視野測定法のの英語

平面表示型ディスプレイの基準平面設定方法及び視野角測定方法例文帳に追加

REFERENCE PLANAR SETTING METHOD FOR PLANAR REPRESENTATION TYPE DISPLAY, AND VISIBILITY ANGLE MEASURING METHOD - 特許庁

発光点像を測定した後、半導体レーザ素子の出射レーザ光の遠視野像を測定する半導体レーザの特性測定方法において、発光点像測定状態から遠視野像測定状態に再現性、精度を良好に保ったまま変化させる。例文帳に追加

To change from a light-emitting point image-measuring state to a far visual-field image-measuring state, with excellent reproducibility and accuracy kept, in a semiconductor laser characteristic-measuring method where the far visual-field image of laser light emitted from a semiconductor laser element is measured after a light-emitting point image is measured. - 特許庁

低倍率視野内のワークを高倍率視野内へ自動搬送してワークの寸法を高い精度で測定することができる寸法測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a dimension measuring device capable of measuring a dimension of a workpiece with high accuracy by automatically conveying the workpiece in a low-magnification field of view into a high-magnification field of view. - 特許庁

眼球監視装置、視野コイル装置、方形コイルの使用方法、検査装置、誘導配向測定方法並びに被検体の撮像方法例文帳に追加

EYEBALL MONITORING DEVICE, VISUAL FIELD COIL DEVICE, USAGE OF SQUARE COIL, INSPECTING DEVICE, METHOD FOR MEASURING INDUCED ORIENTATION, AND METHOD FOR IMAGING EXAMINEE - 特許庁

輝度の測定精度の低下を防止して、正確な視野角を算出することができる表示パネルの視野角算出装置及び方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a device and method of calculating a view angle of a display panel, preventing decrease of luminance measurement accuracy and calculating the accurate view angle. - 特許庁

撮像装置の視野より大きな径の工具であっても工具の寸法を測定することができる工具寸法の測定方法及び測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device for measuring dimensions of a tool which can measure the dimensions of the tool even if the tool has a larger diameter than the field of vision of an imaging device. - 特許庁

測定対象のパターンを測長ＳＥＭの視野範囲に迅速に捉え、もって基板上のパターンの寸法を短時間に計測する測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a measuring method in which a pattern of a measuring object is captured quickly within a visual field range of a length measuring SEM and in which a size of the pattern on a substrate is measured in a short time. - 特許庁

表面形状測定機の測定視野以上の測定領域の測定をするに際して、複数の測定結果の繋ぎ合せを簡易に行うことを可能とし、オーバーラップ領域を低減して全体の測定時間を削減し、さらに一定の累積誤差の発生を低減することが可能な表面形状測定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a surface shape measuring method that facilitates, when measuring a measurement area greater than the field of view of a surface shape measuring device, linking of a plurality of measured results together, reduces overlapping areas to shorten the overall time taken for measurement and furthermore reduces the occurrence of a certain cumulative error. - 特許庁