achromatic objectiveとは 意味・読み方・使い方

The objective lens part 3 is provided with a disk side objective lens (a), and an achromatic lens (b) having a flange (d) in the outer periphery of a light source side.例文帳に追加

対物レンズ部３は、ディスク側の対物レンズａと、光源側の、外周にフランジｄを有した色消しレンズｂとを備える。 - 特許庁

A reference color and a comparison objective color to be compared with it are placed in a light environment changing the reference color or the comparison objective color into an achromatic color.例文帳に追加

基準色と、この基準色と比較する比較対象色とを、基準色又は比較対象色を無彩色にする光環境下に置く。 - 特許庁

To reduce the influence of achromatic aberration at an objective lens in a color microscope furnished with a plurality of light sources, in which a color image is obtained by condensing light having different wavelengths of the light sources on a specimen through the common objective lens.例文帳に追加

複数の光源を具備し、これらの光源の波長の異なる光を共通の対物レンズを通して試料に集光させることによりカラー画像を得るカラー顕微鏡において、対物レンズでの色収差の影響を低減する。 - 特許庁

A chromatic aberration correction unit carries out chromatic aberration correction by generating 'negative' chromatic aberration with the use of an achromatic property the electromagnetic superposing quadrupoles while maintaining a stigmatic image formation with a combination of electro-optic elements and canceling the chromatic aberration by an electro-optic device such as an objective lens.例文帳に追加

本発明の色収差補正器は、上記の電子光学要素の組み合わせでスティグマティック結像を維持しつつ、電磁重畳四極子の色消し性を利用して“負”の色収差を発生し、対物レンズ等の光学装置で色収差を打ち消すことで色収差補正を行う。 - 特許庁

This device for inspection defects is designed so that by adopting achromatic reflecting objective lens, sensitivity is improved by inhibiting brightness variations due to multiple-wave length illumination (i.e., illumination by illuminating radiation of multiple-wavelength band), and also by manifesting defects through optional wavelength detection; and moreover, so that it can acquire identical spatial image on the sample, with various multiple kinds of optical images.例文帳に追加

本発明は、色収差のない反射対物レンズを採用することにより、多波長照明（複数の波長帯域を有する照射光による照明）による明るさ変動を抑制すると共に波長選択検出によって欠陥を顕在化して感度向上を図り、しかも試料上の同一空間像を異なる複数種の光学像で取得できるように構成した欠陥検査装置である。 - 特許庁