「scanning near field microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

CANTILEVER FOR SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場光学顕微鏡用のカンチレバー - 特許庁

SCANNER STRUCTURE FOR SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場光顕微鏡用スキャナ構造 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURE AS WELL AS SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場光学顕微鏡用のカンチレバーとその製造方法及び走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope capable of detecting a near-field signal with a superior S/N ratio.例文帳に追加

近接場信号を良好なＳ／Ｎで検出できる走査型近接場光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

PRECISION MACHINING METHOD USING NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場走査光学顕微鏡を用いた精密加工方法 - 特許庁

OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

光プローブとその製造方法および走査型近接場光顕微鏡 - 特許庁

SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROBE FOR IT例文帳に追加

近接場光学顕微鏡および近接場光学顕微鏡用探針 - 特許庁

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING HEAR-FIELD MICROSCOPE, AND PROBE FOR SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE MANUFACTURED BY THE SAME例文帳に追加

走査型近視野顕微鏡用プローブの製造方法とその製造方法によって作製された走査型近視野顕微鏡用プローブ - 特許庁

GENERATING METHOD OF NEAR-FIELD LIGHT, MASK FOR NEAR-FIELD EXPOSURE, NEAR-FIELD EXPOSING METHOD AND DEVICE, NEAR FIELD LIGHT HEAD, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND RECORDING/REPLAYING DEVICE例文帳に追加

近接場光の発生方法、近接場露光用マスク、近接場露光方法、近接場露光装置、近接場光ヘッド、近接場光学顕微鏡、記録・再生装置 - 特許庁

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING-TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

光導波路プローブおよびその製造方法、ならびに走査型近視野顕微鏡 - 特許庁

CALIBRATION METHOD FOR NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPE LASER PROCESSING DEVICE AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ニアフィールド走査光学顕微鏡レーザ加工装置の較正方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ILLUMINATION REFLECTION MODE IN SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場顕微鏡におけるイルミネーション反射モードの測定方法 - 特許庁

PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE例文帳に追加

近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope capable of corresponding to a sample large in dimensions and weight and scanning at high speed.例文帳に追加

寸法や重量が大きな試料に対しても対応でき、また、高速走査化が可能な走査型近接場光学顕微鏡。 - 特許庁

To provide a scanning optical near-field microscope capable of fast scanning and is capable of coping with respect to samples with large dimensions and weight.例文帳に追加

寸法や重量が大きな試料に対しても対応でき、また、高速走査化が可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SAME OPTICAL WAVEGUIDE PROBE例文帳に追加

光導波路プローブおよびその製造方法、並びにその光導波路プローブを用いた走査型近接場原子間力顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a function which applies an arbitrary horizontal magnetic field from an outside only onto the region near a sample.例文帳に追加

外部から試料近傍のみに任意の水平方向磁場を印加する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a precision laser machining method of a fine structure including an hyperfine structure using a near field scanning optical microscope (NSOM).例文帳に追加

近接場走査光学顕微鏡（ＮＳＯＭ）を用いた、超微細構造を含む微細構造の精密レーザ加工方法を提供する。 - 特許庁

SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR DETECTING ANGLE DEPENDENCE OF SCATTERING LIGHT THEREIN例文帳に追加

走査型近接場光学顕微鏡、走査型近接場光学顕微鏡における散乱光の角度依存性の検出方法 - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE DEVICE AND OPTICAL RECORDING MEDIUM REPRODUCING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL FIBER PROBE例文帳に追加

光ファイバプローブ、走査近接場光顕微鏡装置及び光記録媒体再生装置並びに光ファイバプローブの製造方法 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope which is capable of performing high-resolution observation without bringing a fine structure for generating or selectively transmitting near-field light into direct contact with a sample.例文帳に追加

近接場光を生成または選択的に透過させる微細構造を試料に直接接触させることなく、高分解能観察可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning near field optical microscope capable of detecting the angle dependence of scattering light generated by the coupling of the near field light from the tip part of a probe with a sample.例文帳に追加

プローブ先端部の近接場光と試料とのカップリングにより発生する散乱光の角度依存性を検出できる走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope apparatus capable of spectroscopic measurement and near-field measurement, in addition to conventional scanning probe measurement.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置によって、従来の走査型プローブ測定に加えて分光学的測定および近視野測定を行うことができる装置を提供すること。 - 特許庁

In the laser scanning microscope scanning an image field 4, the laser beam is deflected to a stop 6 arranged near the image field 4 in order to shut off the laser beam 1 if the laser beam 1 is not intended to be incident on the image field 4.例文帳に追加

結像領域（４）を走査するレーザ走査顕微鏡において、結像領域（４）に対するレーザ・ビーム（１）の入射が意図されなければ該レーザ・ビーム（１）を遮断すべく該ビームは結像領域（４）に近接して配置された絞り（６）に向けて偏向される。 - 特許庁

To provide a method for red-tuning the resonance frequency of a photonic crystal structure that includes a plurality of holes by using a near-field scanning optical microscope (NSOM) system.例文帳に追加

近接場走査型光学顕微鏡（ＮＳＯＭ）システムを用いて、複数のホールを有するフォトニック結晶構造の共振周波数を赤チューニングするための方法である。 - 特許庁

To provide a calibration method for near field scanning optical microscope laser processing device and a device thereof capable of performing combination from/to a NSOM probe and to an NSOM probe of laser beam efficiently.例文帳に追加

レーザ光のＮＳＯＭプローブへの、またＮＳＯＭプローブからの結合を効率よく行うニアフィールド走査光学顕微鏡レーザ加工装置の較正方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a measurement method of a scanning probe microscope for measuring a shape and optical characteristics of a sample using near field light without reducing a signal-to-noise ratio in a plasmon propagation beam SPM.例文帳に追加

本発明はプラズモン伝播形光ＳＰＭにおいて、信号対雑音比が低下させずに近接場光を用いて試料の形状と光学特性を測定する走査プローブ顕微鏡の測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope which can efficiently detect a scattering light spreading with a large angle, even if using a condenser lens of a relatively small numerical aperture.例文帳に追加

本発明は、比較的小さな開口数を持つ集光レンズを使用していても大きな角度で広がる散乱光を率よく検出することができるようにした走査型近接場光学顕微鏡を提供するを提供する。 - 特許庁

To provide an SNOM(scanning-type near-field optical microscope) that can be operated in air for obtaining a high-resolution SNOM image where the influence of scattered light from an area other than the tip of a probe has been eliminated as much as possible.例文帳に追加

探針先端以外からの散乱光の影響が極力排除された、従って高分解能なＳＮＯＭ像を得ることのできる、空気中で動作可能なＳＮＯＭを提供する。 - 特許庁

This scanning near-field optical microscope according to one embodiment includes means for illuminating a sample with light, scanning means for bringing a probe close to the sample and scanning the sample, a plurality of collecting optical systems with different optical axes for collecting the scattering light generated by the illumination, and a plurality of scattering light- detecting mechanisms set respectively the plurality of the collecting optical systems.例文帳に追加

本発明の一態様によると、試料に光を照射する手段と、試料にプローブを近接させ走査する走査手段と、照射により発生した散乱光を集光するもので、それぞれ、異なる光軸を持った複数の集光光学系と、前記複数の集光光学系にそれぞれ設けられた複数の散乱光検出機構とを有することを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁

The near field scanning optical microscope laser processing device is comprised of a laser beam source 110 generating a laser beam with the peak wavelength, an NSOM prove 110, a binding substrate 124 formed by materials substantially transmitting the laser peak wavelength, an NSOM mount holding the NSOM probe and the binding substrate controllably, an NSOM controller, and a photodetector combined optically with the NSOM mount.例文帳に追加

ピーク波長を有するレーザ光を発生するレーザ光源１１０と、ＮＳＯＭプローブ１１０と、レーザピーク波長をほぼ伝達する材料によって形成した結合サブストレート１２４と、ＮＳＯＭプローブおよび結合サブストレートを制御可能に保持するＮＳＯＭマウントと、ＮＳＯＭコントローラと、ＮＳＯＭマウントに光学的に結合される光検出器とを有する。 - 特許庁