「test data generation」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The built-in circuit generation processing part 24 generates the net list wherein the test circuit is built in the customer circuit, and outputs it as built-in circuit-included design data 25.例文帳に追加

埋め込み回路発生処理部２４は、顧客回路にテスト回路を繰り込んだネットリストを生成し、埋め込み回路込み設計データ２５として出力する。 - 特許庁

A clock generation circuit 5 supplies a clock signal TX_CK to a data transmission circuit 2 and supplies a clock signal RX_CK to a data reception circuit 3, for the purpose of a jitter proof test of a data transmission/reception circuit 1a.例文帳に追加

クロック生成回路５は、データ送受信回路１ａのジッタ耐力試験のためにデータ送信回路２へクロック信号ＴＸ＿ＣＫを供給し、データ受信回路３へクロック信号ＲＸ＿ＣＫを供給する。 - 特許庁

By a test request generation means 7, editing operation following operation content concerning change target data shown by differential operation data 4a, 4b, and 4c stored in a differential operation data storage means 4 is carried out on the default request 6a outputted from the default request generation means 6, and test requests 7a, 7b, and 7c are generated.例文帳に追加

さらに、テスト用リクエスト生成手段７により、デフォルトリクエスト生成手段６から出力されたデフォルトリクエスト６ａに対し、差分操作データ記憶手段４に記憶された差分操作データ４ａ，４ｂ，４ｃで示される変更対象データに関する操作内容に従った編集操作が行われ、テスト用リクエスト７ａ，７ｂ，７ｃが生成される。 - 特許庁

A module-after- correction test part 3 conducts the confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested by using the input database generation information 31 and input data generation information 32 and outputs the results as a database dump list 37 and an output information dump list 38.例文帳に追加

修正後モジュール試験部３は、入力データベース作成情報３１、入力データ作成情報３２を用いて試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト３７、出力情報ダンプリスト３８として出力する。 - 特許庁

A module-before-correction test part 1 conducts a confirmation test of a program (before correction) to be tested by using input database generation information 11 and input data generation information 12 and outputs the results as a database dump list 17 and an output information dump list 18.例文帳に追加

修正前モジュール試験部１は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を用いて試験対象プログラム（修正前）１５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト１７、出力情報ダンプリスト１８として出力する。 - 特許庁

Voice data for test generated by test voice data generation part 22, echo data recorded in an echo data recording part 24 and voice data of a speaker, recorded in a transmitted voice recording part 25 are analyzed and the operation parameter used when an echo suppressor 12 of an echo component suppression part 2 suppresses echo components is adjusted according to analysis results.例文帳に追加

試験用音声データ生成部２２により生成された試験用の音声データと、エコーデータ記録部２４に記録されているエコーデータと、送話音声記録部２５に記録されている話者の音声データとを分析し、その分析結果にしたがってエコー成分抑圧部２のエコーサプレッサ１２がエコー成分を抑圧する際に使用する動作パラメータを調整する。 - 特許庁

A data inversion circuit 16 stores an effect that ECC bit inversion data which can specify inversion of write ECC data generated by an ECC generation circuit 12 bit by bit are set up by write data to a test object address and an ECC section 14 by the CPU.例文帳に追加

データ反転回路16はＣＰＵにより検査対象アドレスとＥＣＣ部14への書込みデータによりＥＣＣ生成回路12が生成した書込みＥＣＣデータのビット毎に反転を指定できるＥＣＣビット反転データとが設定されると記憶する。 - 特許庁

Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.例文帳に追加

同様に、自動試験パターン生成ツールは、欠陥位置情報を用い、微小回路の指定部分内の同定された欠陥に対応する故障を検査するために特別に作成された試験データを生成し得る。 - 特許庁

At the time of data writing test to the EEPROM of a non- contact or contact type IC card, a writing data generation program and a command are transmitted from an IC card tester to the IC card (603).例文帳に追加

非接触型または接触型ＩＣカードのＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込み試験において、ＩＣカードテスタから、ＩＣカードに対して書き込みデータ発生プログラムおよびコマンドを送信する（６０３）。 - 特許庁

A serializer 105 is synchronized with the multiplied clock signal generated by the PLL circuit 107, and outputs a serial data of a serial-converted test pattern from a pattern generation part 102.例文帳に追加

シリアライザ１０５は、ＰＬＬ回路１０７が生成する逓倍クロック信号に同期しパターン発生部１０２からのテストパターンをシリアル変換したシリアルデータを出力する。 - 特許庁

The learning device 1 learning the prediction model for predicting an output of test databased on an importance level that is a ratio of a generation probability between training data that are input data of training sample data and the test data includes a learning part 12 learning the prediction model by the use of an importance level weighted loss function that is a loss function wherein the importance level is considered.例文帳に追加

訓練サンプルデータの入力データである訓練データと、テストデータとの生成確率の比である重要度に基づき、テストデータの出力を予測するための予測モデルを学習する学習装置１であって、重要度を考慮した損失関数である重要度重み付き損失関数を用いて予測モデルの学習を行う学習部１２を有する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing various semiconductor integrated circuit having different characteristics, and coping with diversification of an analog characteristic test by fulfillment of generation function of DAC data or the like.例文帳に追加

特性の異なる種々の半導体集積回路の試験を可能にすると共に、ＤＡＣデータの発生機能の充実化を図るなど、アナログ特性試験の多様化に対応できる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

When the self-diagnosis test is performed, the test signal generation unit 48 generates a test signal St by dividing and multiplying a frequency of a reference signal So generated by the reference oscillator 34 and at the same time, the DDS 40 generates a local frequency signal Sl based on the reference signal So, and frequency data and code data in a code data storage unit 46.例文帳に追加

自己診断試験の際に、テスト信号生成部４８は、基準発振器３４にて生成した基準信号Ｓｏの周波数を分周し逓倍することよりテスト信号Ｓｔを生成し、一方で、ＤＤＳ４０は、基準信号Ｓｏと符号データ格納部４６中の周波数データ及び符号データとに基づいてローカル周波数信号Ｓｌを生成する。 - 特許庁

The control means 2 has an aromatic selection part 2a instructing the aroma generation means 3 about the selection of the aromatics, an aroma generation method or the like on the basis of the aroma generating time setting data, individual data (the data of birth, a schedule, a reply of a physicological test or the like), weather data and other various set data inputted from the input means 4.例文帳に追加

上記制御手段２は、上記入力手段４から入力される芳香発生の時間設定情報、個人情報（生年月日，スケジュール，心理テストの回答等）、気候情報その他の種々の設定情報に基づき、芳香材の選択及び芳香の発生方法等を上記芳香発生手段３に指示する芳香材選択部２ａを有するものとした。 - 特許庁

The repetitive screen generation device 100 replaces the extracted display tag information in the display code 107 with the source tag information so as to set the source tag information as a source code 101 and the divided input data as test data 102.例文帳に追加

反復型画面生成装置１００は、表示コード１０７のうち抽出した表示タグ情報を、ソースタグ情報に置き換えてソースコード１０１とし、分離した入力データをテストデータ１０２とする。 - 特許庁

A test data generation part 3 generates pieces of parallel data TP1, TP2, TP3 for operating the flip-flops 11-13 and the flip-flops 21-23 as shift registers to be output to the serializers 101, 102, 103.例文帳に追加

テストデータ生成部３は、フリップフロップ１１〜１３およびフリップフロップ２１〜２３をシフトレジスタとして動作させるためのパラレルデータＴＰ１、ＴＰ２、ＴＰ３を生成してシリアライザ１０１、１０２、１０３へ出力する。 - 特許庁

A pattern generation part 5 generates information on the relation of input/output signals required for generating test data based on information on a function description stored in the component database 4.例文帳に追加

パターン生成部５はコンポーネントデータベース４に格納された機能記述に関する情報を元に、テストデータ生成に必要な入出力信号の関係等の情報を生成する。 - 特許庁

The test data generation device sets simulated documents 1 to 1000, and a simulated word a, word b and word c, and sets a total value of the word frequency of each word in a region 61A in a table 61.例文帳に追加

模擬的な文書１〜１０００と、模擬的な単語ａ、単語ｂ、単語ｃが設定され、各々の単語について、単語頻度の合計値がテーブル６１の領域６１Ａに設定される。 - 特許庁

The part 23 compares the reception data file 13 of an expected value, prepared by a transferring data generation part 21 with data to be received by new performance, with respect to the result of performance to individual CMIS services to automate verify the result of the test.例文帳に追加

テスト実行比較部２３は個々のＣＭＩＳサービスに対する実行結果に対して転送データ生成部２１で作成した期待値の受信データファイル１３と新たに実行して受信されるデータとを比較することによって、テスト結果の検証を自動化する。 - 特許庁

A pattern forcibly finishing circuit 31 stops generation of a test data before the finish of the test based on the FAILAND signal output selectively in response to the measuring mode by a selection circuit 23 and indicating that all the objective measuring devices are not acceptable, to finish the test forcibly.例文帳に追加

そして、セレクト回路２３が測定モードに応じて選択し出力するものであって、全測定対象デバイスが不合格であることを示すＦＡＩＬＡＮＤ信号によって、パターン強制終了回路３１が試験終了前に試験データの発生を中止し、試験を強制的に終了させる。 - 特許庁

The storage section then stores, as the image data, a test pattern for determining whether to correctly display a video image on the screen on the basis of the video signal, and the video signal generation section extracts a test pattern stored in the storage section and outputs it as a test pattern video signal.例文帳に追加

そして、前記記憶部は、前記画像データとして、前記映像信号に基づいて前記画面に正しく映像が表示されるか否かを判断するためのテストパターンを格納し、前記映像信号生成部は、前記記憶部に格納されているテストパターンを抽出してテストパターン映像信号として出力する。 - 特許庁

The WUSB device 12 includes test data generated by a PRBS generation part 126 in a payload part according to a test packet transmission request received from the WUSB host 11 and transmits a test packet to which an FCS capable of detecting a coding error of the payload part is added to the WUSB host 11.例文帳に追加

ＷＵＳＢデバイス１２は、ＷＵＳＢホスト１１から受信した試験パケット送信要求に応じて、ＰＲＢＳ生成部１２６によって生成された試験データをペイロード部分に含み、ペイロード部分の符号誤りを検出可能なＦＣＳが付加された試験パケットをＷＵＳＢホスト１１に送信する。 - 特許庁

At detection of obstacle, the obstacle generation situation of an electric switching machine is evaluated by setting set of measurement data D_1-D_N-3 of past is set to a reference group G_r and setting set of recent measurement data D_N-2-D_N to a test group G_t.例文帳に追加

障害検出時には、過去の測定データＤ_1，…，Ｄ_N-3の集合を基準グループＧ_rに設定し、最近の測定データＤ_N-2，…，Ｄ_Nの集合を試験グループＧ_tに設定して、電気転てつ機の障害発生状況が評価される。 - 特許庁

An information processor includes: generation means for transmitting data to a verification target from a description within a test bench program including a function of the verification target and for generating a data transmitting and receiving function to receive the data from the verification target; and implementation means for implementing the data transmitting and receiving function generated by the generation means and the function of the verification target in an emulator.例文帳に追加

検証対象の関数を含むテストベンチ・プログラム内の記述から検証対象へデータを送信すると共に、検証対象からデータを受信するデータ送受信関数を生成する生成手段と、生成手段で生成されたデータ送受信関数及び検証対象の関数をエミュレータに実装する実装手段と、を有することによって課題を解決する。 - 特許庁

To shorten simulation time and enhance debugging efficiency by efficiently generating the simulation data of a tester without transferring excess data regarding an optimized data generation system to generate data to be used for a test of a system LSI verified in logic simulation at a designing state.例文帳に追加

本発明は設計段階の論理シミュレーションで検証が行われたシステムＬＳＩのテストに使用するデータを生成するためのデータ最適化生成方式に関し，余分なデータを転送せずにテスタのシミュレーションデータを効率よく生成してシミュレーション時間の短縮化とデバッグ効率を向上することができることを目的とする。 - 特許庁

The personal computer 150 for parameter generation analyzes a test chart image read by a scanner 140, calculates the correction parameters, generates PDL data (print data described in a page description language) where the calculated correction parameters are embedded, and transmits the generated PDL data to an RIP device 120 via a network 160.例文帳に追加

パラメータ生成用PC150は、スキャナ140によって読み込まれたテストチャート画像を解析して、補正パラメータを算出し、算出した補正パラメータが埋め込まれたPDLデータ（ページ記述言語で記述された印刷データ）を生成し、生成したPDLデータを、ネットワーク160を介して、RIP装置120に送信する。 - 特許庁

The communication control part 14A rewrites the application data generated by the communication software 15 to false application data for performing an abnormality test of the communication protocol on the basis of the abnormality generation operation condition stored in the storage part 14D, and sends the false application data to the protocol stack 13.例文帳に追加

通信制御部１４Ａは、記憶部１４Ｄに記憶された異常発生動作条件に基づいて、通信ソフトウェア１５が生成したアプリケーションデータを通信プロトコルの異常試験を行うための擬似アプリケーションデータに書き換えるとともに、この擬似アプリケーションデータをプロトコルスタック１３に送る。 - 特許庁

A fuel consumption operation part 3 determines the fuel consumption of the test vehicle from the vehicle running energy quantity, and performs display or the like by a display data generation part 5 and an operation result display part 6.例文帳に追加

燃費消費量演算部３は、車両走行エネルギ量から試験車両の燃料消費量を求め、表示データ作成部５及び演算結果表示部６によって表示等を行う - 特許庁

The checking PC 600 receives data memory information about the PLC 300 after alarm monitoring system operation test from the PLC, and an intermediate file generation part 651 generates an intermediate file to store it in a memory 610.例文帳に追加

チェック用ＰＣ６００は、警報監視システム動作試験後のＰＬＣ３００のデータメモリ情報を、ＰＬＣから受信し、中間ファイル生成部６５１が、中間ファイルを生成してメモリ６１０に格納する。 - 特許庁

To provide a device and a method for monitoring partial discharge generation, reducing a data quantity of partial discharge in a charge lifetime test by a charge sample for evaluating insulation performance, and reducing a storage capacity for storing partial discharge data.例文帳に追加

絶縁性能を評価する課電試料による課電寿命試験での部分放電のデータ量が低減でき、部分放電のデータを記憶するための記憶容量が少なくて済む部分放電発生監視装置及び方法を提供する。 - 特許庁

By a default request generation means 6, request data for accessing a test target page are generated based on link identification information stored in a link identification information storage means 2, and the generated request data are outputted as a default request 6a.例文帳に追加

デフォルトリクエスト生成手段６により、リンク識別情報記憶手段２に記憶されたリンク識別情報に基づいてテスト対象ページにアクセスするためのリクエストデータが生成され、生成されたリクエストデータがデフォルトリクエスト６ａとして出力される。 - 特許庁

A plurality of test pieces where an echo generation source is specified in advance under a plurality of sampling conditions are inspected, echo waveform data are obtained, and the sampling conditions and the waveform data are stored in a database 11 as inspection information while they correspond each other.例文帳に追加

データベース１１には、複数の採取条件下で予めエコー発生源が特定された複数の試験片を検査してエコー波形データを得て採取条件と前記波形データとが対応付けられて検査情報として格納される。 - 特許庁

To prevent the image deterioration of a solid-state imaging apparatus by preventing the generation of false signals such as flares by preventing the incidence of a reflected light by a test pad on a CCD image section while enabling to perform a predetermined internal circuit setting and to extract a characteristics evaluation data by using the test pad.例文帳に追加

テストパッドを用いて所定の内部回路用設定や特性評価用データ抽出を可能としつつ、テストパッドによる反射光のＣＣＤイメ−ジ部への入射を防止してフレア等の疑似信号の発生を防止することにより、固体撮像装置の画像劣化を防止する。 - 特許庁

An edge generation unit 12, on the basis of the waveform data DW, generates a set pulse and a reset pulse which are asserted with the timing of the positive edge and negative edge of the test pattern signal, respectively, and outputs them to an RS flip-flop 14.例文帳に追加

エッジ生成部１２は、波形データＤＷにもとづき、テストパターン信号のポジティブエッジ、ネガティブエッジそれぞれのタイミングでアサートされるセットパルス、リセットパルスを生成し、ＲＳフリップフロップ１４に出力する。 - 特許庁

To a semiconductor tester 10 for general use constituted with test signal generation means 52, 53, 54 and 55, a data supply means, a data reading means, judging means and a control means 11, a special control signal generation means 12 and an interface means 13 for testing a semiconductor integrated circuit 16 incorporated BIST circuits 31 to 35 are provided.例文帳に追加

試験信号発生手段５２，５３，５４，５５、データ供給手段、データ読出手段、判定手段及び制御手段１１から構成される汎用的な半導体試験装置１０に対してＢＩＳＴ回路３１〜３５を内蔵した半導体集積回路１６を試験するための専用の制御信号発生手段１２及びインターフェイス手段１３を別個設けた。 - 特許庁

To provide: a generation method of pattern data for electron beam drawing, which can draw an excellent minute pattern without using a trial-and-error method by test drawing, in drawing a minute pattern using an electron beam drawing device; a proximity effect correction method used for it; and a pattern formation method using the data.例文帳に追加

電子線描画装置を用いて極小なパターンを描画する際、テスト描画による試行錯誤無しに、良好な極小パターンが描画できる電子線描画用パターンデータの作成方法及びそれに用いる近接効果補正方法、そのデータを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

The resource board also provides the logic and balanced signal paths needed to deliver clock signals to the respective PLDs and reduces the number of signals needed to communicate with external test equipment by implementing much of the pattern generation and data acquisition functionality needed to test an emulated circuit.例文帳に追加

リソースボードは、また、クロック信号を各ＰＬＤに配信するのに必要なバランスのとれた論理信号通路も提供し、更に、エミュレートされた回路を試験するのに必要な多くのパターン発生とデータ獲得機能を実行することによって外部の試験機器との通信を行うために必要な信号の数を減らす。 - 特許庁

To provide a pattern generator and capable of generating test pattern data by an interleave method without having to analyze or creating internal operations for pattern generation for each interleave operation, and to provide a pattern generating method.例文帳に追加

パターン生成のための内部演算をインターリーブ動作の各々に対して分析して作成しなくても、インターリーブ方式でテストパターンデータの生成が可能な半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus that reduces the number of unusable tester pins even when a pin multiplex function is used, and also reduces the number of processes for creating data necessary for generation of a test signal.例文帳に追加

ピンマルチプレクス機能を用いる場合であっても使用不可となるテスタピンの数を減らすことができ、且つ試験信号の生成に必要なデータ作成の作業工数を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Using test print (print P1 for confirmation and print P2 for color correction) created at a store terminal 1, a color correction data generation terminal 2 determines whether to generate color correction data or not based on the colorimetry result for print P1 for confirmation and generates color correction data based on the colorimetry result for print P2 for color correction.例文帳に追加

店舗端末１において作成されたテストプリント（確認用プリントＰ１及び色補正用プリントＰ２）を用いて、色補正データ生成端末２において、確認用プリントＰ１の測色結果に基づいて色補正データを生成するか否かを決定するとともに、色補正用プリントＰ２の測色結果に基づいて色補正データを生成する。 - 特許庁

A semiconductor memory provided with an access sequencer for simultaneously accessing a plurality of memory cells in the direction of data lines 111 to 114 and the direction of word lines 101 to 104 at the time of a write access to the memory array 100 of the above constitution and a test decoder 300 which is a control signal generation circuit improves write access processing efficiency and shortens test access time by using the test decoder 300.例文帳に追加

前記構成のメモリアレイ１００に対して、書込みアクセスにおいてデータ線１１１，１１２，１１３，１１４方向、及びワード線１０１，１０２，１０３，１０４方向に複数のメモリセルを同時にアクセスするアクセスシーケンサ、及び制御信号生成回路としてのテストデコーダ３００を設け、前記テストデコーダ３００を用いて、書込みアクセス処理効率の向上を図り、テストアクセス時間を削減する。 - 特許庁

When forming a correction table used in an image signal conversion part 60, a test image T including a plurality of density patterns output from a test image data generation circuit 64 is repeatedly formed twice at the interval of 1/2 of the circumferential length of a photoreceptor (interval of 180° being the rotational phase difference of the photoreceptor), and read by an image reading part 12.例文帳に追加

画像信号変換部６０で使用する補正テーブルを作成する際は、テスト画像データ発生回路６４から出力された複数の濃度パターンを含むテスト画像Ｔを感光体周囲長の１／２の間隔（感光体の回転位相差１８０度の間隔）を隔て２回繰り返して形成し、これを画像読取部１２に読み取らせる。 - 特許庁

It is inspected whether an image processing block 11 as an internal circuit of an image processing means 3 has errors or not by a test pattern generation block 10 provided in the first stage of a data path block of an image signal in the image processing means 3 and a CRC determination processing block 12 provided in the last stage of the data path block.例文帳に追加

映像処理手段３における映像信号のデータパスブロックの最初に備えられたテストパターン発生ブロック１０と、データパスブロックの最終段に備えられたＣＲＣ判定処理ブロック１２とにより、映像処理手段３の内部回路である画像処理ブロック１１の誤りの有無が検査される。 - 特許庁

By using data on the coloring nonuniformity of the test plate, the mesh gradation value of the color dissolution plate of the plate so that the coloring nonuniformity is considered locally in advance on the plate or the printing film depending on the generation place during printing.例文帳に追加

テスト版の着色不均等についてのデータを利用して、着色不均等が、印刷時におけるその発生場所に依存して局所的に版ないし印刷フィルムの上で予め考慮されるように、版の色分解版の網目階調値を修正する。 - 特許庁

A packet generation part 23 of an identification function verifying part 20 generates test packet data TPKT and outputs it to a switching part 16, by referring to a combination table 22 for specifying the combination of identifiers to be used for each packet classification and an identifier setting register 21 for specifying the value of each identifier.例文帳に追加

識別機能検証部２０のパケット生成部２３では、パケット種別毎に使用する識別子の組み合わせを規定する組み合わせテーブル２２と各識別子の値を規定する識別子設定レジスタ２１を参照し、試験パケットデータＴＰＫＴを生成して切換部１６に出力する。 - 特許庁