水中において金属材料を摩擦及び摩擦に伴う力学的破壊を生じさせることにより金属材料の表面近傍の原子の化学反応性を増大させ、金属材料に対する水の腐食反応を加速させて水分子を分解し、これにより水素ガスを製造する。例文帳に追加

Gaseous hydrogen is produced by causing friction and dynamic destruction in water resulting from the friction on a metallic material to increase the chemical reactivity of atom in the vicinity of the surface of the metallic material to accelerate the corrosion reaction of water on the metallic material to decompose water molecule. - 特許庁

よって、吸着・脱離や化学反応などの前後で電子状態が変化する場合でも、その局所状態に応じてポテンシャル関数が変更され、分子動力学法が適用される。例文帳に追加

Therefore, even if the electron state is changed before and after adsorption, desorption or chemical reaction, the molecular dynamics can be applied while changing the potential function according to the local state. - 特許庁

核子あたり５０ｋｅＶ以下のエネルギーの重陽子又は陽子ビームを溶融金属リチウムの液体標的に注入する化学核融合では、液体中の熱力学的力によって反応レートが１０^１３倍以上増進するが、該液体中で水素化リチウムを生成する化学反応が競合するため金属リチウムが劣化し核融合増進効果が減殺される。例文帳に追加

To resolve a problem that fusion promotion effect is suppressed in a chemical fusion injecting deuteron or proton beam of energy of 50 keV or less per nuclide in liquid target of molten metal lithium because a chemical fusion reaction producing lithium hydride in the liquid competes, though a reaction rate increases to 10^13 times or more by a thermodynamic force in the liquid. - 特許庁

正極・負極での反応による物質変換（化学反応論）、ギプスエネルギーの変化（熱力学論）、正極・負極での化学反応と電子とのインターフェイス（電気化学理論）の３分野の学理の統合によって二次電池の充電動作を把握するとともに、この３分野の学理に基づき、二次電池の特性を勘案しながら、二次電池に固有の物性値を用いて、蓄電残量情報を正確に測定するように構成した二次電池の蓄電残量チェック装置を提供する。例文帳に追加

To provide a residual-quantity-of-accumulated-electricity checking device for secondary cells formed so as to measure a residual quantity of accumulated electricity of a secondary cell, using physical property values inherent in the secondary cell considering its characteristic. - 特許庁

高い位置決め精度を有する走査プローブ顕微鏡の探針2とフォトマスク上のパーティクル1間の力学的・電磁気学的な相互作用または化学反応を利用して転写に影響を与えるパーティクルをフォトマスク上からクリーンかつ確実に除去する。例文帳に追加

Particles influencing transfer are cleanly and absolutely removed from a photomask by using dynamic or electromagnetic interaction or chemical reaction between the probe 2 of a scanning probe microscope having high positioning accuracy and the particle 1 on the photomask. - 特許庁