時間分解測定の英語

安価で高い分解能と精度を有する時間測定回路を提供する。例文帳に追加

To provide an inexpensive time measuring circuit having high resolution and accuracy. - 特許庁

時間分解測定装置および位置検出型電子増倍管例文帳に追加

TIME-RESOLVED MEASUREMENT APPARATUS, AND POSITION DETECTING ELECTRON MULTIPLIER TUBE - 特許庁

超音波式の流量測定構造を有するガスメーターにあって、超音波の伝播時間の検出にあたって、高時間分解能で測定を行うための高時間分解回路８ａと、低時間分解能で測定を行うための低時間分解回路８ｂとを備える。例文帳に追加

This gas meter having an ultrasonic flow rate measuring structure is provided with a high time resolution circuit 8a for performing measurement at high time resolution in detection of an ultrasonic wave propagation time and a low time resolution circuit 8b for performing measurement at low time resolution in detection of an ultrasonic wave propagation time. - 特許庁

発光（蛍光）現象の分光測定において、時間分解とスペクトル測定を同時に行う。例文帳に追加

To simultaneously perform a time-dissolved measurement and a spectral measurement in the spectrometry of a luminescent (fluorescent) phenomenon. - 特許庁

光周波数分解ストークスベクトル測定を短時間に、かつ高精度に測定する。例文帳に追加

To measure optical frequency resolution stokes vectors in a short time with high accuracy. - 特許庁

高い時間分解能でのトラフィック量の測定を可能とする測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a measuring apparatus for measuring the amount of traffic, with high time resolution. - 特許庁

スペクトラム拡散方式の距離測定装置に、測定対象時間を、相関器を用いて基準クロックの１周期を時間分解能として測定する粗測定回路２０と、粗測定回路２０で得られる測定時間に対する補正時間を測定する密測定回路３０とを設ける。例文帳に追加

This spectrum diffusion system distance measuring device is provided with a rough measurement circuit 20 for measuring the measurement object time taking one period of the reference clock as a time resolving power by a correlation device, and a close measurement circuit 30 for measuring the correction time for the measurement time obtained in the rough measurement circuit 20. - 特許庁

本発明の時間分解型表面分析装置は、試料の表面の状態を時間分解して測定する時間分解型表面分析装置であって、前記試料表面の構造を測定する構造測定手段と、前記試料表面の形状を測定する像測定手段と、を一体的に有する構成である。例文帳に追加

A time resolving type surface analyzing apparatus has a function temporally resolving the surface state of a sample to measure the same and is integrally constituted of a structure measuring means for measuring the surface structure of the sample and an image measuring means for measuring the surface shape of the sample. - 特許庁