1次電子の英語

電子線装置は、電子銃１，２，３からの一次電子線を収束させて試料１５上で走査し、試料１５から放出される二次電子線を検出して試料１５の評価を行う。例文帳に追加

This electron beam system converges a primary electron beam from electron guns 1, 2 and 3 to scan it on a sample 15, and detects secondary electron beams emitted from the sample 15 to evaluate the sample 15. - 特許庁

本発明による透過型２次電子面は、ダイヤモンド、またはダイヤモンドを主成分とする材料から形成された２次電子放出層１、２次電子放出層１の機械的強度を補う支持枠２１、２次電子放出層１の入射面に対して設けられる第１電極３１、及び２次電子放出層１の出射面に対して設けられる第２電極３２によって構成されている。例文帳に追加

The transmissive secondary electron surface comprises a secondary electron emitting layer 1 made of diamond or a material containing diamond as a main component, a supporting frame 21 which reinforces mechanical strength of the layer 1, a first electrode 31 formed on a plane of the incidence of the layer 1, and a second electrode 32 formed on the plane of the emission of the layer 1. - 特許庁

電子線装置は、熱電子放出カソード１を有する電子銃１ａ、コンデンサレンズ１２、１次電子線の軌道を制限するＮＡ開口１３、対物レンズ１９、並びに、負電圧を印加された試料２０から放出された２次電子線を検出する検出器（２３、２４、２５、２６）を備える。例文帳に追加

The electron beam apparatus consists of an electron gun 1a with the thermionic emission cathode 1, a condenser lens 12, an NA opening 13 by which an orbit of a primary electron beam is restricted, an objective lens 19, and detectors (23, 24, 25, and 26) which detect secondary electron beams emitted from a sample 20 to which negative voltage has been impressed. - 特許庁

増幅電極層１２は、電子放出源５と蛍光体６との間に配置され電子放出源５から放出された電子が照射され２次電子放出比が１を超えるものである。例文帳に追加

The amplifying electrode layer 12 is disposed between the electron emitting source 5 and the phosphor 6, irradiated with the electrons emitted from the electron emitting source 5, and its secondary-emission coefficient exceeds 1. - 特許庁

電子発光システムは、透明な材料でつくられた２次元の第１の電極（２）を有する電子発光装置（１）を備えている。例文帳に追加

An electronic light emission system includes an electronic light emitting device (1) having a two dimensional first electrode (2) made of a transparent material. - 特許庁

電子銃１からの電子ビームは、一次照射ビーム４となり、ステージ５の上の試料６を落射照射する。例文帳に追加

The electron gun 1 of this mapping type electron microscope emits an electron beam as a primary irradiation beam 4 to irradiate a sample 6 placed on a stage 5. - 特許庁

電子重１から放出された複数の一次電子ビームが、ステージ２１上に載置された試料１１に照射される。例文帳に追加

A sample 11 set on a stage 21 is irradiated with a plurality of primary electron beams emitted from an electron gun 1. - 特許庁

また、表面分析装置１は、試料Ｓ表面に１次電子線を照射する電子線鏡筒３と、上記スピン検出器５と、を有する。例文帳に追加

The surface analyzer 1 includes an electron beam lens barrel 3 for irradiating a sample S surface with primary electron beams, and the spin detector 5. - 特許庁