁

To provide a thermophysical property analyzer and a method for thermophysical property analysis hardly affected by the reflection light of a heating light in measuring the reflection light intensity of a detection light even when the thermophysical property of a sample is analyzed by irradiating the same surface of a measuring object with the heating light and the detection light.例文帳に追加

被測定物の同一面に加熱光及び検出光を照射して当該試料の熱物性を解析しても、検出光の反射光強度の測定において加熱光の反射光の影響を受け難い熱物性解析装置及び熱物性解析方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an eccentricity-measuring method and an eccentricity measuring instrument, capable of discriminating easily a reflection image of a measured face from a reflection image of a near face, and allowing precise measurement, in the measurement for assembled-up eccentricity in a small-sized optical system which includes a surface of a small apparent curvature radius.例文帳に追加

見かけ上の曲率半径が小さい面を含む小型光学系の組み上がり偏心測定において、被測定面の反射像と近接面の反射像との区別が容易で、かつ、高精度な測定が可能な偏心測定方法及び偏心測定装置を提供する。 - 特許庁

A method for analyzing a structure of a crystal comprises the steps of measuring a profile of two or more hkl reflections at a disposition of a symmetrical reflection with respect to a diffraction angle θ, and forming a measuring profile in which the profile of the hkl reflection is measured at a difference Δθ of the angle θ from a reference peak as an abscissa axis.例文帳に追加

２つ以上のhkl反射のプロファイルを回折角θに対して対称反射配置で測定し、hkl反射のプロファイルを基準ピークからの回折角θの差分Δθを横軸とする測定プロファイルを作成する。 - 特許庁

In the measuring method utilizing the attenuation of total reflection, the reaction on the sensor surface is measured by obtaining the measuring signal which fluctuates in the signal level corresponding to the light intensity.例文帳に追加

全反射減衰を利用する測定方法では、センサ面における試料の反応を、光強度に応じて信号レベルが変化する測定信号を取得することにより測定する。 - 特許庁

To provide a temperature measuring method capable of accurate temperature measurement by removing influence of reflection from the periphery, even if an emissivity of a measuring object is unknown.例文帳に追加

測定対象物の放射率が不明である場合でも、周辺からの反射の影響を除去して正確に温度測定可能な温度測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a thickness-measuring method for a sheet material, heightening the measurement accuracy, when using a non-contact thickness measuring device adapted to measure the thickness of a sheet material utilizing reflection of a laser beam.例文帳に追加

レーザー光の反射を利用してシート材料の厚みを測定できる非接触型厚み測定装置を用いる場合において、測定精度を高めることができるシート材料の厚み測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thickness measuring method by use of ultrasonic waves for extracting only reflection echoes based on thickness of an object automatically and measuring thickness of the object with high precision.例文帳に追加

対象物の厚みによる反射エコーのみを自動的に抽出でき、対象物の厚み測定を精度よく実施できる超音波による厚み測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring a concentration of a sample gas without requiring complicated signal processing and any hardware, and a small and inexpensive gas concentration measuring instrument of an ultrasonic reflection type, by using only the required minimum components.例文帳に追加

複雑な信号処理やハ−ドウェアを必要とせずに、サンプルガスの濃度を測定する方法、および、必要最小限の部品のみを用いることで安価かつ小型の超音波反射式ガス濃度測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring instrument and a measuring method capable of detecting Rayleigh light including feeble interface reflection information by the same one line of detection optical system, while measuring a feeble Raman scattered light by a detector, in order to impart the interface reflection information required for depth-directional analysis of a light transmissive thin film sample.例文帳に追加

光透過性の薄膜試料の深さ方向解析に必要な界面情報を付与するために微弱なラマン散乱光を検出器で測定しつつ、微弱な界面反射情報を含んだレイリー光を同一の１系統の検出光学系により検出可能な測定装置および測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic measuring instrument for measuring the flow rate distribution of an fluid under measurement using ultrasonic waves which can reduce the amount of calculation of correlation calculations by the reflection correlation measuring method, reduce the calculation time, and measure a large flow rate.例文帳に追加

超音波を用いて被測定流体の流速分布を測定する超音波測定器に関し、特に、反射相関測定方式による相関演算の演算量を減らし、演算時間を短くするとともに、大きな流速まで測定できる超音波測定器を提供する。 - 特許庁

By the distance measuring method and the laser distance measuring device, measurement light is divided into first measurement light and second measurement light, the first measurement light is applied to a first measurement point S1 of the measuring object 6, and then a position of a reflection point where optical path length of the first measurement light becomes equal to that of reference light is acquired.例文帳に追加

本発明に係る測距方法及レーザ測距装置によれば、測定光を第１測定光と第２測定光とに分割し、第１測定光を被測定物６の第１測定点Ｓ１に照射した上で、第１測定光と参照光との光路長が等しくなる反射点の位置を取得する。 - 特許庁

The color image forming apparatus takes note of a constant relationship between a strain amount in a detection waveform due to dispersed reflection light occurring when a general photosensor is used and an amount of measuring error and the detecting method is adopted which compensates the measuring error by measuring the strain amount.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明では、汎用のフォトセンサーを使用した場合に発生する拡散反射光による検出波形のひずみ量が測定誤差量と一定の関係があることに着目し、ひずみ量を計測して測定誤差を補正する検出方法を採用している。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus and measuring method in which, when measuring a piezoelectric property using photometry, reflection light can easily be prevented from being scattered with respect to radiation light and a measurement precision of piezoelectric deformation or piezoelectric property is higher than the prior arts.例文帳に追加

光学式測位法を用いて圧電特性を測定する際に、照射光に対する反射光の散乱を防ぐことが容易で、圧電変形や圧電特性の測定精度が従来よりも高い測定装置および測定方法の提供を図る。 - 特許庁

The flaw inspection method of the cast piece has a radiation step of radiating an electromagnetic wave toward the surface of the cast piece, a step of measuring the reflection intensity of electromagnetic waves reflected from the surface of the cast piece and a step of detecting a crack flaw of the cast piece, on the basis of the reflection intensity.例文帳に追加

本発明に係る鋳片欠陥検査方法は、電磁波を、鋳片の表面に向けて放射する放射工程と、鋳片表面で反射した前記電磁波の反射強度を測定する工程と、前記反射強度に基づき、割れの欠陥を検出する工程とを有することを特徴とする。 - 特許庁

In the film thickness measuring method, the film thickness of a resin film 12 formed on the surface of a metal band 10 is measured by receiving reflection light of infrared cast on the metal band 10 surface and operating the absorption amount of the reflection light by a resin film 12.例文帳に追加

金属帯１０の表面に形成された樹脂皮膜１２の膜厚を、金属帯１０の表面に投光させた赤外線の反射光を受光し、樹脂皮膜１２による反射光の吸収量を演算することで測定する膜厚測定方法である。 - 特許庁

The reflection type exposing method includes: a step of selecting a specified pattern, for example, a pattern of the smallest size for a trench mask or hole mask provided to the reflection type mask; and a step of measuring the mask size associated with the pattern.例文帳に追加

反射型露光方法は、反射型マスクに設けられるトレンチマスクまたはホールマスクにおいて、特定のパターン、例えば、最も寸法の小さいパターンを選択するステップと、当該パターンについてのマスク寸法を計測するステップとを含む。 - 特許庁