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test data generationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 155件
A program verifying tool installed in a computer has a program reading function 11 of reading the program for digital data casting stored in an HDD, and an automatic test pattern generation function 12 of interpreting a BML language and an ECMA script language of the program, detecting a branch caused by user operation in the program, and automatically generating a test pattern on the basis of the branch.例文帳に追加
このコンピュータにインストールされている番組検証ツールは、HDD内に格納されているデジタルデータ放送用の番組を読み取る番組読取機能11と、番組のBML言語およびECMAScriptの言語を解釈し、番組の中でユーザ操作に伴ない発生する分岐を検出しこの分岐に基づいて試験パターンを自動的に作成する試験パターン自動作成機能12を有している。 - 特許庁
In a differential signal test mode for evaluating the differential signals, a first control circuit of the differential signal output device makes a differential signal generation circuit generate the differential signals corresponding to data signals and output them to first and second transmission terminals corresponding to a first control signal, and a second control circuit of the differential signal output device stops the operation of a common mode signal generation circuit corresponding to a second control signal.例文帳に追加
差動信号を評価する差動信号テストモードにおいて、差動信号出力装置の第1の制御回路は、第1の制御信号に応じて、差動信号生成回路にデータ信号に応じた差動信号を生成させて第1および第2の送信端子に出力させ、且つ、差動信号出力装置の第2の制御回路は、第2の制御信号に応じて、コモンモード信号生成回路の動作を停止する。 - 特許庁
The IC tester gives a test pattern signal to a device to be measured, judges good or bad of the device by comparing the output data obtained from the device to be measured and the pattern signal of expected value, and makes an expected value pattern generation circuit 36 constituted with a hardware generate the expected value pattern signal.例文帳に追加
被測定デバイスに対してテストパターン信号を与え、該被測定デバイスから得られる出力データと期待値パターン信号との比較によって、当該被測定デバイスの良否を判定するICテスタであって、前記期待値パターン信号をハードウエアで構成された期待値パターン発生回路36から発生するICテスタ。 - 特許庁
The sub control part 400 of the game machine 100 further includes a performance information generation means generating a performance information signal indicating a control content related to the performance, and the game machine test data collection device 550 tests the game machine 100 by receiving the performance information signal from the sub control part 400 as well as the game control signal from the game control part 300.例文帳に追加
そして、遊技台100の副制御部400は、演出に関する制御内容を示す演出情報信号を生成する演出情報生成手段をさらに備え、遊技台試験データ収集装置550は、主制御部300からの遊技情報信号に加えて副制御部400からの演出情報信号を受信することにより遊技台100の試験を行う。 - 特許庁
The integrated circuit device is provided with a video signal generation unit 157 which outputs the image data as a video signal, a clock signal creation unit 158 which creates a clock signal of a high clock frequency as a dummy video signal, a selector 159 which selects either of the video signal or the clock signal, and a setting means which makes the selector 159 select the clock signal output in a test mode.例文帳に追加
本発明の集積回路装置は、画データをビデオ信号として出力するビデオ信号生成部157と、クロック周波数の高いクロック信号をダミービデオ信号として生成するクロック信号生成部158と、前記ビデオ信号または前記クロック信号のいずれかを選択するセレクタ159と、テストモード時にセレクタ159に前記クロック信号の出力を選択させる設定手段と、を具備した。 - 特許庁
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