試料銃の英語

電子線装置は、電子銃から放出される電子線を一次光学系を介し試料に照射する。例文帳に追加

The electron beam device irradiates an electron beam emitted from an electron gun on a sample through a primary optical system. - 特許庁

電子銃３は、試料２０の近傍のＸ−Ｙ平面において、電子ビームを走査させる。例文帳に追加

An electron gun 3 scans electron beams on an X-Y plane in the vicinity of the sample 20. - 特許庁

保護膜用ガス銃５からは、デポジション膜形成用ガスが試料４の表面に吹き付けられる。例文帳に追加

From a gas gun 5 for a protection film, deposition-film forming gas is sprayed on the surface of the sample 4. - 特許庁

一次コラムは、試料表面に一次ビームを照射する電子銃を有する。例文帳に追加

The primary column has an electron gun irradiating a primary beam on the surface of the testpiece. - 特許庁

走査電子顕微鏡は、電子銃１から発生した電子ビーム２を対物レンズ４により試料台７の上に載置された試料５に照射して試料からの電子を検出する。例文帳に追加

The scanning electron microscope irradiates electron beams 2 generated from an electron gun 1 on a sample 5 loaded on a sample stand 7 with an objective lens 4 to detect electrons from the sample. - 特許庁

電子線装置は、電子銃１，２，３からの一次電子線を収束させて試料１５上で走査し、試料１５から放出される二次電子線を検出して試料１５の評価を行う。例文帳に追加

This electron beam system converges a primary electron beam from electron guns 1, 2 and 3 to scan it on a sample 15, and detects secondary electron beams emitted from the sample 15 to evaluate the sample 15. - 特許庁

第１の電子銃２から電子ビーム３を試料７に走査し、試料７から放出された２次電子１２を２次電子検出手段１３が検出し試料７の表面形状をＣＲＴ１７に表示する。例文帳に追加

An electron beam 3 from a first electron gun 2 is scanned on a specimen 7, and a means of detecting a secondary electron 13 detects the secondary electron 12 discharged from the specimen 7 to display the surface shape of the specimen 7 on a CRT 17. - 特許庁

本発明の光学鏡筒は、電子銃１側から試料室１９側にラジカルを流す手段と、試料室１９側から電子銃１側にラジカルを流す手段と、を備える。例文帳に追加

A radical flow passages is formed in double way from an electron gun 1 side to a sample chamber 19 side and from the sample chamber 19 side to the electron gun 1 side by switching a gate valve 2, a vacuum valves 21, 22 and valves 10, 11, 27, 28. - 特許庁