未試験の英語

これにより、未試験のウェハと試験済みのウェハとを、インプットカセットとアウトプットカセットとに分離して保持することができる。例文帳に追加

Thus, untested wafers and tested wafers can be separately stored in an input cassette and the output cassette. - 特許庁

ＥＬ素子未封入の状態でカレントコピー型の画素の欠陥の有無を試験することができる試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a testing method by which presence/absence of defects of current copy type pixels is tested in the state where an EL element is not enclosed. - 特許庁

測定対象外の試料を試験してしまうことを未然に防止することが可能な圧痕形成機構及び硬さ試験を提供する。例文帳に追加

To provide an indentation forming mechanism capable of preventing a sample other than a measuring object from being tested, and a hardness testing machine. - 特許庁

ウェハプローバが発信するロケーション・データをＩＣ試験装置が読み取り、ＩＣ試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するＩＣテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもＩＣ試験装置でそのロケーション・データを解読することができるＩＣテストシステムを提供する。例文帳に追加

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test. - 特許庁

分析用の試験テープ１２と、未使用の試験テープ１２の洗浄用の貯蔵コイル１４ならびに使用した試験テープ１２の巻付用の巻付コイル１８と、体液の塗布用の測定部位２２での試験テープ部分２０の曝露用のテープガイド部１６とを備える特に血糖試験用の試験テープユニットに関する。例文帳に追加

The test tape unit for especially testing blood sugar is equipped with an analyzing test tape 12, a storage coil 14 for washing an unused test tape 12, a winding coil 18 for winding the used test tape 12 and a tape guide part 16 for exposing the test tape part 20 at a measuring region 22 for coating body fluids. - 特許庁

本発明は、プログラマブルな条件でプログラム試験が行え、プログラムエラーの発生を未然に防ぐことができるプログラム装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラムを提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a program device, a program testing method and a program testing program capable of performing program testing with a programmable condition and prohibiting occurrence of a program error. - 特許庁

試験体の板厚が未知である場合、あるいは、試験体の板厚が場所によって変動する場合であっても、試験体の硬さを非破壊で、しかも、正確かつ迅速に評価することが可能な硬さ測定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for measuring a hardness of a specimen whereby the hardness can be correctly and speedily evaluated in a nondestructive manner even when a thickness of the specimen is unknown or when the thickness of the specimen varies depending on points. - 特許庁

ＤＵＴの試験パターンが格納されているメモリから出力される試験パターンを用いてＤＵＴの試験を行う半導体試験装置において、メモリを複数のエリアに分割し、このエリアのうち未診断エリアに格納されている試験パターンを診断済みエリアに移動させた後に未診断エリアを診断するメモリ制御部を備える。例文帳に追加

The semiconductor testing device which tests a DUT by using test patterns outputted from a memory storing DUT test patterns is provided with a memory control part which divides the memory into a plurality of areas, moves test patterns stored in undiagnosed areas to diagnosed areas and then diagnoses the undiagnosed areas. - 特許庁