テスト量の英語

ＢＡＳＴ技術を改良することで、テストデータ量およびテスト時間を削減する。例文帳に追加

To reduce the amount of test data and test time by improving the BAST techniques. - 特許庁

テストパターン長を短縮して、テストパターンデータ量の削減を可能にする。例文帳に追加

To reduce the test pattern length to allow the test pattern data quantity to be saved. - 特許庁

テストエリアの容量を最小限にとどめ、クロストークを考慮したテストパターンを記録する。例文帳に追加

To minimize the capacity of a test area and to record test patterns taking crosstalks into consideration. - 特許庁

テスト回路は、電源用キャパシタに所定量の電荷が蓄積されたときに、テスト信号を被テスト回路に供給することが好ましい。例文帳に追加

The test circuit preferably supplies the test signal to the circuit to be tested when the charge of the prescribed amount is accumulated in the power source capacitor. - 特許庁

前記検出手段は、読取テスト画像を複数テスト画像ブロックに分割し、各テスト画像ブロックの各色の位置のずれ量を検出する。例文帳に追加

The detecting means divides the read test image into a plurality of test image blocks, and detects an amount of displacement of each color of each of the test image blocks. - 特許庁

テストプログラムによるテスト作業の作業効率を高め、テスト作業用のメモリ容量を少なくすること。例文帳に追加

To increase working efficiency of test work by a test program, and to reduce memory capacity for the test work. - 特許庁

スキャンテストに必要なテストパタン数（クロック数）、メモリ容量及び処理時間を削減可能なスキャンテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scan test method for reducing the number of test patterns (the number of clocks), memory capacity and a processing period of time required for a scan test. - 特許庁

デコード回路を利用した組込みテストにおいて，テストデータ量を増やさずにテスト実行時間を短縮する。例文帳に追加

To reduce a test execution time without increasing the quantity of test data, in a built-in test using a decode circuit. - 特許庁