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走査型透過電子顕微鏡の英語
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英訳・英語 scanning transmission electron microscope
「走査型透過電子顕微鏡」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 41件
走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
走査型透過電子顕微鏡例文帳に追加
透過型および走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法例文帳に追加
ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置例文帳に追加
OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
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Weblio英和対訳辞書での「走査型透過電子顕微鏡」の英訳 |
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走査型透過電子顕微鏡
Weblio例文辞書での「走査型透過電子顕微鏡」に類似した例文 |
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走査型透過電子顕微鏡
a microscope which uses electron beams
a microscope that uses a visible ray, called an optical microscope
a way of using a microscope, called the Sump Method
to examine with a microscope
a micrometer microscope called {'kogukenbikyo'}
a photograph taken through a microscope
a photograph taken with the help of a microscope
a microscope of 1,000 diameters magnifying power
「走査型透過電子顕微鏡」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 41件
走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。例文帳に追加
To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed. - 特許庁
透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。例文帳に追加
To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system. - 特許庁
走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法例文帳に追加
COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
当該マイクロリアクターは、走査型透過電子顕微鏡での検査、250-300eV範囲での軟X線での検査等のため、光学顕微鏡と併用されて良い。例文帳に追加
The microreactor may be combined with an optical microscope in order to inspect by a scanning transmission type electron microscope and inspect by a soft X-ray in the range of 250-300 eV. - 特許庁
元素マッピング装置，走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法例文帳に追加
ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD - 特許庁
元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法例文帳に追加
ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD - 特許庁
元素マッピング装置、走査透過型電子顕微鏡及び元素マッピング方法例文帳に追加
ELEMENT-MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELEMENT-MAPPING METHOD - 特許庁
共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法例文帳に追加
CONFOCAL SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL TOMOGRAPHIC OBSERVATION METHOD - 特許庁
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