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日英・英日専門用語辞書での「試料銃」の英訳

試料銃


「試料銃」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 99



例文

電子及び試料観察装置例文帳に追加

ELECTRON GUN AND SAMPLE OBSERVATION DEVICE - 特許庁

電子ビーム検査装置は、試料室に置かれた試料に電子室の電子から電子線を照射し、試料から発生する二次電子および反射電子を検出することにより、試料の形状観察または寸法測定を行う。例文帳に追加

The electron beam inspection device irradiates electron beam from an electron gun in an electron gun chamber onto samples placed in a sample room and detects secondary electron and reflected electron generated from the samples. - 特許庁

カラム2は荷電粒子及び試料検出系を備える。例文帳に追加

The column 2 includes a charged particle gun and a sample detection system. - 特許庁

本発明に係るEPMA10は、試料を収容する試料室12、試料室12内の試料に対して電子線を照射するための電子14を備えた電子部16、電子14から放射される電子線を制御するコンデンサレンズ18を備えている。例文帳に追加

An EPMA 10 is provided with a sample room 12 for housing a sample, an electron gun portion 16 equipped with an electron gun 14 for irradiating electron beams on the sample in the sample room 12, and a condenser lens 18 for controlling electron beams emitted from the electron gun 14. - 特許庁

電子11から分析すべき試料Sに対して電子線を照射し、試料Sからオージェ電子を放出させる。例文帳に追加

An electron beam is projected from an electron gun 11 onto a sample S to be analyzed, in order to cause Auger electrons to be emitted from the sample S. - 特許庁

本発明は、イオンを発生するイオンと、試料を搭載する試料台と、試料と前記イオンの間に配置されたマスクと、前記イオンから放出されたイオンビームにより、前記マスクから突出した試料を削る加工装置において、前記マスクは前記試料の上面に接触し、当該マスクには、冷却機構が接続されていることを特徴とする。例文帳に追加

In a processing device of scraping off the specimen protruding from a mask by an ion gun to generate ions, a specimen stand to mount the specimen, the mask arranged between the specimen and the ion gun, and an ion beam discharged from the ion gun, the mask contacts the upper face of the specimen, and a cooling mechanism is connected to the mask. - 特許庁

例文

高倍率においては、(電子)の輝度は保存されるので、試料面での電流密度は減少する。例文帳に追加

For high magnifications, since the gun brightness is conserved, the current density at the specimen plane is reduced. 発音を聞く  - 科学技術論文動詞集

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「試料銃」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 99



例文

電子線装置は、電子から放出される電子線を一次光学系を介し試料に照射する。例文帳に追加

The electron beam device irradiates an electron beam emitted from an electron gun on a sample through a primary optical system. - 特許庁

電子3は、試料20の近傍のX−Y平面において、電子ビームを走査させる。例文帳に追加

An electron gun 3 scans electron beams on an X-Y plane in the vicinity of the sample 20. - 特許庁

保護膜用ガス5からは、デポジション膜形成用ガスが試料4の表面に吹き付けられる。例文帳に追加

From a gas gun 5 for a protection film, deposition-film forming gas is sprayed on the surface of the sample 4. - 特許庁

一次コラムは、試料表面に一次ビームを照射する電子を有する。例文帳に追加

The primary column has an electron gun irradiating a primary beam on the surface of the testpiece. - 特許庁

走査電子顕微鏡は、電子1から発生した電子ビーム2を対物レンズ4により試料台7の上に載置された試料5に照射して試料からの電子を検出する。例文帳に追加

The scanning electron microscope irradiates electron beams 2 generated from an electron gun 1 on a sample 5 loaded on a sample stand 7 with an objective lens 4 to detect electrons from the sample. - 特許庁

電子線装置は、電子1,2,3からの一次電子線を収束させて試料15上で走査し、試料15から放出される二次電子線を検出して試料15の評価を行う。例文帳に追加

This electron beam system converges a primary electron beam from electron guns 1, 2 and 3 to scan it on a sample 15, and detects secondary electron beams emitted from the sample 15 to evaluate the sample 15. - 特許庁

第1の電子2から電子ビーム3を試料7に走査し、試料7から放出された2次電子12を2次電子検出手段13が検出し試料7の表面形状をCRT17に表示する。例文帳に追加

An electron beam 3 from a first electron gun 2 is scanned on a specimen 7, and a means of detecting a secondary electron 13 detects the secondary electron 12 discharged from the specimen 7 to display the surface shape of the specimen 7 on a CRT 17. - 特許庁

例文

本発明の光学鏡筒は、電子1側から試料室19側にラジカルを流す手段と、試料室19側から電子1側にラジカルを流す手段と、を備える。例文帳に追加

A radical flow passages is formed in double way from an electron gun 1 side to a sample chamber 19 side and from the sample chamber 19 side to the electron gun 1 side by switching a gate valve 2, a vacuum valves 21, 22 and valves 10, 11, 27, 28. - 特許庁

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「試料銃」の英訳に関連した単語・英語表現
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sampling gun 日英・英日専門用語

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