特性テストの英語

アイマスクを用いて回路の特性を検出するテスト装備及びテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide test equipment and a test method for detecting characteristics of a circuit by using an eye mask. - 特許庁

専用のテスト用の端子を設けることなく評価対象素子の電気的特性をテストする。例文帳に追加

To test the electric characteristics of an evaluation object element without installing any exclusive terminal for test. - 特許庁

テスト時と非テスト時とでセルバイアスを変化させることで、リテンション特性をスクリーニングする。例文帳に追加

To screen retention characteristic by changing a cell bias according to the test time or non-test time. - 特許庁

フィルタ周波数特性検出装置及びフィルタ周波数特性テスト装置例文帳に追加

FILTER FREQUENCY CHARACTERISTIC DETECTING APPARATUS AND FILTER FREQUENCY CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS - 特許庁

そして、先ず、特性テスト工程Ｓ１０〜Ｓ４０において、メモリアレイ及び冗長メモリアレイに対してそれぞれ電気的な特性テストを行う。例文帳に追加

And, first, an electric characteristic test is performed respectively for the memory array and the redundant memory array in characteristic test processes S10 to S40. - 特許庁

第３パッド１３０，２３０はＤＣ特性テスト動作後のＡＣ特性テスト動作の間に、第３電源ＴＶｃｃを受け入れる。例文帳に追加

Third pads 130, 230 receive a third power supply TVcc during the test operation of an AC characteristic after the test operation of the DC characteristic. - 特許庁

ウエハ制御ホスト１は、半導体チップの合否判定テストプログラムの情報と、具体的な特性値と測定するための特性測定テストプログラムの情報と、特性測定テストを行うチップアドレスの情報とを含むテスト条件が記憶されているテスト条件データベース３を備える。例文帳に追加

A wafer control host 1 has a test condition database 3, that stores test conditions including information on the quality decision test program for a semiconductor chip, information on a specific characteristic value and a characteristic measurement test program for measurement, and information on a chip address for carrying out a characteristic measurement test. - 特許庁

テストデータ格納メモリ６は、この所定の電気的特性テストの結果をテストデータとして格納する。例文帳に追加

Test data storing memory 6 stores the results of the test on the predetermined electric characteristics as test data. - 特許庁