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順序回路テストの英語
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「順序回路テスト」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 19件
テストパターンデータベースを再利用する順序回路自動テストパターン生成システム例文帳に追加
SEQUENCE CIRCUIT AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION SYSTEM REUSING TEST PATTERN DATA BASE - 特許庁
大型同期順序回路向けテストパターン自動生成のための遺伝的アルゴリズム例文帳に追加
a genetic algorithm for automatic test pattern generation for large synchronous sequential circuits発音を聞く - コンピューター用語辞典
本発明の実施の一形態に係るスキャンテスト回路は、順序回路と、スキャンテスト対象のパスに含まれる組合せ回路との間に挿入接続され、上記順序回路から出力されるスキャンデータを当該順序回路外部において任意のタイミングで正転及び反転させる正転／反転制御回路を備えているものである。例文帳に追加
The scan test circuit has a forward rotation/backward rotation control circuit that is inserted and connected between a sequence circuit and a combination circuit included in a path to be scan-tested, and makes the scan data outputted from the sequence circuit rotate in the forward and the backward directions, at an arbitrary timing outside the sequential circuit. - 特許庁
簡単な回路を追加するのみで実質的に任意の順序で被テスト回路に対するデータの書き込み／読み出し動作を行えるようにする。例文帳に追加
To write and read data to and out of a tested circuit in substantially arbitrary order only by adding a simple circuit. - 特許庁
論理回路として、順序回路を使用すれば、テストに必要な端子を増加させることなく、多数のリングオシレータを選択制御できる。例文帳に追加
If a successive circuit is used as the logic circuit, a great number of the ring oscillators can be selectively controlled without increasing terminals necessary for a test. - 特許庁
この発明は、順序回路１〜３と、組み合わせ回路４、５と、スキャンテスト回路６と、記憶回路７と、ＢＩＳＴ回路８と、選択回路９とを備えている。例文帳に追加
The semiconductor integrated circuit comprises sequential circuits 1 to 3, combinational circuits 4, 5, a scan test circuit 6, a storage circuit 7, a BIST circuit 8, and a selection circuit 9. - 特許庁
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「順序回路テスト」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 19件
複数のレジスタに与えられた信号の出力順序を容易に変更することが可能なテスト回路を提供する。例文帳に追加
To provide a test circuit in which the output sequence of signals given to a plurality of registers can be changed easily. - 特許庁
本発明による集積回路は、バーンインテスト用プログラムに含まれる複数のサブプログラムの実行順序を個別に変更する。例文帳に追加
Integrated circuits according to the present invention individually changes the order of execution of a plurality of subprograms contained in a burn-in test program. - 特許庁
テストパターンが既に生成されている順序回路に回路変更が行われた場合に、既に生成されたテストパターン、テストシーケンスを再利用することを可能にする。例文帳に追加
To allow reusing a test pattern and a test sequence already generated when a sequence circuit having the already generated test pattern, is changed. - 特許庁
そして、順序回路を組み合わせ回路で置換する前の論理回路に上記入力テストパターンを入力して期待値テストパターンを生成する（ステップＳ３）。例文帳に追加
The input test pattern is inputted into the logic circuit prior to the replacement of the sequence circuit by the combination circuit, thereby generating an expectation value test pattern (step S3). - 特許庁
続いて、順序回路を組み合わせ回路で置換した後の論理回路に対してＡＴＰＧ等の所定の故障検証用テストパターン生成手段を適用して入力テストパターンを生成する（ステップＳ２）。例文帳に追加
Subsequently, a prescribed test pattern generation means for failure verification such as an ATPG is applied to the logic circuit after the sequence circuit is replaced by the combination circuit, thereby generating an input test pattern (step S2). - 特許庁
本発明は、順序回路用ＡＴＰＧシステム及び組み合わせ回路用ＡＴＰＧシステムが生成するテストパタン長を短縮できる論理回路のテストパタン生成方法及び装置を提供することを課題とする。例文帳に追加
To provide a method and device for creating test patterns for a logic circuit capable of shortening the lengths of the test patterns created by an ATPG system for a sequential circuit and an ATPG system for a sequential circuit. - 特許庁
選択回路９は、バーンインテスト時に、記憶回路７に書き込まれているバーンインテスト用データを選択して順序回路１〜３に分配するようになっている。例文帳に追加
The selection circuit 9, at the time of the burn-in test, selects the burn-in test data written to the storage circuit 7 and distributes it into the sequential circuits 1 to 3. - 特許庁
複数のテスト項目で構成される集積回路のテストに於いて、総テスト時間が最短となるテスト項目の試験順序を短時間で容易に求める手法を提供する。例文帳に追加
To provide a method for obtaining a test order of test items easily in a short time, by which the total test time becomes shortest, in an integrated circuit test constituted by plural test items. - 特許庁
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