積分反射強度の英語

安定光源ユニット２０は、内面が拡散反射面として構成された積分球２２と、積分球２２の内面に光を照射するハロゲンランプ２１とを有し、積分球２２の開口部２２ａから一様な強度分布の光を射出する。例文帳に追加

The stable light source unit 20 has an integrating sphere 22 designed as a diffusion reflection surface in its inner surface, and a halogen lamp 21 for irradiating light to the inner surface of the integrating sphere 22, and it emits light having an uniform intensity distribution from the opening portion 22a thereof. - 特許庁

励起された発光体１からの蛍光を、積分球内の反復反射により外部へ漏らすことなく高強度にして入出射窓11に集め、光ファイバー２経由で光検出器６へ出射する。例文帳に追加

The fluorescence from the excited emitter 1 is increased in intensity without being leaked to the outside by the integrating sphere internal repeated reflection and outputted to the optical detector 6 via the optical fiber 2. - 特許庁

そして、空中線電力推定ステップ４において、算出された電界強度累積分布関数の累積確率６３．２％値と予め算出された反射箱損とに基づいて無線機の空中線電力を推定する。例文帳に追加

In an antenna power estimation step 4, the antenna power of the walkie-talkie is estimated based on a cumulative probability 63.2% of the calculated field intensity cumulative distribution function and a reflection box loss calculated beforehand. - 特許庁

光学検出器は、共通焦点体積内で透過または反射された対象のパルス列の実質的にすべての光学周波数成分の積分強度を検出するためのものである。例文帳に追加

The optical detector is for detecting the integrated intensity of substantially all optical frequency components of the train of pulses of interest transmitted or reflected through the common focal volume. - 特許庁

制御処理部１２は、前記複数の半導体レーザを順次点灯させ、積分球１１によって多重反射された上で出力開口１１ａから放射される単波長基準光の強度を、モニターセンサ１４によってモニターさせる動作を制御する。例文帳に追加

The control processing part 12 lights the plurality of semiconductor lasers on sequentially, and controls an operation for monitoring the intensities of single wavelength reference beams emitted from an output opening 11a after reflected multiply by the integrating sphere 11. - 特許庁

電子レンズ１１１の後焦点面に形成される回折スポットのうち、試料１０４から垂直に反射される電子が形成する部分を遮蔽物１１７で遮蔽し、その他の反射電子線を検出器１１２で検出し、その積分強度を入出力装置１１５でモニタすることにより異物や欠陥の判定を行う。例文帳に追加

A portion where electrons reflected vertically from a sample 104 are formed is shielded by a shielding object 117, on a diffraction spot formed on a rear focal plane of an electron lens 111, and other reflected electron beams are detected by a detector 112, and its integration intensity is monitored by an input/output device 115, to thereby determine a foreign matter or a flaw. - 特許庁

試料の像を観察する場合には、時間遅延積分型の撮像素子カメラ１３の走査方向に合わせて、試料を移動させ、それにより、同じ点からの２次電子、後方散乱電子及び反射電子８によって発生する光の強度が、時間遅延積分型の撮像素子カメラ１３の各撮像素子に蓄積されながら移動していくようにする。例文帳に追加

For observing the sample image, the sample is made to move synchronized to the scanning direction of the imaging device camera 13, thereby accumulating on each corresponding imaging device of the imaging device camera 13 the light intensity produced by secondary electrons, back scattering electrons and reflected electrons 8 from a point of the sample. - 特許庁