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Measured drawingとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 実測図
「Measured drawing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 103件
Flatness of the semiconductor wafer during drawing is predicted and measured (S5) from the measured displacement.例文帳に追加
測定された変位量から描画時の半導体ウエハの平坦度を予測・測定する。 - 特許庁
The measuring instrument is constituted of a drawing line 1 for drawing in water to be measured, the sterilizing agent feeder 2 attached to the drawing line 1 and an electrochemical sensor 3.例文帳に追加
測定対象の水の引き込みライン１、この引き込みラインに取り付けた殺菌剤供給装置２及び電気化学センサ３から構成する。 - 特許庁
A drawing time history storage unit 220 stores the predetermined number of drawing times per frame measured by a drawing time measuring unit 210.例文帳に追加
描画時間履歴格納部２２０は、描画時間計測部２１０が計測した１フレームあたりの描画時間を、所定数格納している。 - 特許庁
A plastic optical fiber 17 is obtained by performing line drawing with a drawing and take-up roller pair 78 so that the line drawing tension becomes 3.8 MPa based on the measured value.例文帳に追加
その測定値に基づき引取ローラ対７８で３．８ＭＰａとなるように線引きを行ないプラスチック光ファイバ１７を得る。 - 特許庁
In the electron beam drawing method of drawing on the surface of a drawing material with an electron beam 2, an absorption current during drawing is measured while synchronizing with the drawing of drawing data, and a coordinate position and/or a figure where there is a change in the absorption current amount during drawing is stored and displayed.例文帳に追加
電子線で描画材料表面を描画する電子線描画方法において、描画データの描画と同期しながら描画中吸収電流測定を行ない、描画中吸収電流量の変化のあった場所の座標位置及び／又は図形を記憶・表示することように構成される。 - 特許庁
When an application is an application requiring the drawing process by the first drawing process unit 5 or the second drawing process unit 6, a drawing process unit having lower workload measured, of the first drawing process unit 5 and the second drawing unit 6 is selected as an execution destination of the application.例文帳に追加
次に、アプリケーションが、第１の描画処理部５または第２の描画処理部６による描画処理を要するアプリケーションであった場合に、第１の描画処理部５と第２の描画処理部６のうち、測定された作業負荷が低い方の描画処理部を、アプリケーションの実行先として選択する。 - 特許庁
The positional slippage of the dummy pattern 22 is measured, and the result is fed back to the drawing machine to adjust the correction parameter of the drawing machine.例文帳に追加
次に、ダミーパターン２２の位置ずれを測定し、その結果を描画機にフィードバックして描画機の補正パラメータを調整する。 - 特許庁
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「Measured drawing」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 103件
Thus, even when the contraction scale magnification of the drawing or the like is unclear, the actual dimension can be easily calculated (measured) based on the drawing.例文帳に追加
これにより、図面等の縮尺倍率が不明な場合であっても、図面から実寸法を容易に算出（計る）ことができる。 - 特許庁
The concavo-convex shape on an exposure surface 14a of a drawing object 14 where a drawing pattern is to be formed is measured with a shape measuring device 28.例文帳に追加
描画パターンが形成される被描画体１４の露光面１４ａの凹凸形状を形状測定器２８で測定する。 - 特許庁
The drawing data are corrected on the basis of the displacement between the original positions of first to 16th alignment holes 40 to 55 formed in an object for drawing where first to fourth drawing areas 60 to 63 are to be drawn and the positions of first to 16th measured alignment holes 80 to 95 actually measured by the deformation of the object drawing body 38.例文帳に追加
第１〜第４描画領域６０〜６３を描画すべき被描画体に開けられた第１〜第１６アライメント穴４０〜５５の本来の位置と、被描画体３８の変形によって実際に計測された第１〜第１６実測アライメント穴位置８０〜９５とのずれに基づき描画データを補正する。 - 特許庁
Then a displacement in the drawing area against the flatness judgment standard plane R2 is measured (S4).例文帳に追加
次に、この平坦度判定基準平面Ｒ２に対する描画エリア内の変位量を測定する。 - 特許庁
To enable anyone to create a measured drawing (projection drawing) simply and correctly without using various measuring equipment and drafting machines used for creating measured drawings of remains.例文帳に追加
遺物の実測図作成に使用する様々な計測機器や製図機器を使用することなく、誰もが簡単にしかも正確に実測図（投影図）を作成する。 - 特許庁
The presence of a halt condition in drawing processing is detected by processing with a halt condition detecting part 54, a detected result is supplied to a drawing processing time calculation part 55, and a drawing processing time is measured precisely.例文帳に追加
休止状態検出部５４の処理により、作図処理が休止状態であるか否かが検出されて、検出結果が、作図処理時間算出部５５に供給されて、作図処理時間が精度良く計測される。 - 特許庁
ROAD FEATURE MEASURING DEVICE, FEATURE IDENTIFYING DEVICE, ROAD FEATURE MEASURING METHOD, ROAD FEATURE MEASURING PROGRAM, MEASURING INSTRUMENT, MEASURING METHOD, MEASURING PROGRAM, MEASURED POSITION DATA, MEASURING TERMINAL DEVICE, MEASURING SERVER DEVICE, DRAWING DEVICE, DRAWING METHOD, DRAWING PROGRAM, AND DRAWING DATA例文帳に追加
道路地物計測装置、地物識別装置、道路地物計測方法、道路地物計測プログラム、計測装置、計測方法、計測プログラム、計測位置データ、計測端末装置、計測サーバ装置、作図装置、作図方法、作図プログラムおよび作図データ - 特許庁
After drawing the optical fiber, the optical fiber is cut, and the hole diameters d and the intervals A between holes are measured with an electron microscope.例文帳に追加
光ファイバ線引き後、その光ファイバを切断し、電子顕微鏡で孔径ｄ及び孔間隔Ａを測定した。 - 特許庁
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