加圧テストの英語

テストモード時に印加するテスト用電源電圧だけでモード選択と内部回路の動作限界評価を可能にする。例文帳に追加

To select a mode and to evaluate the limit of the operation of an internal circuit only with a testing source voltage applied in test mode. - 特許庁

電気回路構成は、ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されたときにそのことを自動的に検出し、その後、印加されたテスト電圧の検出に応答してボンド・パッド延長部のテスト・パッドを接続する。例文帳に追加

An electric circuit arrangement automatically detects when a test voltage is applied to the test pad of the bond pad extension, then connects the test pad of the bond pad extension in response to the detection of the applied test voltage. - 特許庁

半導体集積回路１００は、パワーアンプ１５と、パワーアンプ１５の異常発熱を検知してパワーアンプ１５を保護する熱保護回路と、テスト電圧を印加するテスト端子を有し、テスト電圧に応じて熱保護回路の動作テストを行うテスト回路１０と、制御電圧を印加する制御端子を有し、制御電圧に応じて内部回路の制御を行う制御回路１６と、を備える。例文帳に追加

The semiconductor integrated circuit 100 includes a power amplifier 15, the thermal protection circuit sensing an abnormal heating of the power amplifier 15 and protecting the power amplifier 15, a test circuit 10 having a test terminal for applying a test voltage and performing the operation test of the thermal protection circuit according to the test voltage, and a control circuit 16 having a control terminal for applying a control voltage and performing a control on an internal circuit according to the control voltage. - 特許庁

また、テスト時は、テスト回路１９のテストスイッチ１７をオンすると、電圧線３の電圧が直接、分圧回路８の分圧抵抗９、１０、１１に印加されて、分圧抵抗１１の両端電圧が上昇し検出回路１２が出力する。例文帳に追加

In testing, when a test switch 17 in a test circuit 19 is turned on, a voltage of a voltage line 3 is directly applied to voltage-dividing resistors 9, 10, 11 in a voltage-dividing circuit 8, the voltage across the voltage-dividing resistor 11 is raised, and the detection circuit 12 delivers an output. - 特許庁

テスト信号選択用のモードデコーダを設けなくて済んでテスト回路を簡略化することができるとともに、テスト回路のためのチップ面積の増加を最小限に抑えることができるヒステリシス電圧幅測定用のテスト回路およびそのヒステリシス電圧幅の測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test circuit for hysteresis voltage width measurement and a measuring method of the hysteresis voltage width capable of simplifying the test circuit by dispensing with installation of a mode decoder for test signal selection, and suppressing to the minimum the increase of a chip area for the test circuit. - 特許庁

電圧加速テストを行うベンダテストモードがエントリされるとベンダテスト回路から降圧電源回路１５，１６にローレベルのテスト信号ＴＭ１が入力され、トランジスタ１９がＯＮし、演算増幅器としての動作が停止となる。例文帳に追加

When a bender test mode conducting a voltage acceleration test is entered, a test signal TM1 at a low level is input to step-down power circuits 15, 16 from a bender test circuit, a transistor 19 is turned on, and operation as an operational amplifier is stopped. - 特許庁

上記ワークは、上記リークテストに先立って、加圧ヘリウム環境のタンクに数時間収容される。例文帳に追加

The works are put in a tank in a pressurized helium environment for several hours prior to leakage tests. - 特許庁

ＨＤＤ１に対するリーク・テスト時に、外気孔２０から例えば加圧気体を供給する。例文帳に追加

For example, pressurized gas is supplied from the outdoor air port 20 in a leak test to an HDD1. - 特許庁