機器較正法の英語

内部モードの磁歪係数値が外部モードの磁歪係数値に一致する条件を使えば、機器の較正等に都合のよい方法である。例文帳に追加

The method convenient for calibrating an equipment or the like is provided by using a condition where a magnetostrictive coefficient value of an internal mode is consistent with a magnetostrictive coefficient value of an external mode. - 特許庁

リールアセンブリを検査するためのシステム、リールフランジアセンブリを検査するための方法、およびリールフランジアセンブリを検査するための取付け機器を較正するための方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING REEL FLANGE ASSEMBLY, AND METHOD FOR CORRECTING ATTACHED DEVICE FOR INSPECTING REEL FLANGE ASSEMBLY - 特許庁

地磁気センサのキャリブレーションに関わる処理を適切なタイミングで実行することができる携帯電子機器と、その地磁気センサ較正方法を提供する。例文帳に追加

To provide a mobile electronic device which executes processing concerning the calibration of a geomagnetism sensor at appropriate timing, and a method of calibrating the geomagnetism sensor. - 特許庁

各種サンプルのｔ_閾値対ＴＶＣの２点較正曲線を使用してｔ_０の生存好気性菌数を確認するための機器および方法を提供する。例文帳に追加

To provide an instrument and method for ascertaining a viable aerobic microbe count at t_0 using a two-point calibration curve of t_threshold to TVC for each type of sample. - 特許庁

移動通信網内で動作するように移動電話やセルラー電話などの移動端末を試験する試験機器の周波数較正方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for correcting the frequencies of testing equipment for testing a mobile terminal, such as a mobile telephone or a cellular telephone so that it can operated in a mobile communication network. - 特許庁

電磁結合による非接触通信に伴う地磁気の検出精度の低下等に起因する方位に関する表示制度の低下を抑制できる携帯電子機器とその地磁気センサ較正方法を提供する。例文帳に追加

To provide a mobile electronic device which can suppress a decrease in display accuracy of an azimuth resulted from the decrease or the like in detection accuracy of geomagnetism in connection with a non-contact communication by electromagnetic coupling, and to provide a calibration method of its geomagnetic sensors. - 特許庁

光学測定装置における光源の波長シフトや光軸の微妙なズレに対して、簡便な方法によって測定機器の異常を検知し、較正することが可能な、光学測定装置検査用チップの実現、およびこの検査用チップを用いた医療用光学測定装置の検査、較正、及び測定結果の補正の簡便な方法を実現することを目的としている。例文帳に追加

To realize a simple method for simply detecting the abnormalities of a measuring instrument, with respect to the wavelength shift of the light source or the fine shift of an optical axis in an optical measuring instrument to calibrate the measuring instrument and for realizing a chip for inspecting the optical measuring instrument and the inspection, calibration and measuring result correction of a medical optical measuring instrument using the inspection chip. - 特許庁