電気マイクロメータの英語

電気マイクロメータ用検出器製造方法、及び電気マイクロメータ用検出器例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRIC MICROMETER-USE DETECTOR AND DETECTOR - 特許庁

共振装置は、可動素子（３）と固定素子（４）とを備えるナノメータサイズ又はマイクロメータサイズの電気機械共振器（１）を備える。例文帳に追加

The resonant device includes an electromechanical resonator (1) of nanometric or micrometric size that includes a mobile element (3) and a fixed element (4). - 特許庁

表示部５２は、計測スイッチ４１操作時に、電気マイクロメータからの電気信号を処理して測定値を演算し、この測定値を液晶モジュール５５に表示させる。例文帳に追加

The display part 52 processes the electrical signal from the electric micrometer, calculates the measured value, and displays the measured value on a liquid crystal module 55 at the measuring switch 41 operation time. - 特許庁

ヘッド１３内のレバー２１の測定子２２を測定対象穴の内壁面に当接させ、レバー２１の変位を電気マイクロメータからの電気信号として取得して内径寸法を測定する。例文帳に追加

A gauge head 22 of a lever 21 in the head 13 is allowed to abut against the inner wall surface of the measuring object hole, and acquires displacement of the lever 21 as an electrical signal from an electric micrometer, to thereby measure the inside diameter dimension. - 特許庁

電気マイクロメータ３４をワークである可動シーブ１に接近させる際、該可動シーブ１の大径部３の側周壁部にワーク寸法測定装置１００の位置決めローラ１０２を当接させる（第１工程Ｓ１）。例文帳に追加

When an electric micrometer 34 approaches a work of movable sheave 1, the positioning roller 102 of the work size measuring device 100 is brought into contact with the side circumference wall of a large diameter portion 3 of this movable sheave 1 (First process S1). - 特許庁

この状態で、電気マイクロメータ３４の測定子６４を、回動動作された可動シーブ１の大径部３の上端面に対して摺動動作させ、これにより該上端面の振れおよび高さを測定する（第２工程Ｓ２）。例文帳に追加

Under this situation, the measuring terminal 64 of an electric micrometer 34 is made to side on the top end face of a large diameter portion 3 of a rotating movable sheave 1, by which the amplitude and height of this top end face is measured (Second process S2). - 特許庁

基準面２ａに対する被測定物１の面１ａの面形体を測定する際には、被測定物１を球体３上で移動させ、面１ａと面２ａとの距離の変化を電気マイクロメータ５で検出する。例文帳に追加

In order to measure a surface profile of a surface 1a of the object 1 relative to the reference surface 2a, the object 1 is moved on the sphere 3, and the changes in the distance between the surface 1a and the surface 2a is detected with an electric micrometer 5. - 特許庁