「テスト量」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

テストにおいて必要となるデータ量を削減することができるテストシステム、テスト方法およびテストプログラムを提供すること例文帳に追加

To provide a test system, a test method and a test program for reducing the amount of data necessary in a test. - 特許庁

Ｏ−リングテスト用定量サンプル例文帳に追加

QUANTITATIVE SAMPLE FOR O-RING TEST - 特許庁

ＢＡＳＴ技術を改良することで、テストデータ量およびテスト時間を削減する。例文帳に追加

To reduce the amount of test data and test time by improving the BAST techniques. - 特許庁

テストパターン長を短縮して、テストパターンデータ量の削減を可能にする。例文帳に追加

To reduce the test pattern length to allow the test pattern data quantity to be saved. - 特許庁

テストエリアの容量を最小限にとどめ、クロストークを考慮したテストパターンを記録する。例文帳に追加

To minimize the capacity of a test area and to record test patterns taking crosstalks into consideration. - 特許庁

テスト回路は、電源用キャパシタに所定量の電荷が蓄積されたときに、テスト信号を被テスト回路に供給することが好ましい。例文帳に追加

The test circuit preferably supplies the test signal to the circuit to be tested when the charge of the prescribed amount is accumulated in the power source capacitor. - 特許庁

前記検出手段は、読取テスト画像を複数テスト画像ブロックに分割し、各テスト画像ブロックの各色の位置のずれ量を検出する。例文帳に追加

The detecting means divides the read test image into a plurality of test image blocks, and detects an amount of displacement of each color of each of the test image blocks. - 特許庁

テストプログラムによるテスト作業の作業効率を高め、テスト作業用のメモリ容量を少なくすること。例文帳に追加

To increase working efficiency of test work by a test program, and to reduce memory capacity for the test work. - 特許庁

スキャンテストに必要なテストパタン数（クロック数）、メモリ容量及び処理時間を削減可能なスキャンテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scan test method for reducing the number of test patterns (the number of clocks), memory capacity and a processing period of time required for a scan test. - 特許庁

デコード回路を利用した組込みテストにおいて，テストデータ量を増やさずにテスト実行時間を短縮する。例文帳に追加

To reduce a test execution time without increasing the quantity of test data, in a built-in test using a decode circuit. - 特許庁

電子式電力量計のテスト方法及び電子式電力量計例文帳に追加

TEST METHOD FOR ELECTRONIC WATTHOUR METER AND ELECTRONIC WATTHOUR METER - 特許庁

第１テストクーポンと、第１テストクーポンよりも長さが大きい第２テストクーポンとを用意し、上記第１テストクーポン及び第２テストクーポンのそれぞれの信号減衰量をそれぞれ同じ条件で測定し、上記第２テストクーポン及び上記第１テストクーポンのそれぞれの減衰量の測定値の差を信号減衰量の測定値とする。例文帳に追加

The first test coupon and the second test coupon which is longer than the first test coupon are prepared, and each signal attenuation amount of the first test coupon and the second test coupon is measured, respectively, under identical condition, and the difference between measured values of each attenuation amount of the second test coupon and the first test coupon is used as a measured value of the signal attenuation amount. - 特許庁

複数の入力信号線のテストパターンファイルを一つのテストパターンファイルにデータ圧縮し、テストパターンファイルの記録媒体における占有量を減少させるシミュレーションテストベンチ生成を可能とする。例文帳に追加

To make generatable a simulation test bench capable of compression test pattern files of plural input signal lines into one test pattern file thereby reducing the occupied quantity of the test pattern file in a recording medium. - 特許庁

ランド90に予め定めた記録光量でテストパターン96を記録し、グルーブ92,94に種々の記録光量でテストパターン98,99を記録する。例文帳に追加

A test pattern 96 is recorded on a land 90 with a predetermined recording light quantity, and test patterns 98 and 99 are recorded on grooves 92 and 94 with various recording light quantities. - 特許庁

このときに、テスト領域毎の複数色の量子化ステップは、個別のテスト領域毎の量子化色の各色数とは無関係に実行する。例文帳に追加

The step of quantizing the plurality of colors in each test area is performed irrespective of the numbers of quantized colors in the individual test areas. - 特許庁

量産テストの容易化を図るとともに量産テスト工数を削減できる半導体集積回路を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit which can easily carry out a production test and can reduce a production test man-labor. - 特許庁

ストレス・テスト（統計的手法でリスク量を計測している場合）例文帳に追加

13) Stress Tests (in the case where a statistical technique is used to measure the risk quantity)  - 金融庁

センサ３４は、テストパターンのトナー付着量を検知する。例文帳に追加

A sensor 34 detects the amount of deposited toner of the test pattern. - 特許庁

遅延テストパターンの量を削減する部分的拡張スキャン方法例文帳に追加

PARTIAL EXTENDED SCANNING METHOD REDUCING QUANTITY OF DELAY TEST PATTERN - 特許庁

Ｏ−リングテスト用定量サンプル及びその製造方法例文帳に追加

SAMPLE TO BE DETERMINED FOR O-RING TEST AND ITS METHOD OF MANUFACTURE - 特許庁

自己試験回路装置は、テストメモリ１２と、前記テストメモリより容量が大きいかまたは等しいテスト結果格納メモリ１３と、実使用周波数において前記テストメモリのテストを行って、そのテスト結果を前記テスト結果格納メモリに格納するように構成された制御回路１５とを具備する。例文帳に追加

The self test circuit device is provided with a test memory 12, a test result storage memory 13 of which the capacity is larger than the capacity of the test memory or is equal to the capacity, and a control circuit 15 constituted so that the test result is stored in the test result storage memory by performing a test of the test memory in the actual use frequency. - 特許庁

この配置は、チップ上のテスト・オンリーのハードウェアの量を低減し、複雑なテスト用ソフトウェアを書く必要性を低減する。例文帳に追加

The arrangement reduces the amount of test-only hardware on a chip and reduces the need to write complex testing software. - 特許庁

圧縮技術を用いて、小さな容量のデータフェイルメモリにテスト結果を格納することができる、半導体テストシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor test system capable of storing a test result in a small-capacity data fail memory by using a compression technique. - 特許庁

本発明は、半導体集積回路で使用するテスト素子の種類、数量を減らし、テスト素子形成領域を減少させることを目的とする。例文帳に追加

To reduce a test element formation region by reducing kinds and quantity of test elements used in a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

次に、テストパッチＰの上に、所定のトナー載り量の透明トナーを形成し、テストパッチＱを得る。例文帳に追加

Then a transparent toner in a predetermined toner deposition amount is formed on the test patch P to obtain a test patch Q, and the density of the patch Q is read by a color sensor. - 特許庁

本発明は、任意の大容量データを送信可能なテストフレーム構成装置及びテストフレーム構成方法の提供を目的とする。例文帳に追加

To provide a test frame composition device and a test frame composition method which can transmit arbitrary large capacity data. - 特許庁

テストトーン信号によりスピーカのチェックをするとき、そのチェック時におけるテストトーンの音量を適正値に設定する。例文帳に追加

To set the sound volume of a test tone during a check of a speaker to a proper value when the speaker is checked with a test tone signal. - 特許庁

また、テストに必要な箇所のプログラムのみを入力するため、テスト作業用のメモリ容量を少なくすることが可能となる。例文帳に追加

Because inputting only the program of a part necessary for the test, the memory capacity for the test work can be reduced. - 特許庁

自己発熱量を調整しつつウエハ一括テストが可能な半導体装置および半導体装置のテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device which can be subjected to a collective wafer test, while the self-heating value of the device is being adjusted. - 特許庁

そして入力信号にテストパルスを重畳させ、また該テストパルスに対して単位遅延量を持つ比較用パルスを発生させる。例文帳に追加

A test pulse is superposed on the input signal, and a comparison pulse having the unit delay amount to the test pulse is generated. - 特許庁

スキャンベースの集積回路中のＡＴＥでのテストデータ量およびテスト適用時間を削減する。例文帳に追加

To reduce a test data quantity and a test application time in an ATE (automatic test equipment) in a scan-based integrated circuit. - 特許庁

非破壊の電気測定が、テストストラクチャと関連する結合容量を決定するためにテストストラクチャから実行される。例文帳に追加

Non-destructive electrical measurements are taken from the test structures, to determine the coupling capacitances associated with the test structures. - 特許庁

Ｓ５５では、テスト音響の音量Ｖを所定量ΔＶだけ増加させて、Ｓ５２へ戻る。例文帳に追加

In S55, the sound volume V of test sound is increased only by specified amount ΔV and then returns to S52. - 特許庁

テスト体積量中のＣａＣＯ↓３含有量をｐＨ値の変化に基づいて決定する。例文帳に追加

The CaCO_3 content in a test volumemetric amount is determined based on a change of the pH value. - 特許庁

テストパターンのレイアウトはテストパターンのプリントで可能な限り少ない量のプリント媒体しか消費しないように、あるいはテストパターンから得られる測定結果の精度を最大にするように最適化する。例文帳に追加

The layout of the test pattern is optimized such that the print medium may be consumed at the minimum when printing the test pattern or the maximal measurement precision may be obtained from the test pattern. - 特許庁

ユーザは、テスト画像５０Ａ上で、ＣのテストパターンとＫのテストパターンが重なって、Ｃの色目が消えている列を目視確認することにより、補正量を把握することができる。例文帳に追加

A user can grasp correction amount by visually confirming a line where the C test pattern is superposed on the K test pattern and C color disappears on the image 50A. - 特許庁

結果評価回路（３０／３１，４０，５０）は、テストデータと同じデータ量を有してスキャンインデータに含まれるスキャンテストの期待値（Ｄ１，Ｄ２…）を取り込んでスキャンテストの結果を評価する。例文帳に追加

The outcome evaluation circuits (30/31, 40, and 50) takes in the expected value (D1, D2, ...) of the scan test with same amount of data as the test data that is contained in scan-in data to evaluate the outcome of scan test. - 特許庁

そして、第一のテストパターンと第二のテストパターンとのうち、単位面積当たりのインクの打ち込み量の少ない方のテストパターンに基いて記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。例文帳に追加

The ejection operation of the ink by the recording head 202 is controlled on the basis of the test pattern of the first test pattern and the second test pattern which has a smaller placement amount of the ink per unit area. - 特許庁

Ｉ／Ｏ構成の小さいＤＲＡＭのテスト時間の短縮とテスト工程の簡略化に役立つテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供し、入力容量の変化やばらつきを抑制する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory equipped with a test circuit whose I/O constitution is small and which is useful for shorting the test time of a DRAM and simplifying the test process, and to suppress the variation and dispersion of input capacity. - 特許庁

通常使用時と同じ信号経路を用いてセルフテストが実施でき、セルフテストＲＯＭのためにアドレス空間を重複させる必要がなく、セルフテストＲＯＭ容量を削減できるようにすること。例文帳に追加

To execute a self-test by using a signal path which is the same as that in its normal use, and to make it unnecessary to overlap an address space for a self-test ROM, and to reduce a self-test ROM capacity. - 特許庁

また、テストエリア１が使い尽くされたときに初めてテストエリア２が確保されるため、テストエリア１のみでレーザパワー調整を行える間は、再生専用光ディスクとの間で容量互換も維持することができる。例文帳に追加

Also, since the test areas 2 are secured for the first time when the test areas 1 are used up, the compatibility with capacity can be also maintained in between the reproduction exclusive optical disk, during the time the laser power is being adjusted by only the test areas 1. - 特許庁

テストパタンを記憶するテスターメモリ容量を最小限とし、かつＡＴＰＧによって生成された全てのテストパタンを再現可能なスキャンテストパタン入力方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scan test pattern input method capable of minimizing tester memory capacity for storing test patterns and reproducing all the test patterns created by ATPG. - 特許庁

テストプリントのサイズを小さくして消費量を少なくしコストを削減することが可能なテストプリント及びテストプリント測色装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test print that enables a cost reduction due to a reduced size and consumption, and a test print colorimeter. - 特許庁

テスト対象の集積回路の構成を変更する必要がなく、大容量のテストベクトルメモリも設けることなく、集積回路のテストを可能にする。例文帳に追加

To test an integrated circuit without changing the constitution of the integrated circuit of a testing object and without providing a large capacity of test vector memory. - 特許庁

テストパターン96のテストパターン98,99に挟まれた磁区80からの再生信号と、挟まれていない磁区82からの再生信号との差を、テストパターン98,99の記録光量毎に求める。例文帳に追加

The difference between a reproduced signal from a magnetic domain 80 sandwiched by the test patterns 98 and 99 of the test pattern 96 and a reproduced signal from an unsandwiched magnetic domain 82 is calculated for each recording light quantity of the test patterns 98 and 99. - 特許庁