automatic test equipmentとは 意味・読み方・使い方

A distributed operating system for a semiconductor test system such as automatic test equipment (ATE) is described.例文帳に追加

自動テスト機器（ATE）のような半導体テストシステム用の分散オペレーティングシステムが記載されている。 - 特許庁

To provide a method and structure for protecting protected circuitry within automatic test equipment from electrostatic discharge (ESD).例文帳に追加

自動試験装置内の保護対象回路構成に対してＥＳＤ保護を提供する。 - 特許庁

A test can be executed on an ATE (automatic test equipment) by using a simple test vector, and is executed by a field engineer on a actual board provided with a chip.例文帳に追加

テストは、簡単なテストベクタを用いてＡＴＥ（自動試験装置）上で実行されえ、チップを備える実際のボード上でフィールドエンジニアによって実行されえる。 - 特許庁

To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.例文帳に追加

ＰＬＬ回路等を含むＬＳＩ中のデータ出力回路に対する自動テスト装置（ＡＴＥ）を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁

The structure 100 and method operable to provide ESD protection for protected circuitry 110 of automatic test equipment (ATE).例文帳に追加

自動試験装置の保護対象回路構成(110)に対するＥＳＤ保護を提供するよう動作可能な構成(100)及び方法である。 - 特許庁

To provide a method and system for synchronizing phases and frequencies between channels of automatic test equipment (ATE) even at different frequencies.例文帳に追加

異なる周波数でも可能な、自動テスト装置（ＡＴＥ）のチャネル間の位相と周波数同期化を提供することのできる方法およびシステムを提供する。 - 特許庁

This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置（ＡＴＥ）を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁

To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.例文帳に追加

通信機能を有するＰＬＣ実機若しくはＰＬＣエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁