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sem-5の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4件
After that, the pin hole 5 including a part 6 that is subjected to the overetching is measured and evaluated by a particle inspection machine and an SEM.例文帳に追加
その後、オーバーエッチングされた部分6を含むピンホール5をパーティクル検査機やSEMによって計測し評価する。 - 特許庁
The detection value is obtained for every incident position of an electron beam 2 to the sample 5, and SEM images are formed corresponding to the detected value.例文帳に追加
試料5に対する電子線2の入射位置毎に検出値を求め、その検出値に応じたSEM像を作成する。 - 特許庁
The particulate black composite oxide particles comprise 60 to 80 mass% cobalt and 0.1 to 5 mass% manganese and has an average primary particle diameter of 0.05 to 0.3 μm (as measured by observation with a scanning electron microscope (SEM)).例文帳に追加
60質量%〜80質量%のコバルトおよび0.1質量%〜5質量%のマンガンを含有し、SEM観察で測定した一次粒子平均径が0.05μm〜0.3μmであることを特徴とする粒状黒色複合酸化物粒子。 - 特許庁
A beam irradiation axis of an FIB lens barrel 1, a beam irradiation axis of an SEM lens barrel 2, and a first rotating axis of a rotatable table cross each other at almost a right angle at a sample observation position, the rotatable table has a support rotatable on the first rotating axis as a center; and the support connects a sample 5 to a translational mechanism which can be arranged at a sample observation position.例文帳に追加
FIB鏡筒1のビーム照射軸と、SEM鏡筒2のビーム照射軸と、回転可能な台の第一の回転軸が、試料観察位置でそれぞれが互いに略直交に交わり、回転可能な台が第一の回転軸を中心に回転可能な支持部を有し、支持部が試料5を試料観察位置に配置可能な並進機構と接続する。 - 特許庁
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