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厚膜試料の英語
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英訳・英語 thick sample
「厚膜試料」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 120件
膜厚測定方法及び試料作製方法、並びに、膜厚測定装置及び試料作製装置例文帳に追加
COATING THICKNESS MEASURING METHOD AND DEVICE, AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD AND DEVICE - 特許庁
そして正範囲のピークで極小を与える膜厚をその試料膜の膜厚とする（Ｓ１０）。例文帳に追加
Then, the film thickness showing the minimal point with a peak in the positive range is adopted as the thickness of the sample film (S10). - 特許庁
そして、最小二乗誤差の極小点を与える膜厚をその試料膜の膜厚とする。例文帳に追加
The thickness of the film which gives the minimum point in the graph of the least square error, is regarded as the thickness of a sample film. - 特許庁
試料周りの構造が単純な装置で、蒸着による成膜中の試料膜厚を高精度かつ迅速に測定かつ制御する。例文帳に追加
To highly precisely and quickly measure and control the film thickness of a specimen in film production due to deposition by a device in which a structure around the specimen is simple. - 特許庁
分析試料を支持基板に固定した後、分析試料と支持基板表面に目的の分析深さと同等の厚さの均一な薄膜を形成し、支持基板上の薄膜が研磨される厚さまで分析試料を薄片化する。例文帳に追加
After an analytical sample is fixed to a support substrate, a uniform thin film having a thickness equal to an intended analysis depth is formed on the analytical sample and the support substrate surface, and the analytical sample is thinned up to a thickness where the thin film on the support substrate is ground. - 特許庁
ＣＭＰ加工後、膜厚を計測する際、試料を移動し、移動中の試料からの反射光の分光波形を連続的に検出することにより、短時間で比較的詳細な試料面内の膜厚分布を求める。例文帳に追加
At the time of measuring the film thickness of the sample after CMP processing, the relatively detailed in-plane film thickness distribution of the sample is found in a short time by moving the sample and continuously detecting the spectroscopic waveform of reflected light from the moving sample. - 特許庁
薄膜試料の膜厚測定を精度良く行うことができる膜厚モニタおよび膜厚測定方法を提供する。例文帳に追加
To provide a film thickness monitor and a method for measuring thickness of film which can accurately measure the thickness of thin film sample. - 特許庁
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「厚膜試料」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 120件
面分析において、試料上に形成された薄膜の膜厚をマップ画像表示する。例文帳に追加
To display the thickness of a thin film formed on a sample as a map image in a face analysis. - 特許庁
膜厚測定に用いる標準試料中のＬａを含む膜の保管時の安定性を向上させる。例文帳に追加
To improve stability of a film containing La, of a standard sample used for a film thickness measurement, during storage. - 特許庁
不純物濃度プロファイル測定方法および薄膜試料の膜厚測定方法例文帳に追加
METHOD FOR MEASURING IMPURITY CONCENTRATION PROFILE AND METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF THIN FILM MATERIAL - 特許庁
電子線の試料への入射エネルギーは試料の膜の厚さの２．５倍以上の飛程を有する。例文帳に追加
The impinging energy of the electron beam to the sample has a range of 2.5 times or more of the thickness of the film of the sample. - 特許庁
最小限の標準試料及び観察対象となる試料からそれぞれ得られる二次信号に関する最小限の検出結果から観察対象となる試料の膜厚を正確にかつ安定して測定することが可能な膜厚測定方法及び膜厚測定装置並びに試料作製方法及び試料作製装置を提供する。例文帳に追加
To provide a method and device for measuring a coating thickness capable of accurately and stably measuring the coating thickness of a sample to be observed from the minimum detection results related to a secondary signal obtained from the minimum standard samples and samples to be observed, and to provide a method and device for manufacturing the samples. - 特許庁
同一基板上に温度、組成、膜構成、膜厚などの製造因子が異なる微小形状試料が同時に多数形成されてなる薄膜試料において、個々の試料を切り離すことなく瞬時に微小試料の特性測定を行うことを目的とする。例文帳に追加
To instantaneously measure a characteristic of a microscopic sample without disengaging individual samples in a thin film sample simultaneously formed with a plurality of microscopic shape samples with different manufacturing factors such as temperature, composition, film composition, and film thickness on the same substrate. - 特許庁
多層薄膜が表面に形成された試料に対して、試料調整を行わず、同一元素が複数の層に含まれていても多層薄膜標準試料を用いず、試料の各層の組成と膜厚を算出する分析方法および装置を提供すること。例文帳に追加
To provide an analysis method and an analyzer for calculating the composition and thickness of each layer in a sample by neither adjusting the sample, where a multilayer thin film is formed on the surface, nor using multilayer thin-film standard samples, even if the same element is include in a plurality of layers. - 特許庁
この発明は、ファイバー試料の膜厚分布の精度を向上させることを目的としたものである。例文帳に追加
To improve the precision of the distribution of the film thickness of a fiber sample. - 特許庁
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