測時分析の英語

ＬＩＦ分析を簡単に高感度で測定でき、且つ光熱変換分光分析を同時且つ簡単に測定することができる蛍光分析用光合分波器、蛍光分析用光学モジュール、蛍光分析装置、蛍光・光熱変換分光分析装置、及び蛍光分析用チップを提供する。例文帳に追加

To provide an optical multiplexer/demultiplexer for fluorometric analysis capable of performing LIF (laser induced fluorescence) analysis simply and highly sensitively and performing photothermal spectral analysis simultaneously and simply, an optical module for the fluorometric analysis, a fluorometric analysis apparatus, a fluorescence/photothermal spectral analysis apparatus, and a chip for the fluorometric analysis. - 特許庁

計測時間を短縮した成分分析方法並びにこれを実施する成分分析装置例文帳に追加

COMPONENT ANALYSIS METHOD SHORTENED IN MEASURING TIME AND COMPONENT ANALYSIS DEVICE FOR EXECUTING IT - 特許庁

自動分析装置もしくは検体前処理装置を接続した自動分析装置において、自動分析装置が稼動中であり、分析ユニットに分析依頼がなく一時的に待機状態の分析ユニットに測定依頼があった場合に操作部からの解除によらず測定準備を開始すること。例文帳に追加

To start measurement preparation without depending on release from an operation part, when a measurement request arrives at an analysis unit in a temporary waiting state because the analysis unit has no analysis request, during operation of an automatic analyzer, concerning an automatic analyzer or an automatic analyzer having a specimen pretreatment device connected thereto. - 特許庁

測定物の温度測定と同時に、測定物の所望の面の状態を分析することができる表面分析装置を実現すること。例文帳に追加

To achieve a surface analyzer measuring a temperature of an object to be measured as well as analyzing condition of a desired surface of the object to be measured. - 特許庁

複数条件蛍光Ｘ線分析における測定時間設定方法例文帳に追加

MEASUREMENT TIME SETTING METHOD FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS IN MULTIPLE CONDITIONS - 特許庁

複数条件蛍光Ｘ線分析における測定時間設定方法例文帳に追加

METHOD FOR SETTING MEASUREMENT TIME FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS UNDER PLURALITY OF CONDITIONS - 特許庁

測定時期判別方法、ＩＣＰ発光分析装置及びプログラム例文帳に追加

MEASURING PERIOD DETERMINING METHOD, ICP EMISSION SPECTROMETER ANALYZER AND PROGRAM - 特許庁

試料イオンの飛行時間測定用装置，飛行時間型質量分析装置，飛行時間型質量分析方法例文帳に追加

DEVICE FOR MEASURING TIME-OF-FLIGHT OF SAMPLE ION, TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER, AND TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETRY METHOD - 特許庁