「テスト量」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

体内での男性ホルモン（テストステロン）の生産量を減少させる目的で用いられる薬物。例文帳に追加

a drug used to reduce the amount of male hormone (testosterone) produced by the body.  - PDQ®がん用語辞書 英語版

さらに、この反射光の値から、テストパターン２のトナー付着量を検出する。例文帳に追加

The amount of sticking toner of the test pattern 2 is detected from a value of the reflected light. - 特許庁

大量印刷ジョブにおけるテストパターンを挿入する印刷方法及びそれを用いたプリンタ例文帳に追加

PRINTING METHOD WITH TEST PATTERN INSERTED IN MASS PRINTING JOB, AND PRINTER USING THE SAME - 特許庁

この反射光の値から、テストパターン１のトナー付着量を検出する。例文帳に追加

The amount of sticking toner of the test pattern 1 is detected from a value of the reflected light. - 特許庁

これにより，例えばバーンインテスト工程で，各磁気ヘッドのＴＰＴＰを定量的に測定できる。例文帳に追加

Thus, TPTP of each magnetic head can be measured quantitatively, for example, at the burn-in test process. - 特許庁

ハードウェアの増加量が少ない簡易な構成で、高速のテスト波形を生成する。例文帳に追加

To generate a high-speed test waveform with a simple structure having a small increment of hardware. - 特許庁

Ｓ５７では、テスト音響のその時の音量Ｖに基づきスピーカのセットアップを実施する。例文帳に追加

In S57, a speaker is set up based on the sound volume V of the test sound at that time. - 特許庁

再度形成したテストパッチを用紙に転写し、転写残トナー量Ｄをセンサで検知する。例文帳に追加

The formed test patches are again transferred to sheets, and each of the transfer residual toner amount D is detected by a sensor. - 特許庁

濃硝酸中のＣｕ濃度から、テストピース表面のＣｕ付着量を検出する。例文帳に追加

From the concentration of Cu in the concentrated nitric acid, a Cu adhesion quantity on the test piece surface is detected. - 特許庁

診断テストのための乗物用エンジンへの燃料の正しい流量の決定方法例文帳に追加

PROCESS FOR DETERMINATION OF CORRECT FUEL FLOW RATE TO VEHICLE ENGINE FOR CARRYING OUT DIAGNOSTIC TEST - 特許庁

インクジェット記録装置は、インク打ち込み量の異なる複数のテストパターンを記録する。例文帳に追加

The inkjet recorder records a plurality of test patterns with different impact amounts of ink. - 特許庁

これにより、電流消耗量の増加無しに半導体メモリ装置のテスト時間を短縮しうる。例文帳に追加

Thereby, a test time of the semiconductor memory can be shortened without increasing quantity of current consumption. - 特許庁

このテストパターンの印刷結果を調べることによって、各送り量の補正値を決定する。例文帳に追加

Correction value of feeding amount is determined by examining print results of the test pattern. - 特許庁

プログラムテスト用のデータを、必要な多様性を確保しつつ少ないデータ量で生成する。例文帳に追加

To generate data for a program test with a small data quantity while securing necessary versatility. - 特許庁

テストパターン領域のエッチング残渣が除去された時点で膜減り量の速度が顕著に変化する。例文帳に追加

When the etching residue of the test pattern region is eliminated, velocity of film reducing amount changes markedly. - 特許庁

多種多様のテストパターンの発生を小容量のメモリを利用して行う。例文帳に追加

To generate a variety of test patterns utilizing a small capacity memory. - 特許庁

不良品の見逃しリスクを減少しつつ、所定のテスト量を減らして製造コストを削減する。例文帳に追加

To cut down a manufacturing cost by reducing a predetermined test volume while decreasing a risk overlooking a defection article. - 特許庁

ＬＳＩのフルスキャン設計において、テスト端子を増加させずに、内部スキャンチェーンの構成を随時変更し、１回のスキャンシフト動作期間の大幅な短縮を行うことで、スキャンテストパターン量の大幅な削減とフルスキャンテスト時間の短縮を可能とする半導体テスト回路及びそのテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor test circuit for remarkably reducing an amount of a scanning test pattern and shortening a full scanning test time by modifying the constitution of an inside scanning chain at any time without increasing a test terminal and remarkably shortening a once-scanning shift action period in an LSI full scanning design, and to provide its test method. - 特許庁

本発明は、分析テストエレメントの過少配量の検出および必要な場合は過少配量の補償のための方法と、過少配量の検出に好適である分析装置およびテストエレメントを提供することである。例文帳に追加

To provide a method of detecting undersupply of a test element to be analyzed and a method of compensating for undersupply thereof if needed, and to provide an analyzing apparatus and a test element suitable for detecting undersupply. - 特許庁

テスト容器２には、テスト容器２内のオイルミスト濃度を検出する光学式オイルミストセンサ５と、テスト容器２内のオイルミスト濃度を重量法で測定する重量式オイルミスト測定装置１８とが設けられている。例文帳に追加

In the test vessel 2, there are provided an optical oil mist sensor 5 for detecting the concentration of the oil mist in the test vessel 2, and the oil mist measurement device 18 for measuring the concentration of the oil mist in the vessel 2 by the weight method. - 特許庁

位置調整用のテストパターンが形成された記録シートの表側から裏面のテストパターンを透かして読み取るときの光量を調整し、裏面のテストパターンの濃度レベルが所定値になるまで光量を増加させて読取を行う。例文帳に追加

A quantity of light for reading the image adjustment test pattern printed on the rear surface through from the front side of the recording sheet with the position adjustment test patterns formed is adjusted; and the light quantity is increased, until the density level of the test pattern printed on the rear surface reaches a prescribed value, and then, the test pattern on the rear surface is read. - 特許庁

本発明の目的は、測定チューブを流れる媒体に無関係に、機能的テストを実行することできるコリオリ質量流量計のテスト方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a test method of a Coriolis mass flowmeter capable of performing a functional test regardless of a medium flowing through a measuring tube. - 特許庁

オフトラック量印加部１１３にてオフトラック量を変化させて、複数のトラックにテスト信号発生部１０３からのテスト信号を記録する。例文帳に追加

A test signal from a test signal generating part 103 is recorded on plural tracks by changing the amount of offtrack in an offset amount impressing part 113. - 特許庁

新たな記憶装置を必要とせずまた記憶容量を増やさずに比較的大容量のテスト用画像データを内部に保存可能であり、テスト用画像データを比較的高速で読み出すことのできる画像出力装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image output device capable of storing relatively mass image data for test inside without needing a new storage device and without increasing the storage capacity and relatively fast reading out the image data for test. - 特許庁

前記調整手段は、テストエリアの未使用量を検出する検出手段と、検出された未使用量に応じて、調整に使用されるテストエリアおよび調整する記録パラメータを選択する選択手段と、を有する。例文帳に追加

The adjusting means have a detection means to detect an unused amount of the test area, and a selection means to select a test area to be used for adjustment and a recording parameter for adjustment in accordance with the detected unused amount. - 特許庁

現像バイアスの現設定値VB0を記憶し、VB0でテストパッチを作像し、付着量センサでテストパッチと付着量0の各検知出力Vsc、Vsgcを得る（Ｓ３３，３４）。例文帳に追加

The present set value VB0 of developing bias is stored, a test patch image is formed at the set value VB0, and respective detection outputs Vsc and Vsgc on the test patch and the adhesive amount 0 are obtained by the adhesive amount sensor (S33 and 34). - 特許庁

また、液体中のアナライトを定量するための、この分析用テストエレメントの使用、ならびにこの分析用テストエレメントを用いた、液体中のアナライトを定量する方法。例文帳に追加

A method is provided which uses this analytical test element, to determine analytes in a liquid and analytes in the liquid with the aid of this analytical test element. - 特許庁

記録ヘッド１２４を用いてテストパターンの形成処理を行い、当該テストパターンから、記録ヘッド１２４の記録素子ごとのドット形成位置の変動量を変動量検出部１２８で検出する。例文帳に追加

A forming processing of a test pattern is performed by using a recording head 124, and the amount of variation of dot forming position is detected for each recording element of the recording head 124 by a variation amount detecting part 128 from the test pattern. - 特許庁

検査対象に係る不良比率と、全テスト量のうち実行されたテスト量の割合を示す網羅率を、計測手段３ａ、３ｂにより計測する。例文帳に追加

A defect ratio related to an inspection target, and a covering rate showing a ratio of an executed test amount of the whole test amount are measured by measurement means 3a, 3b. - 特許庁

判定部は、遅延量が同じ条件でテストデータを複数回取得し、所定の遅延量でテストデータを取り込んだときの信号値の信頼性を判定する。例文帳に追加

A decision unit acquires the test data for a plurality of times with the same condition of the delay amount to determine reliability of a signal value when the test data is fetched with a predetermined delay amount. - 特許庁

試し書き領域にテスト信号を記録するとき光ビームをテスト信号の記録開始位置よりも内周側へ移動させてトラッキング制御動作を行うとともに対物レンズ４の変位量を検出し、かかる検出動作により検出された変位量が所定範囲内にあるときテスト信号の記録開始位置よりテスト信号の記録動作を行う。例文帳に追加

When a test signal is recorded onto a trial write area, a light beam is moved toward an inner circumferential side from a recording start position of the test signal for tracking control, a displacement amount of an objective lens 4 is detected, and when the displacement amount detected by the detection operation is within a prescribed range, the test signal is recorded from the test signal recording start position. - 特許庁

セットアップ用テストプリントの搬送において送り量誤差が発生しても、セットアップ用テストプリント全体を長くすることなく、各帯体の濃度をそれぞれ測定することが可能なセットアップ用テストプリントおよび写真処理装置を提供する。例文帳に追加

To provide a setup test print capable of measuring the density of each band without increasing the entire setup test print regardless of an error in the amount of conveyance of the setup test print, and to provide a photo-processing apparatus. - 特許庁

ＤＲＡＭやＳＲＡＭやＦＬＡＳＨなどの半導体メモリにおいて、容量やＩ／Ｏ数などが変更されたとき容易にテストパターンプログラムを自動生成できるようにしたＬＳＩテストパターンプログラム自動生成方法およびその装置並びにＬＳＩテスト方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide an automatic generating method for a LSI test pattern program which can generate automatically a test pattern program easily when capacity, the number of I/O, and the like are changed, its device, and a LSI test method, in a semiconductor memory such as a DRAM, a SRAM, a FLASH, or the like. - 特許庁

不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、ＩＯ数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO. - 特許庁

スキャンブロックと非スキャンブロックが混在する集積回路のテストにおいて、スキャンブロックをアイソレーションするために、制御が容易でかつハードウェア量の少ない集積回路のテスト方法およびテスト回路を提供する。例文帳に追加

To provide an integrated circuit testing method and an integrated circuit testing circuit allowing easy control and requiring less hardware for isolating a scan block in testing on an integrated circuit in which the scanning block and a non-scanning block are mixed. - 特許庁

燃料供給ラインの流量異常を検知し、燃料ポンプの焼付きを防止でき、テスト終了後の燃料漏出を防止出来るエンジンテストベンチの燃料配管の構造及び、エンジンテストベンチの運転方法の提供。例文帳に追加

To provide a structure of a fuel line for an engine test bench capable of detecting an abnormal flow rate in a fuel feed line, capable of preventing a fuel feed pump from burning and sticking, and capable of preventing fuel from leaking out after the finish of a test, and a method for operating the engine test bench. - 特許庁

高温テスト及び低温テストを実施するハンドラにおいて、一度に大量の半導体装置の高温化又は低温化を可能とし、装置全体としての高速処理を実現した高低温化ユニット及び高低温化テストハンドラを提供する。例文帳に追加

To provide a temperature heightening/lowering unit and a temperature heightening/lowering test handler, that increase or decrease temperatures of a large amount of semiconductor devices at a time, and achieve a high-speed processing as the whole system. - 特許庁

高温テスト及び低温テストを実施するハンドラにおいて、一度に大量の半導体装置の高温化又は低温化を可能とし、装置全体としての高速処理を実現した高低温化装置及び高低温テストハンドラを提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for raising/lowering a temperature which raises or lowers the temperature of numerous semiconductor devices at a time in a handler for performing high temperature test and low temperature test to realize high-speed processing as the whole apparatus, and also to provide the high and low temperature test handler. - 特許庁

このテストパターン像のトナー付着量を検出して、ライン面積率が１００％のときのトナー付着量を算出する。例文帳に追加

The amount of toner stuck to the test pattern image is detected to calculate a toner sticking amount when the line area ratio is 100%. - 特許庁

これによって、製造時のエラーの許容範囲に関して又は較正状態に関してコリオリ質量流量計をテストすることが可能となる。例文帳に追加

Thus, the Coriolis mass flowmeter can be tested with respect to a tolerance of errors during manufacturing or a calibration state. - 特許庁

（ａ）魚由来コラーゲン ０．００１〜１０質量％、（ｂ）テストステロン−５α−レダクターゼ阻害剤 ０．０００１〜５質量％を配合する養毛料。例文帳に追加

The hair tonic is obtained by formulating (a) 0.001-10 mass% collagen derived from fishes with (b) 0.0001-5 mass% testosterone-5α-reductase inhibitor. - 特許庁

半導体パラメトリックテストシステムを利用し、容量測定を高速に測定する容量測定システムを提供する。例文帳に追加

To measure a capacity at a high speed, using a semiconductor parametric test system. - 特許庁

画像形成装置、光量補正用テストチャートの出力方法及び光書き込みヘッドの光量補正装置例文帳に追加

IMAGE FORMING DEVICE, LUMINOUS ENERGY CORRECTION TEST CHART OUTPUT METHOD AND LUMINOUS ENERGY CORRECTION DEVICE FOR OPTICAL WRITING HEAD - 特許庁

ＭＯＳ容量テスト構造と、それに関連した、電圧の関数として容量曲線を測定するための方法例文帳に追加

TEST STRUCTURE FOR CAPACITANCE OF MOS AND METHOD FOR MEASURING CAPACITANCE CURVE AS FUNCTION OF VOLTAGE IN RELATION TO IT - 特許庁

ＭＯＳ容量テスト構造と、それに関連した、電圧の関数として容量曲線を測定する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test structure for a capacitance of an MOS and a method for measuring a capacitance curve as a function of voltage. - 特許庁