charged particle detectorとは 意味・読み方・使い方

MULTIPLE CHARGED PARTICLE DETECTOR, AND SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

多重荷電粒子検出器、及びそれを用いた走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

INCIDENT POSITION DETECTOR OF CHARGED PARTICLE, AND ENERGY ANALYSIS DEVICE THEREOF例文帳に追加

荷電粒子の入射位置検出器及びエネルギー分析装置 - 特許庁

To provide a charged particle beam device equipped with a reflection electron detector.例文帳に追加

反射電子検出器を備えた荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

PIN TYPE DETECTOR, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE PROVIDED WITH PIN TYPE DETECTOR例文帳に追加

ＰＩＮ型検出器及びＰＩＮ型検出器を備えた荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

To measure the shape of charged particle beams with high accuracy by hindering the charged particle beams scattered at an edge part, from being incident to a detector.例文帳に追加

エッジ部分で散乱した荷電粒子ビームが検出器に入射するのを阻止して、高精度に荷電粒子ビームの形状測定をする。 - 特許庁

A charged particle detector 124 detects the selected secondary charged particles and tertiary charged particles by the impingement of them.例文帳に追加

荷電粒子検出器１２４は、選択された二次荷電粒子及び三次荷電粒子をその衝突により検出する。 - 特許庁

Further, the charged particle beam device comprises the particle supply sources, optical devices, a detector 30 and a gas unit for reducing the charging and/or contamination of the detector.例文帳に追加

更に、粒子供給源と、光学装置と、検出装置３０と、検出装置の帯電及び／又は汚染を軽減するためのガスユニットを含む。 - 特許庁

To provide a charged particle beam apparatus that can suppress deterioration of fluorescent surface of a secondary electron detector.例文帳に追加

２次電子検出器の蛍光面の劣化を抑えることができる荷電粒子線装置を提供すること。 - 特許庁