X-ray sとは 意味・読み方・使い方

This X-ray analyzer 16 is a device for irradiating a sample S with an X-ray radiated from an X-ray source 17, and detecting the X-ray diffracted by the sample S by a two-dimensional CCD sensor 22.例文帳に追加

Ｘ線源１７から放射されたＸ線を試料Ｓに照射すると共に試料Ｓで回折したＸ線を２次元ＣＣＤセンサ２２によって検出するＸ線分析装置１６である。 - 特許庁

The sample S is sandwiched and fixed between the X-ray transmission sheet 14 and the X-ray transmission sheet 15.例文帳に追加

試料Ｓは、Ｘ線透過シート１４及びＸ線透過シート１５の間に挟まれて固定される。 - 特許庁

To provide an X-ray generator, capable of monitoring the characteristic of X-ray with a high S/N ratio.例文帳に追加

高いＳ／Ｎ比でＸ線の特性をモニタすることができるＸ線発生装置を提供する。 - 特許庁

As a result, the S/N of the X-ray image signal can be enhanced.例文帳に追加

その結果、Ｘ線画像信号のＳ／Ｎを改善できる。 - 特許庁

In this X-ray apparatus, the X ray is detected by the X-ray detector 21 while rotating the X-ray detector 21 and the monochromator 17 around the sample S by 2θ.例文帳に追加

このＸ線装置では、Ｘ線検出器２１及びモノクロメータ１７を試料Ｓを中心として２θ回転させながら、そのＸ線検出器２１によってＸ線を検出する。 - 特許庁

A sample S is irradiated with an X-ray from an x-ray source F being regulated by incident side slits 22a, 22b so that the X-ray diffracted by the sample S is detected by an X-ray film 7a or a CCD sensor 7b.例文帳に追加

Ｘ線源ＦからのＸ線を入射側スリット２２ａ，２２ｂで規制して試料Ｓへ照射し、試料Ｓで回折したＸ線をＸ線フィルム７ａ又はＣＣＤセンサ７ｂによって検出する。 - 特許庁

This method is a micro X-ray diffraction measuring method for irradiating a micro part of a sample S with an X-ray to detect the diffracted X-ray generated in the micro part.例文帳に追加

試料Ｓの微小部にＸ線を照射してその微小部に発生する回折Ｘ線を検出する微小部Ｘ線回折測定方法である。 - 特許庁

In this X-ray diffraction device, an X-ray radiated from an X-ray source F is regulated by a divergence slit 2 and irradiated to the sample S, and a diffraction line R_2 emitted from the sample S is detected by an X-ray detector 10.例文帳に追加

Ｘ線源Ｆから放射されたＸ線を発散スリット２によって規制して試料Ｓに照射し、試料Ｓから出た回折線Ｒ_２をＸ線検出器１０によって検出するＸ線回折装置である。 - 特許庁