2次イオン質量分析法の英語

Ｂ化合物を含有する鋼材に対して、不活性な一次イオンビーム２によってスパッタリングされた中性粒子５をレーザー光でイオン化し、引出電極６を介して質量分析計７に取り込まれたイオン種の質量分析をするスパッタ中性粒子質量分析法を利用する。例文帳に追加

A steel material B compound species specification method uses the resonance multiphoton ionization sputter neutral particle mass analysis method of ionizing neutral particles 5, sputtered with an active primary ion beam 2, with laser light and taking mass analysis of an ion species taken in a mass analyzer 7 through a lead electrode 6 for the steel material containing the B compound. - 特許庁

本発明は、Ｘ線光電子分光分析方法及び2次イオン質量分析方法で従来法以上に簡便に高抵抗試料の分析を行なう方法を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a method for simply and easily analyzing a high resistance sample in X-ray photoelectron spectroscopic analysis and secondary ion mass spectrometry. - 特許庁

そして、固体試料を加熱処理し、固体試料中に含まれる質量数１及び質量数２の水素同位体の濃度を減少させ、二次イオン質量分析法を用いて固体試料中における質量数２の水素同位体の濃度を分析し、その数値を固体試料中に残留する質量数１の水素同位体の濃度として同定する。例文帳に追加

Then, the solid samples are heat-treated, resulted in reduction of concentration of hydrogen isotope of mass number 1 and mass number 2 contained in the solid samples, concentration of hydrogen isotope of mass number 2 is analyzed, based on a secondary ion mass spectrometry, and finally the number which remains in the solid samples is identified as a concentration of hydrogen isotope of mass number 1. - 特許庁

本発明の第三工程では、試料台２から上記固形化物８を取り除き、試料台２上の液体残渣物９を対象として飛行時間型二次イオン質量分析法によりＰＣＢの定性分析および定量分析を行う。例文帳に追加

In a third step, the solidified product 8 is removed from the sample base 2, and qualitative and quantitative analyses of the PCB are carried out for the residuary liquid matter 9 on the sample base 2 as an object to be analyzed by using a time-of-flight secondary ion mass spectrometry. - 特許庁

基材表面に存在する揮発性有機化合物の検出方法であって、（１）該化合物と揮発性の修飾試薬とを反応させ、該化合物を不揮発化する工程、及び（２）飛行時間型二次イオン質量分析計（TOF-SIMS）により基材表面を測定し、該化合物を検出する工程、を有する、検出方法。例文帳に追加

This method of detecting the volatile organic compound existing on the base material surface has (1) a process for bringing the compound into reaction with a volatility modifying reagent to make the compound nonvolatile, and (2) a process for measuring the base material surface by a time-of-flight secondary ion mass spectrometer (TOF-SIMS) to detect the compound. - 特許庁

薄膜固体中に含有する微量成分がホウ素であって、二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ法）で前記ホウ素の濃度を定量するに際し、前記薄膜固体中のホウ素総量Ｑ＝膜厚ｔ×ホウ素の膜中濃度ｃ（原子／ｃｍ^2 ）で表され、前記ＳＩＭＳ法の検量線を得るに用いる標準試料が所定の薄膜固体にホウ素を核反応させたものである薄膜固体中のホウ素の定量方法及び同時にＳＩＭＳ法で得られる他の２次信号をＲＢＳで検出して薄膜固体の組成比ｘの分析方法を提供する。例文帳に追加

In this analytical method for the composition ratio (x) of a thin-film solid, other secondary signals which are obtained by SIMS at the same time are detected by RBS. - 特許庁