「wavefront method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD OF MEASURING WAVEFRONT ERROR, METHOD OF ADJUSTING WAVEFRONT ERROR, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

波面誤差計測方法、波面誤差調整方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR CALCULATING TWO-DIMENSIONAL WAVEFRONT ABERRATION例文帳に追加

二次元波面収差の算出方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION OF LASER LIGHT例文帳に追加

レーザ光の波面収差測定方法 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION MEASURING METHOD, CALIBRATION METHOD FOR WAVEFRONT ABERRATION MEASUREMENT SYSTEM, WAVEFRONT ABERRATION MEASUREMENT EQUIPMENT, AND PROJECTION EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

波面収差測定方法、波面収差測定系の校正方法、波面収差測定装置、及び投影露光装置 - 特許庁

WAVEFRONT SYNTHESIS SIGNAL CONVERTER AND WAVEFRONT SYNTHESIS SIGNAL CONVERSION METHOD例文帳に追加

波面合成信号変換装置および波面合成信号変換方法 - 特許庁

To provide a method of measuring wavefront aberration and a wavefront aberration measuring instrument with wavefront aberration measuring accuracy enhanced.例文帳に追加

波面測定精度を向上させた波面収差測定方法、及び、波面収差測定機を提供する。 - 特許庁

OPTICAL WAVEFRONT CONTROL PATTERN GENERATING APPARATUS AND OPTICAL WAVEFRONT CONTROL PATTERN GENERATING METHOD例文帳に追加

光波面制御パターン生成装置及び光波面制御パターン生成方法 - 特許庁

To reduce the time required for the evaluation of wavefront aberrations in a method and an apparatus for evaluating wavefront aberrations.例文帳に追加

波面収差の評価に要する時間を減少することである。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION例文帳に追加

波面収差測定装置及びその方法 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION MEASURING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

波面収差測定方法及びその装置 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION MEASURING APPARATUS, WAVEFRONT ABERRATION MEASURING METHOD, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

波面収差測定装置、波面収差測定方法、露光装置およびデバイス製造方法 - 特許庁

HOLOGRAM REPRODUCTION WAVEFRONT CORRECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

ホログラム再生波面補正方法および装置 - 特許庁

HOLOGRAM REPRODUCED WAVEFRONT CONTROL METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

ホログラム再生波面制御方法および装置 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION MEASURING DEVICE, WAVEFRONT ABERRATION MEASURING METHOD, EXPOSURE DEVICE, EXPOSURE METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF DEVICE例文帳に追加

波面収差計測装置、波面収差計測方法、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION MEASUREMENT METHOD, MASK, WAVEFRONT ABERRATION MEASUREMENT DEVICE, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

波面収差測定方法、マスク、波面収差測定装置、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

OPTICAL WAVEFRONT CONTROL DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

光波面制御装置およびその製造方法 - 特許庁

WAVEFRONT INFORMATION DETECTION APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION例文帳に追加

波面情報検出装置および検出方法 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION CORRECTION MIRROR AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

波面収差補正ミラーおよびその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR SELECTING SET OF INITIAL CLUSTER CENTERS, WAVEFRONT CLUSTERING METHOD例文帳に追加

初期クラスタセンタセット選択方法、ウエーブフロントクラスタリング方法 - 特許庁

TRANSMITTED WAVEFRONT MEASURING METHOD, REFRACTIVE-INDEX DISTRIBUTION MEASURING METHOD, METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL ELEMENT, AND TRANSMITTED WAVEFRONT MEASURING APPARATUS例文帳に追加

透過波面測定方法、屈折率分布測定方法、光学素子の製造方法、及び透過波面測定装置 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION MEASUREMENT METHOD AND DEVICE OF OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

光学系の波面収差測定方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION例文帳に追加

波面収差軌定機及び波面収差測定方法 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING WAVEFRONT ABERRATION, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

波面収差を低減する方法及びコンピュータプログラム - 特許庁

TRANSMISSION WAVEFRONT MEASURING METHOD OF BIREFRINGENCE OPTICAL ELEMENT例文帳に追加

複屈折性光学素子の透過波面測定方法 - 特許庁

To provide a wavefront detection system suitable for refraction aberration measuring for an eye and a wavefront detection method.例文帳に追加

眼の屈折収差測定に好適な波面検知システム及び波面検知方法を提供する。 - 特許庁

MEASURING DEVICE AND METHOD OF WAVEFRONT ABERRATION例文帳に追加

波面収差測定装置及び波面収差測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING WAVEFRONT ABERRATION例文帳に追加

波面収差評価方法および波面収差評価装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION例文帳に追加

波面収差測定装置及び波面収差測定方法 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION INSTRUMENTATION METHOD AND EQUIPMENT, AND ALIGNER例文帳に追加

波面収差計測方法及び装置、並びに露光装置 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION MEASURING METHOD, WAVEFRONT ABERRATION MEASURING DEVICE, PROJECTION EXPOSURE APPARATUS, AND MANUFACTURING METHOD OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

波面収差測定方法、波面収差測定装置、投影露光装置、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁

To provide a wavefront measuring method and a wavefront measuring device which can measure a wavefront of light properly with a simple constitution.例文帳に追加

簡便な構成でありながら、光の波面測定を適切に行うことを可能とした波面測定方法及び波面測定装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING TRANSMISSION WAVEFRONT ABERRATION OF LENS TO BE INSPECTED例文帳に追加

被検レンズの透過波面収差測定方法及び装置 - 特許庁

MEDICAL DIAGNOSTIC APPARATUS OF THREE-DIMENSIONAL DISPLAY BY WAVEFRONT CODING METHOD例文帳に追加

波面符号法による３次元表示医療診断装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASUREMENT OF WAVEFRONT SHAPE例文帳に追加

波面形状測定装置及び波面形状測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING WAVEFRONT SHAPE例文帳に追加

波面形状の測定方法及び波面形状測定装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR WAVEFRONT ABERRATION CORRECTION MIRROR, AND OPTICAL PICKUP例文帳に追加

波面収差補正ミラーの製造方法および光ピックアップ - 特許庁

To provide a method of measuring wavefront aberration and a wavefront aberration measuring instrument with wavefront aberration measuring accuracy enhanced even where an optical system is used in a wide wavelength band.例文帳に追加

広い波長域で使用する光学系であっても、波面測定精度を向上させた波面収差測定方法、及び、波面収差測定機を提供する。 - 特許庁

Each wavefront shape information in other domains excluding the improper domains A_1, A_2 is linked mutually by a synthetic aperture method to determine wavefront shape information of the whole transmission wavefront area, and an aberration of the transmission wavefront is determined based on the wavefront shape information of the whole transmission wavefront area.例文帳に追加

不適正領域Ａ_１，Ａ_２を除く他の領域の波面形状情報を、開口合成法により互いに繋ぎ合わせることにより、透過波面全域の波面形状情報を求め、この透過波面全域の波面形状情報に基づき透過波面の収差を求める。 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION MEASUREMENT SYSTEM, ALIGNER AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

波面収差測定装置、露光装置およびデバイス製造方法 - 特許庁

TRANSPARENT WAVEFRONT MEASURING APPARATUS, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

透過波面計測装置、露光装置及びデバイスの製造方法 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION MEASUREMENT APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

波面収差の測定装置、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

To provide a wavefront measuring method that can accurately calculate a transmitted wavefront of an indistinct area even if there is an indistinct area in interference fringes obtained through an optical element, and a wavefront measuring apparatus using the wavefront measuring method.例文帳に追加

光学素子を介して得られる干渉縞に不明瞭な部分がある場合でも、不明瞭の部分の透過波面を精度よく算出することができる波面計測方法及びそれを用いた波面計測装置を得ること。 - 特許庁

ADAPTIVE WAVEFRONT TYPE ADJUSTING SYSTEM AND METHOD FOR OPHTHALMOLOGIC OPERATION例文帳に追加

眼科手術用の適応型波面式調節システムおよび方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING WAVEFRONT ABERRATION, AND EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

波面収差測定装置、露光装置及び波面収差測定方法 - 特許庁

WAVEFRONT ABERRATION MEASURING DEVICE, METHOD OF CALIBRATING THE SAME, AND ALIGNER例文帳に追加

波面収差計測装置、該装置の校正方法、及び露光装置 - 特許庁